一种芯片测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试机，包括机架以及芯片放置座；所述机架上设置自动上料组件

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机


[0001]本技术涉及芯片
，尤其涉及一种芯片测试机
。

技术介绍

[0002]在芯片测试领域，直流参数测试是必要的测试项目，常见的直流参数测试包括接触测试
、
漏电电流测试
、
电源功耗测试
、
空载
/
带载驱动能力测试
、
输入高低电平测试等等
。
[0003]相关技术中，一般采用人工的方式，通过手动驱动探针在芯片引脚上施加电流进行测试，从而判断芯片是否合格，此种检测方式效率很低，只能对少数样本抽样检测，根本无法满足产业化要求，且检测成本较高
。

技术实现思路

[0004]为克服上述缺点，本技术的目的在于提供一种芯片测试机，自动检测芯片是否合格，提高芯片检测的效率，降低检测成本
。
[0005]为了达到以上目的，本技术采用的技术方案是：一种芯片测试机，包括机架以及芯片放置座；所述机架上设置自动上料组件
、
载盘放置板
、
多组芯片定位机构以及检测组件，所述自动上料组件包括滚轮驱动电机
、
滚轮组件以及真空吸盘，所述真空吸盘吸取载盘放置板上的芯片，并通过位移驱动组件移送至芯片放置座上，所述芯片定位机构包括检测压针安装板
、
升降组件以及定位组件，所述升降组件能驱动定位组件向上移动，以使芯片放置座上的芯片与检测压针安装板上的探针相接触
。
[0006]进一步的，所述定位组件包括贯穿芯片放置座的
L
型移动块一与
L
型移动块二
、
定位座以及伸缩气缸，所述芯片放置座上设置有芯片放置槽，所述
L
型移动块一与
L
型移动块二上远离芯片放置槽的一侧设置有抵接块，另一侧设置有导向滚轮，所述
L
型移动块一与
L
型移动块二上均开设有一供其相互插接的让位槽
。
所述定位座对
L
型移动块一以及
L
型移动块二起支撑作用
。
所述伸缩气缸活塞杆伸出，能驱动抵接块朝向靠近芯片的方向移动，并从侧边将芯片压紧在芯片放置座上，实现芯片的精确定位
。
[0007]进一步的，所述机架上设置有与
L
型移动块一以及
L
型移动块二位置相对应的
L
型导向架，所述
L
型导向架顶部设置有一朝向远离芯片放置座的方向倾斜的倾斜面
。
通过设置所述
L
型导向架，能够为升降组件驱动定位组件向上移动提供导向
。
[0008]进一步的，所述升降组件包括竖直设置在机架下表面的升降模组以及升降支撑杆，所述定位组件位于升降支撑杆上
。
[0009]进一步的，所述芯片定位机构还包括微调组件，所述微调组件包括微调平台一
、
微调平台二以及微调平台三，所述检测压针安装板安装在微调平台一上
。
通过设置所述微调组件能够从前后
、
左右以及上下方向上对检测压针安装板的位置进行微调，保证检测压针安装板上的探针能够精确的与芯片放置座上的芯片相接触，保证芯片的检测精度
。
[0010]进一步的，所述位移驱动组件通过位移支撑架与自动上料组件相连接，所述自动上料组件还包括移动支座以及竖直设置的吸盘连接支架，所述滚轮驱动电机的驱动端贯穿
移动支座并与滚轮组件固定连接，所述吸盘连接支架位于滚轮组件下方，且通过导轨与移动支座滑动连接，所述吸盘连接支架上设置有复位弹簧，所述滚轮驱动电机驱动滚轮组件转动时，所述滚轮组件能推动吸盘连接支架向下移动
。
所述位移驱动组件可以是直线模组也可以是驱动电机与丝杠的组合，或者其他已知的能实现其移动的结构，只要能实现自动上料组件朝向芯片定位机构的方向往返移动即可
。
[0011]所述导轨底部设置有一连接板，所述连接板与吸盘连接支架背面的滑块之间通过弹簧连接，在动力滚轮施加在吸盘连接支架上的力消失时，吸盘连接支架在弹簧的作用下复位
。
[0012]进一步的，所述滚轮组件包括滚轮支撑杆以及可转动设置在其两端的动力滚轮
。
所述滚轮驱动电机驱动滚轮支撑杆转动，所述滚轮支撑杆上的动力滚轮在转动过程中对吸盘连接支架施加使其沿导轨向下移动的力，从而调整真空吸盘与芯片之间的距离，便于精准吸取芯片
。
[0013]进一步的，所述真空吸盘通过横杆与吸盘连接支架相连接，所述移动支座上还设置有真空发生器
。
[0014]进一步的，所述载盘放置板上开设有多个用于放置芯片载盘的载盘放置槽，所述载盘放置板下表面通过滑轨一与机架表面滑动连接，所述机架上设置有防护罩
。
[0015]进一步的，所述检测组件包括检测相机，所述检测相机通过滑轨二与机架滑动连接，所述滑轨二沿芯片定位机构的排列方向设置
。
检测过程中，外部驱动件驱动检测组件沿滑轨二移动，使检测相机能够逐一对芯片定位机构上的不合格芯片拍照，以便对芯片筛分
。
[0016]本技术的有益效果：
[0017]本技术中自动上料组件
、
芯片定位机构
、
检测组件以及载盘放置板相互配合，所述自动上料组件能够将芯片移送至芯片定位机构上的芯片放置座内，所述定位组件上的抵接块从芯片的侧边将芯片压紧在芯片放置座上，对芯片进行精确定位，保证芯片的检测效率以及精度；所述检测组件能够在检测芯片检测过程中抓取不合格的芯片信息，便于将合格与不合格芯片筛分
。
附图说明
[0018]图1为本技术一实施例的整体结构轴测图；
[0019]图2为本技术一实施例的部分结构轴测图；
[0020]图3为本技术一实施例的自动上料组件结构示意图；
[0021]图4为本技术一实施例的另一部分结构轴测图；
[0022]图5为本技术一实施例的定位组件结构示意图；
[0023]图6为本技术一实施例的又一部分结构示意图；
[0024]图中：
1、
机架；
2、
防护罩；
3、
滑轨一；
4、
芯片载盘；
5、
载盘放置板；
6、
自动上料组件；
61、
移动支座；
62、
动力滚轮；
63、
滚轮支撑杆；
64、
吸盘连接支架；
65、
导轨；
66、
滚轮驱动电机；
67、
真空发生器；
68、
横杆；
69、
真空吸盘；
7、
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片测试机，其特征在于：包括机架以及芯片放置座；所述机架上设置自动上料组件
、
载盘放置板
、
多组芯片定位机构以及检测组件，所述自动上料组件包括滚轮驱动电机
、
滚轮组件以及真空吸盘，所述真空吸盘吸取载盘放置板上的芯片，并通过位移驱动组件移送至芯片放置座上，所述芯片定位机构包括检测压针安装板
、
升降组件以及定位组件，所述升降组件能驱动定位组件向上移动，以使芯片放置座上的芯片与检测压针安装板上的探针相接触
。2.
根据权利要求1所述的一种芯片测试机，其特征在于：所述定位组件包括贯穿芯片放置座的
L
型移动块一与
L
型移动块二
、
定位座以及伸缩气缸，所述芯片放置座上设置有芯片放置槽，所述
L
型移动块一与
L
型移动块二上远离芯片放置槽的一侧设置有抵接块，另一侧设置有导向滚轮，所述
L
型移动块一与
L
型移动块二上均开设有一供其相互插接的让位槽
。3.
根据权利要求1所述的一种芯片测试机，其特征在于：所述机架上设置有与
L
型移动块一以及
L
型移动块二位置相对应的
L
型导向架，所述
L
型导向架顶部设置有一朝向远离芯片放置座的方向倾斜的倾斜面
。4.
根据权利要求1所述的一种芯片测试机，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：王刚，
申请(专利权)人：苏州亿博胜机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：