【技术实现步骤摘要】
本技术涉及检测,尤其涉及一种聚光检测装置。
技术介绍
1、工件表面缺陷检测技术具体指的是通过光源对工件表面打光,再通过摄像头获取从工件表面反射的光,从而获得工件的表面信息的一种检测手段。
2、现有技术中,常规的针对工件的检测手段为,在工件上方通过光源打光,并通过工件上方的摄像头获取工件的信息,该种方式适用于大多数的具备规则形状的工件;但是对于弯曲状的异形工件而言,该种检测方式具备一定的局限性,因为光源垂直投射于异型工件的内壁时,光源的光线没有正射于异形工件的内壁上,工件表面接收的光线不足,导致检测结果不准确的情况。
3、鉴于此,需要对现有技术中的检测设备加以改进,以解决异性工件照射光线不足的情况。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种聚光检测装置,解决以上的技术问题。
2、为达此目的,本技术采用以下技术方案:
3、一种聚光检测装置,包括基板,以及设于所述基板上的发光组件;所述发光组件用于发出照亮光线并沿预设光轴发射,所述光轴上设有聚光棒;
4、所述基板沿其长度方向设置有若干个与工件相匹配的第一折弯部,所述聚光棒设有若干个第二折弯部,每个所述第二折弯部分别对应一个所述第一折弯部,所述第二折弯部用于对所述第一折弯部处的照亮光线进行聚光。
5、可选的,所述第一折弯部包括依次连接的上凸部和下凹部,所述上凸部自其两端向中间逐渐向上凸起设置,所述下凹部自其两端向中间逐渐向下凹陷设置。
6、可选的,所述基板
7、可选的,所述发光组件包括若干个沿所述基板长度方向设置的led灯珠,且所述led灯珠垂直于所述第一折弯部的切线方向设置。
8、可选的,所述led灯珠焊接于所述基板上。
9、可选的,所述聚光棒与所述基板间隔预设间距设置,以形成光路间隙。
10、可选的,所述基板的下端面与所述聚光棒的中心线平行地设置。
11、与现有技术相比,本技术具有以下有益效果:工作时,发光组件运行以发出照亮光线并沿预设光轴发射,照亮光线经过聚光棒的聚光作用,使第一折弯部处发出的照亮光线经由第二折弯部的聚光作用,照亮光线按光轴进行聚集至聚光点,形成与工件表面相匹配的光斑,以此一次性将工件表面缺陷全部照亮,实现成像检测,高亮度的光斑能够有效保证光照强度,且与工件的形状相匹配,保证成像效果,有利于提高检测精度。
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1.一种聚光检测装置,其特征在于,包括基板(1),以及设于所述基板(1)上的发光组件(2);所述发光组件(2)用于发出照亮光线并沿预设的光轴(6)发射,所述光轴(6)上设有聚光棒(3);
2.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述第一折弯部(11)包括依次连接的上凸部(111)和下凹部(112),所述上凸部(111)自其两端向中间逐渐向上凸起设置,所述下凹部(112)自其两端向中间逐渐向下凹陷设置。
3.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述基板(1)为柔性材质基板(1)。
4.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述发光组件(2)包括若干个沿所述基板(1)长度方向设置的LED灯珠(21),且所述LED灯珠(21)垂直于所述第一折弯部(11)的切线方向设置。
5.根据权利要求4所述的聚光检测装置,其特征在于,所述LED灯珠(21)焊接于所述基板(1)上。
6.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述聚光棒(3)与所述基板(1)间隔预设间距设置,以形成光路间隙(4)。
...【技术特征摘要】
1.一种聚光检测装置,其特征在于,包括基板(1),以及设于所述基板(1)上的发光组件(2);所述发光组件(2)用于发出照亮光线并沿预设的光轴(6)发射,所述光轴(6)上设有聚光棒(3);
2.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述第一折弯部(11)包括依次连接的上凸部(111)和下凹部(112),所述上凸部(111)自其两端向中间逐渐向上凸起设置,所述下凹部(112)自其两端向中间逐渐向下凹陷设置。
3.根据权利要求1所述的聚光检测装置,其特征在于,所述基板(1)为柔性材质基板(1)。
4.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:周杰,
申请(专利权)人:广东奥普特科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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