一种测量矿石类型用的制造技术

本实用新型专利技术涉及矿石检测技术领域，具体为一种测量矿石类型用的

【技术实现步骤摘要】
一种测量矿石类型用的X荧光仪


[0001]本技术涉及矿石检测
，具体为一种测量矿石类型用的
X
荧光仪
。

技术介绍

[0002]X
荧光光谱仪
(XRF)
由激发源
(X
射线管
)
和探测系统构成
。X
射线管产生入射
X
射线
(
一次
X
射线
)
，激发被测样品，产生
X
荧光
(
二次
X
射线
)
，探测器对
X
荧光进行检测
。
[0003]在对锰矿石进行类型进行检测时需要使用到
X
荧光仪，在检测之间需要对锰矿石进行粉碎并将其与黏结剂等材料混合后倒入检测盘体中进行压合，使其形成圆片，之后再将圆片连带检测盘体送入
X
荧光仪中进行分析检测，目前现有的
X
荧光仪不能对锰矿石进行粉碎
、
压合等一系列的准备步骤的操作，使得
X
荧光仪的功能较为单一，不能对锰矿石进行粉碎混合压等一体化操作，使用起来不够方便
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种测量矿石类型用的
X
荧光仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种测量矿石类型用的
X
荧光仪，包括防护罩，所述防护罩的内部设置有
X
射线发生器
、
探测器和物质成分分析模块，所述防护罩的底部设置有控制柜，所述控制柜的上表面固定有传送机构
、
第一支撑架和第二支撑架，所述防护罩的一侧开设有开口，所述传送机构的一端穿过开口延伸至防护罩的内部，所述传送机构的上表面连接有
L
型移动板，所述第一支撑架和第二支撑架位于
L
型移动板的两侧，所述第一支撑架的表面安装有粉碎研磨机构，所述第二支撑架的表面安装有压合机构，所述粉碎研磨机构的正下方设置有支撑台，所述支撑台固定在控制柜的表面，所述支撑台的表面安装有第一传送带，所述
L
型移动板的表面安装有第二传送带
。
[0006]优选的，所述第一传送带和第二传送带位于同一水平面上，且所述第一传送带和第二传送带的传送方向相同
。
[0007]优选的，所述粉碎研磨机构为粉碎研磨器，所述粉碎研磨器的下料口处安装有定量称重传感器，所述粉碎研磨器的下料口正下方设置有检测盘体
。
[0008]优选的，所述检测盘体的下表面设置有磁铁片，所述第二传送带的外表面涂覆有磁性涂层
。
[0009]优选的，所述压合机构包括固定在第二支撑架上的气缸，所述气缸的伸缩端设置有与检测盘体处凹槽直径相同的按压头
。
[0010]优选的，所述传送机构包括固定在控制柜表面的固定外壳，所述固定外壳的内侧壁固定连接有驱动电机，所述驱动电机的驱动端固定有螺纹杆，所述螺纹杆的外表面螺纹套接有螺纹块，所述固定外壳的顶部开设有条形口，所述螺纹块的顶部固定有支撑杆，所述支撑杆穿过条形口与
L
型移动板固定
。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0012]本技术测量锰矿石类型用
X
荧光仪集矿石粉碎混合压合检测为一体，在对矿石进行粉碎混合后可自动进行定量下料至检测盘体中，并通过第一传送带传送至第二传送带上，经过压料机构压合后自动送至防护罩内通过
X
射线对其进行检测分析，操作方便，自动化程度高，同时使得该仪器功能更为齐全
。
附图说明
[0013]图1为本技术的前视立体图；
[0014]图2为本技术的侧视立体图；
[0015]图3为本技术的后视立体图；
[0016]图4为本技术的传送机构的整体结构图
。
[0017]图中：
1、
控制柜；
2、
防护罩；
3、
传送机构；
31、
固定外壳；
32、
条形口；
33、
驱动电机；
34、
螺纹块；
35、
螺纹杆；
4、
第二传送带；
5、L
型移动板；
6、
第一支撑架；
7、
粉碎研磨器；
8、
第二支撑架；
81、
气缸；
82、
按压头；
9、
定量称重传感器；
10、
检测盘体；
11、
第一传送带；
12、
支撑台
。
具体实施方式
[0018]为了使本技术的目的
、
技术方案进行清楚
、
完整地描述，及优点更加清楚明白，以下结合附图对本技术实施例进行进一步详细说明
。
应当理解，此处所描述的具体实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，仅仅用以解释本技术实施例，并不用于限定本技术实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0019]请参阅图1至图4，本技术提供一种技术方案：一种测量矿石类型用的
X
荧光仪，包括防护罩2，防护罩2的内部设置有
X
射线发生器
、
探测器和物质成分分析模块，防护罩2的底部设置有控制柜1，控制柜1的上表面固定有传送机构
3、
第一支撑架6和第二支撑架8，防护罩2的一侧开设有开口，传送机构3的一端穿过开口延伸至防护罩2的内部，传送机构3的上表面连接有
L
型移动板5，第一支撑架6和第二支撑架8位于
L
型移动板5的两侧，第一支撑架6的表面安装有粉碎研磨机构，第二支撑架8的表面安装有压合机构，粉碎研磨机构的正下方设置有支撑台
12
，支撑台
12
固定在控制柜1的表面，支撑台
12
的表面安装有第一传送带
11
，
L
型移动板5的表面安装有第二传送带
4。
[0020]第一传送带
11
和第二传送带4位于同一水平面上，且第一传送带
11
和第二传送带4的传送方向相同
,
检测盘体
10
在第一传送带
11
上被导入待检测矿石混合粉之后，会通过第一传送带
11
传送至第二传送带4上，并在第二传送带4上被压合机构压合，将检测盘体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测量矿石类型用的
X
荧光仪，包括防护罩
(2)
，所述防护罩
(2)
的内部设置有
X
射线发生器
、
探测器和物质成分分析模块，其特征在于：所述防护罩
(2)
的底部设置有控制柜
(1)
，所述控制柜
(1)
的上表面固定有传送机构
(3)、
第一支撑架
(6)
和第二支撑架
(8)
，所述防护罩
(2)
的一侧开设有开口，所述传送机构
(3)
的一端穿过开口延伸至防护罩
(2)
的内部，所述传送机构
(3)
的上表面连接有
L
型移动板
(5)
，所述第一支撑架
(6)
和第二支撑架
(8)
位于
L
型移动板
(5)
的两侧，所述第一支撑架
(6)
的表面安装有粉碎研磨机构，所述第二支撑架
(8)
的表面安装有压合机构，所述粉碎研磨机构的正下方设置有支撑台
(12)
，所述支撑台
(12)
固定在控制柜
(1)
的表面，所述支撑台
(12)
的表面安装有第一传送带
(11)
，所述
L
型移动板
(5)
的表面安装有第二传送带
(4)。2.
根据权利要求1所述的一种测量矿石类型用的
X
荧光仪，其特征在于：所述第一传送带
(11)
和第二传送带
(4)
位于同一水平面上，且所述第一传送带
(11)
和第二传送带
(4)
的传送方向相同

【专利技术属性】
技术研发人员：查斌，
申请(专利权)人：新疆维吾尔自治区地质矿产勘查开发局第二地质大队，
类型：新型
国别省市：