【技术实现步骤摘要】
本技术涉及上电老化测试领域，具体指有一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统。
技术介绍
1、研发过程中经常需要进行老化测试，老化测试可以将待测设备进行一定时长的上电检测，测试待测设备的各种功能。现有的老化测试只能对待测设备持续一段时间的上电检测，在该时间内待测设备是持续上电状态。
2、但是用于智能家居的老化设备，现有技术的缺陷是：1、缺少对于环境的检测，大部分电子元器件在不同环境状态下寿命不一致，例如某些室内的温度较高，热损伤作为电子元器件常见的失效模式之一，现有技术无法模拟多种温度环境进行老化实验；2、由于待测设备中的部分零件只在上电、下电时工作，例如智能家居设备中的电容、电感等在上电、下电时其工作状态会发生较大变化，或者是智能家居设备只在上电或下电的时间段内工作，如果持续上电老化智能家居则无法覆盖该特定的零件或工作方式老化测试；3、智能家居设备的上电时间、下电时间也是老化测试的核心内容之一，现有老化测试系统并未针对该内容进行测试。
3、针对上述的现有技术存在的任一问题设计一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统是本技术研究的目的。
技术实现思路
1、针对上述现有技术存在的问题，本技术在于提供一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，能够有效解决上述现有技术存在的至少一个问题。
2、本技术的技术方案是：
3、一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，包括：
4、上下电控制模块，用于连接至待测设备；
5、上下
6、调温模块，用于调节待测设备的周围环境至目标温度；
7、控制系统，集成或被配置有：
8、上下电次数控制模块，用于发出预设次数的上电信号至所述上下电控制模块，使所述上下电控制模块控制所述待测设备上下电预设次数；
9、上下电计数模块，连接至所述上下电检测模块，用于计数所述待测设备的上下电次数；
10、上下电计时模块，连接至所述上下电次数控制模块和所述上下电检测模块，用于计时所述待测设备的上电时间和/或下电时间。
11、进一步地，包括环境温度传感器，设置于所述待测设备的周围环境，所述控制系统集成或被配置有温度检测模块，所述环境温度传感器连接至所述温度检测模块。
12、进一步地，包括待测设备温度传感器，设置于所述待测设备，所述设备温度传感器连接至所述温度检测模块。
13、进一步地，所述控制系统集成或被配置有上电保持时间控制模块，所述上下电次数控制模块、所述上电保持时间控制模块、所述上下电控制模块依次连接。
14、进一步地，所述上下电控制模块用于发出预设次数且预设时间间隔的高电平。
15、进一步地，所述上电保持时间控制模块包括计时器，所述上电保持时间控制模块接收到所述上下电控制模块发送来的高电平后，通过所述计时器将所述高电平保持一段时间，同时输出保持一段时间的高电平。
16、进一步地，所述调温模块包括加热机构、制冷机构。
17、进一步地，包括温箱，用于将所述调温模块、所述待测设备容纳于密封空间内，便于所述调温模块将密封空间内的温度调节至预设温度。
18、进一步地，所述上下电检测模块均包含光耦，用于将所述待测设备上电和/或下电信号光耦隔离后传递给所述上下电计数模块。
19、进一步地，所述上下电控制模块为继电器，所述继电器连接至所述待测设备的供电端。
20、因此，本技术提供以下的效果和/或优点：
21、1、本技术通过控制系统通过上下电计时模块对设置打开继电器的时间和设备上电时间进行对比，如果在规定的时间内且预设的温度内，设备仍然没有上电，则会进行警报。或者，控制系统通过上下电计数模块获取待测设备的上下电次数，以及上下电次数控制模块预设的上下电次数，通过对比可以得到待测设备在预设的温度内是否按预设实现了上下电次数。从而可以快速老化设备，判断待测设备的质量是否存在问题。
22、2、本技术通过调温模块，一来，待测设备在高于常温的环境下加热，可以快速老化，更容易发现待测设备的问题，同时缩短老化时间；二来，通过调温模块可以用于对待测设备的周围调节至目标温度从而实现降温或加热，目标温度可以是待测设备实际使用时对应的环境温度，例如在外界暴露的情况下往往会受到阳光暴晒从而温度更高等，在该目标温度下老化可以更容易发现待测设备在该温度下的稳定性，避免在目标温度以外的环境下老化产生的待测设备质量问题不暴露。
23、应当明白，本技术的上文的概述和下面的详细说明是示例性和解释性的，并且意在提供对如要求保护的本技术的进一步的解释。
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1.一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括：
2.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括环境温度传感器，设置于所述待测设备的周围环境，所述控制系统集成或被配置有温度检测模块，所述环境温度传感器连接至所述温度检测模块。
3.根据权利要求2所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括待测设备温度传感器，设置于所述待测设备，所述设备温度传感器连接至所述温度检测模块。
4.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述控制系统集成或被配置有上电保持时间控制模块，所述上下电次数控制模块、所述上电保持时间控制模块、所述上下电控制模块依次连接。
5.根据权利要求4所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述上下电控制模块用于发出预设次数且预设时间间隔的高电平。
6.根据权利要求5所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述上电保持时间控制模块包括计时器，所述上电保持时间控制模块接收到所
7.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述调温模块包括加热机构、制冷机构。
8.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括温箱，用于将所述调温模块、所述待测设备容纳于密封空间内，便于所述调温模块将密封空间内的温度调节至预设温度。
9.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述上下电检测模块均包含光耦，用于将所述待测设备上电和/或下电信号光耦隔离后传递给所述上下电计数模块。
10.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述上下电控制模块为继电器，所述继电器连接至所述待测设备的供电端。
...【技术特征摘要】
1.一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括：
2.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括环境温度传感器，设置于所述待测设备的周围环境，所述控制系统集成或被配置有温度检测模块，所述环境温度传感器连接至所述温度检测模块。
3.根据权利要求2所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：包括待测设备温度传感器，设置于所述待测设备，所述设备温度传感器连接至所述温度检测模块。
4.根据权利要求1所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述控制系统集成或被配置有上电保持时间控制模块，所述上下电次数控制模块、所述上电保持时间控制模块、所述上下电控制模块依次连接。
5.根据权利要求4所述的一种模拟测试温度环境的上下电老化测试系统，其特征在于：所述上下电控制模块用于发出预设次数且预设时间间隔的高电平。
6.根据权利要求5所述的一种模拟测试温度环境...
【专利技术属性】
技术研发人员：易文斌，纪晨，陈清福，
申请(专利权)人：厦门立林科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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