【技术实现步骤摘要】
本申请涉及薄膜涂覆领域，具体而言，本申请涉及一种用于薄膜涂覆的视觉定位方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、随着科技不断发展，电子产品在各个领域当中的应用越来越广泛。不可避免地，有些电子产品的使用场景可能较为恶劣，例如高温场景、腐蚀较大的场景、高湿度场景以及灰尘较多的场景等等。为了保护在恶劣环境中使用的电子产品，尽可能的减少外界环境对内部电路板以及元器件的影响，通常在电子产品的生产过程中，会在内部电路板上涂覆一层保护电路板的薄膜涂层。
2、在电路板上涂覆薄膜前，涂覆装置需要定位至涂覆位置，因此，获取涂覆位置是涂覆薄膜前必不可少的一个步骤。目前，可以通过使用二次模板匹配的方法，基于待定位图像和模板图像，获取电路板上的涂覆位置。
3、然而，如今电子产品的电路板的大小越来越小，电路板元器件之间的间距也越来越窄，留给薄膜涂覆的涂覆位置的面积也随之变小，并且，由于不同元器件有不同的大小和形状，相应地，电路板上的涂覆位置的形状也千奇百怪。面对电路板上面积小、形状怪的涂覆位置，直接使用上述方法进行定位，存在定位精度低的问题，可以理解，定位时出现的任何误差，都可能导致涂覆装置将薄膜涂覆至元器件上，进而损伤电路板。
技术实现思路
1、本申请各提供了一种用于薄膜涂覆的视觉定位方法、装置、电子设备及存储介质，可以解决相关技术中存在的薄膜涂覆的定位精度低的问题。所述技术方案如下：
2、根据本申请的一个方面，一种用于薄膜涂覆的视觉定位方法，包括：获取待定位图像和
3、根据本申请的一个方面，一种用于薄膜涂覆的视觉定位装置，包括：图像获取模块，用于获取待定位图像和模板图像；粗定位模块，用于基于所述模板图像，利用第一定位算法在所述待定位图像进行图像匹配，得到第一位置信息；精定位模块，用于基于所述第一位置信息，通过第二定位算法在所述待定位图像进行特征还原，得到第二位置信息，所述第二位置信息是包括涂覆位置的信息；信息发送模块，用于将所述第二位置信息发送至所述涂覆装置，执行薄膜涂覆操作。
4、根据本申请的一个方面，一种电子设备，包括：至少一个处理器、至少一个存储器、以及至少一条通信总线，其中，存储器上存储有计算机程序，处理器通过通信总线读取存储器中的计算机程序；计算机程序被处理器执行时实现如上所述的用于薄膜涂覆的视觉定位方法。
5、根据本申请的一个方面，一种存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上所述的用于薄膜涂覆的视觉定位方法。
6、根据本申请的一个方面，一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，计算机程序存储在存储介质中，计算机设备的处理器从存储介质读取计算机程序，处理器执行计算机程序，使得计算机设备执行时实现如上所述的用于薄膜涂覆的视觉定位方法。
7、本申请提供的技术方案带来的有益效果是：
8、在上述技术方案中，通过在第一位置信息的基础上识别涂覆位置的几何特征，还原涂覆位置的几何形状，精准地获取包括涂覆位置的第二位置信息，使得涂覆装置能定位至该涂覆位置上进行薄膜涂覆，从而实现了对面积小、形状怪的涂覆位置的薄膜涂覆，避免将薄膜涂覆至非涂覆位置处，提高薄膜涂覆的质量。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于薄膜涂覆的视觉定位方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述模板图像，利用第一定位算法在所述待定位图像进行图像匹配，得到第一位置信息，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算得到所述匹配窗口所得图像与所述模板图像的相关性，所述方法还包括：
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一位置信息，通过第二定位算法在所述待定位图像进行特征还原，得到第二位置信息，包括：
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将所述第二位置信息发送至所述涂覆装置，使得所述涂覆装置定位至所述涂覆位置，执行薄膜涂覆操作之后，还包括：
7.如权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述模板图像，利用第一定位算法在所述待定位图像进行图像匹配，得到第一位置信息之前，所述方法还包括：
8.一种用于薄膜涂覆的视觉定位装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括
10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的定位方法。
...【技术特征摘要】
1.一种用于薄膜涂覆的视觉定位方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述模板图像，利用第一定位算法在所述待定位图像进行图像匹配，得到第一位置信息，包括：
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算得到所述匹配窗口所得图像与所述模板图像的相关性，所述方法还包括：
4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一位置信息，通过第二定位算法在所述待定位图像进行特征还原，得到第二位置信息，包括：
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：王本正，王永龙，王文好，吴俊，林永志，
申请(专利权)人：深圳市轴心自控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。