【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及防静电测试领域，更具体地说，它涉及一种移动硬盘测试装置及其测试方法。
技术介绍
1、静电可以对移动硬盘内部的电子元件造成损坏，导致数据丢失或者无法访问，esata接口是移动硬盘的sata接口的外部版本，相比于其他桥接芯片，它具有更快的传输速度和更强的性能。
2、esata接口相当于直连sata端口，可实现更快的传输速度，此类接口优点使得esata硬盘在高速读取和写入时更顺畅，也能提高整体的数据传输效率。
3、esd（静电放电）试验是一种用于评估产品或设备的抗静电能力的测试方法。在esd试验中，需要对esata接口的每个引脚进行连续循环测试，分别按照±2v、±4v、±6v、±8v和±10v的放电电压对每个引脚进行10次测试，在测试过程中，需不断切换测试引脚，在切换过程中，会因为连续放电会导致静电能量在设备或系统中不断积累，如果未能及时释放或耗散，积累的静电能量可能会达到危险水平，引发电击风险或导致设备损坏，则无法判断出移动硬盘实际防静电效果和其损坏故障原因。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种移动硬盘测试装置及其测试方法，解决相关技术中静电能量在待测硬盘内积累，引发电击风险或导致设备损坏而无法判断出移动硬盘防静电效果的技术问题。
2、本专利技术提供了一种移动硬盘测试装置，包括输送带和测试柜，输送带设于测试柜的两侧，输送带穿插在测试柜内，通过输送带输送待测硬盘进入测试柜内，在测试柜内设有连通组件和引脚测试组件，连通组件的末端连接至待测
3、连通组件包括测试延长片和接地棒，测试延长片的末端抵靠连接至引脚上，接地棒设于测试延长片的底端外壁上，接地棒用于对测试延长片所连接的引脚上积累静电进行释放；
4、引脚测试组件包括绝缘凸轮、翘板和通电座，放电针设于翘板的一端底侧，翘板的另一端顶部设有触点，通电座设于触点的正上方，绝缘凸轮设于翘板靠近触点的一端上方，当绝缘凸轮的凸出部抵靠在翘板的顶端外壁上时，触点和通电座相连接，放电针对引脚进行放电测试；
5、测试模块包括测试线和检测硬盘数据安全的微机，检测硬盘数据安全的微机通过测试线与引脚相连接。
6、进一步地，在测试柜内设有测试输送带，测试延长片的底端设有升降件，升降件带动测试延长片沿着铅垂向移动，随着测试输送带输入水平设置的待测硬盘，测试延长片的末端抵靠连接在引脚上。
7、进一步地，连通组件还包括基座和接触块，测试延长片呈l型结构，测试延长片的底端和接地棒的底端均设于基座上，接触块设于测试延长片的末端上方。
8、进一步地，接触块的顶端和测试延长片的顶端均开有通孔，放电针的底端通过通孔抵靠至引脚上。
9、进一步地，引脚测试组件还包括升降气缸和支架，升降气缸的活塞杆一端与支架相连接，翘板通过轴连接在支架内。
10、进一步地，在支架的外壁设有驱动源，驱动源的输出端与绝缘凸轮的连接轴相连接。
11、进一步地，在翘板远离放电针的一端设有支撑弹簧，在支撑弹簧和翘板的连接处设有绝缘隔板。
12、进一步地，在测试柜的输出端的输送带一侧设有ng品输出轨道，在靠近ng品输出轨道的一侧设有推料气缸，推料气缸用于将位于输送带上的待测硬盘输送至ng品输出轨道上。
13、进一步地，输送带包括输入输送带和输出输送带，在输入输送带的底端设有沿着横向移动滑台，在输入输送带的底端设有循环输送储存柜，在输入输送带的上方设有升降吸盘，升降吸盘用于转移待测硬盘至输入输送带上。
14、本专利技术还提供了一种移动硬盘测试方法，包括以下步骤：
15、s1：待测硬盘通过升降吸盘转移至输入输送带上，输入输送带将待测硬盘输送至测试输送带上；
16、s2：输送至测试输送带时，测试延长片沿着铅垂向移动，将测试延长片的底端抵靠连接至待测硬盘的引脚上；
17、s3：通过升降气缸带动支架向下移动，翘板上的放电针抵靠连接至引脚上，通过驱动源带动绝缘凸轮不断挤压翘板，翘板被绝缘凸轮的凸出部挤压，翘板被挤压时，触点与通电座相连接，形成通路，放电针对引脚进行放电；
18、s4：改变放电电压，当绝缘凸轮转动十周则完成10次测试，通过测试延长片所连接的测试模块测试出待测硬盘是否存在数据丢失或者无法访问；
19、s5：在每次测试过程中，放电针脱离引脚时，引脚与测试延长片相连接，通过接地棒放电，放电后下个翘板的放电针再接触下个引脚；
20、s6：根据测试结果，如果合格则通过输出输送带输出，若为ng品则通过推料气缸将其推出至ng品输出轨道上。
21、本专利技术的有益效果在于：本测试装置通过凸轮组可快速对引脚进行单独放电测试，在每个引脚独立测试间隙，通过接触端对待测硬盘进行释放静电，有效避免静电积累，同时可减少改变放电电压时，设备所模拟的静电电荷量的准确性，减少因测试时，电荷积累造成的测试结果误差，和对移动硬盘的损毁。
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1.一种移动硬盘测试装置，其特征在于，包括输送带和测试柜，输送带设于测试柜的两侧，输送带穿插在测试柜内，通过输送带输送待测硬盘（600）进入测试柜内，在测试柜内设有连通组件（700）和引脚测试组件（800），连通组件（700）的末端连接至待测硬盘（600）的引脚（610），连通组件（700）的端部连接有测试模块，引脚测试组件（800）的测试端抵靠至引脚（610）上，引脚测试组件（800）的末端设有放电针（828），放电针（828）对引脚（610）进行模拟放电测试；
2.根据权利要求1所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，在测试柜内设有测试输送带（500），测试延长片（710）的底端设有升降件，升降件带动测试延长片（710）沿着铅垂向移动，随着测试输送带（500）输入水平设置的待测硬盘（600），测试延长片（710）的末端抵靠连接在引脚（610）上。
3.根据权利要求2所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，连通组件（700）还包括基座（730）和接触块（740），测试延长片（710）呈L型结构，测试延长片（710）的底端和接地棒（720）的底端均设于基座
4.根据权利要求3所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，接触块（740）的顶端和测试延长片（710）的顶端均开有通孔，放电针（828）的底端通过通孔抵靠至引脚（610）上。
5.根据权利要求4所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，引脚测试组件（800）还包括升降气缸（810）和支架（821），升降气缸（810）的活塞杆一端与支架（821）相连接，翘板（822）通过轴连接在支架（821）内。
6.根据权利要求5所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，在支架（821）的外壁设有驱动源（826），驱动源（826）的输出端与绝缘凸轮（827）的连接轴相连接。
7.根据权利要求6所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，在翘板（822）远离放电针（828）的一端设有支撑弹簧（824），在支撑弹簧（824）和翘板（822）的连接处设有绝缘隔板（829）。
8.根据权利要求7所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，在测试柜的输出端的输送带一侧设有NG品输出轨道（400），在靠近NG品输出轨道（400）的一侧设有推料气缸（920），推料气缸（920）用于将位于输送带上的待测硬盘（600）输送至NG品输出轨道（400）上。
9.根据权利要求8所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，输送带包括输入输送带（200）和输出输送带（300），在输入输送带（200）的底端设有沿着横向移动滑台，在输入输送带（200）的底端设有循环输送储存柜（100），在输入输送带（200）的上方设有升降吸盘（210），升降吸盘（210）用于转移待测硬盘（600）至输入输送带（200）上。
10.一种移动硬盘测试方法，为权利要求9所述的一种移动硬盘测试装置的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种移动硬盘测试装置，其特征在于，包括输送带和测试柜，输送带设于测试柜的两侧，输送带穿插在测试柜内，通过输送带输送待测硬盘（600）进入测试柜内，在测试柜内设有连通组件（700）和引脚测试组件（800），连通组件（700）的末端连接至待测硬盘（600）的引脚（610），连通组件（700）的端部连接有测试模块，引脚测试组件（800）的测试端抵靠至引脚（610）上，引脚测试组件（800）的末端设有放电针（828），放电针（828）对引脚（610）进行模拟放电测试；
2.根据权利要求1所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，在测试柜内设有测试输送带（500），测试延长片（710）的底端设有升降件，升降件带动测试延长片（710）沿着铅垂向移动，随着测试输送带（500）输入水平设置的待测硬盘（600），测试延长片（710）的末端抵靠连接在引脚（610）上。
3.根据权利要求2所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，连通组件（700）还包括基座（730）和接触块（740），测试延长片（710）呈l型结构，测试延长片（710）的底端和接地棒（720）的底端均设于基座（730）上，接触块（740）设于测试延长片（710）的末端上方。
4.根据权利要求3所述的一种移动硬盘测试装置，其特征在于，接触块（740）的顶端和测试延长片（710）的顶端均开有通孔，放电针（828）的底端通过通孔抵靠至引脚（610）上。
5.根据权利要求4所述的一种移动硬盘测试装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟锦红，齐翠娥，唐威，
申请(专利权)人：深圳市领德创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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