【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片测试分选机。
技术介绍
1、芯片测试分选机主要进行芯片光电参数的测试。设备从供给装置拾取芯片，搭载到测定工作台，对芯片的光电参数进行测试，并根据测试结果对芯片的优劣进行判定及筛选后，放置到指定位置的装置，设备可以自动运行。
2、经检索公开号为cn217963610u的专利涉及一种芯片测试分选机，包括测试底座、分选顶架、取料手柄、转动轴、滑动架、测试架和测试连接座。本技术通过设置取料手柄和转动轴，利用滑动架带动、测试架在分段顶架上上下滑动，从而便于芯片在测试架上的出料，进而提高芯片分选机的分选效率。
3、现有设备通过旋转转动轴进行集体出料，导致不可以进行单一芯片的快速出料，降低操作效率，因此我们提出了一种芯片测试分选机用于解决上述问题。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决出料效率低的缺点，而提出的一种芯片测试分选机。
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种芯片测试分选机，包括设备箱，所述设备箱的内部通过注塑的若干隔板分隔有若干测试槽，若干所述测试槽的内部顶端与底端均通过螺钉安装有接触板，若干所述测试槽的内部后端均通过螺钉安装有弹簧，若干所述弹簧的正面均通过螺钉推料板，若干所述测试槽的内部顶端与底端均开设有卡块槽，若干所述卡块槽的内部相互远离的一端均通过螺钉安装有夹紧弹簧，若干所述夹紧弹簧相互靠近的一端均通过焊接安装有卡块，若干所述推料板的顶部与底部均对应开设有卡槽。
3、优选的，所
4、优选的，所述控制主板通过螺钉安装于所述设备箱的内部顶端。
5、优选的，所述控制主板通过导线连接有报警器。
6、优选的，所述设备箱的顶部且对应报警器开设有扩音口，所述扩音口的内部卡接有隔网。
7、优选的，若干所述接触板均通过导线连接于控制主板。
8、优选的，若干所述接触板相互靠近的一端均等距安装有若干接触点。
9、本技术中，所述的一种芯片测试分选机：
10、1、本技术通过推动芯片实现将推料板两端开设的卡槽推过两个卡块，实现通过弹簧的反作用力将芯片推出测试槽，达到快速出料的目的，增加更换残次品的效率；
11、2、本技术通过设置显示屏与报警器，在使用时通过显示屏实时显示被检测的芯片的通电情况，便于使用者快速了解到芯片的品质，一旦发现异常再通过报警器进行报警，杜绝遗漏的问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片测试分选机，包括设备箱（1），其特征在于，所述设备箱（1）的内部通过注塑的若干隔板（2）分隔有若干测试槽（3），若干所述测试槽（3）的内部顶端与底端均通过螺钉安装有接触板（4），若干所述测试槽（3）的内部后端均通过螺钉安装有弹簧（5），若干所述弹簧（5）的正面均通过螺钉推料板（6），若干所述测试槽（3）的内部顶端与底端均开设有卡块槽（7），若干所述卡块槽（7）的内部相互远离的一端均通过螺钉安装有夹紧弹簧（8），若干所述夹紧弹簧（8）相互靠近的一端均通过焊接安装有卡块（9），若干所述推料板（6）的顶部与底部均对应开设有卡槽（10）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，所述设备箱（1）的顶部一侧卡接有显示屏（11），所述显示屏（11）通过锡焊连接有控制主板（12）。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，所述控制主板（12）通过螺钉安装于所述设备箱（1）的内部顶端。
4.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，所述控制主板（12）通过导线连接有报警器（13）。
5.根据权利
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，若干所述接触板（4）均通过导线连接于控制主板（12）。
7.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，若干所述接触板（4）相互靠近的一端均等距安装有若干接触点。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试分选机，包括设备箱（1），其特征在于，所述设备箱（1）的内部通过注塑的若干隔板（2）分隔有若干测试槽（3），若干所述测试槽（3）的内部顶端与底端均通过螺钉安装有接触板（4），若干所述测试槽（3）的内部后端均通过螺钉安装有弹簧（5），若干所述弹簧（5）的正面均通过螺钉推料板（6），若干所述测试槽（3）的内部顶端与底端均开设有卡块槽（7），若干所述卡块槽（7）的内部相互远离的一端均通过螺钉安装有夹紧弹簧（8），若干所述夹紧弹簧（8）相互靠近的一端均通过焊接安装有卡块（9），若干所述推料板（6）的顶部与底部均对应开设有卡槽（10）。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选机，其特征在于，所述设备箱（1）的顶部一侧卡接有显示屏（11），所述显示屏（11）通过锡焊连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：王川，时于延，
申请(专利权)人：安徽芯海技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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