本发明专利技术公开了一种用定值占空比及变频光脉冲测定发光体的发光期间的方法，是测定光致发光期间的一种方法。该方法使用恒定光源，用斩光器获得恒定占空比，用变速马达调节脉冲光的频率，然后，以此脉冲光激发光致发光体，用分光探测器测量光致发光强度随激发频率的变化，画出发光强度随激发频率的变化曲线，找出曲线的回折点所对应的频率ｆ０，则被测光致发光体的发光期间：，γ为脉冲光的占空比。该方法超越了只了解衰减速度的局限性，第一次依据坚实的理论，以直观、简便、常规的技术手段，在光致发光中测出发光期间。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测定光致发光期间的方法，它可用于判定交流光源的无闪烁质量 及发光平板显示中激发条件的优选。
技术介绍
发光期间也称发光的真实寿命，是发光现象的定性及发光应用的重要、原则性的 参数，它的存在曾被用作区分发光及其它非平衡辐射的判据而获得了 1958年的诺贝尔物 理奖。但这个实验证明了发光有期间，并未测出它的大小。关于发光衰减的测定，已经有70 多年的经验，发展出5，6种针对不同时间段的技术，但是这些技术只适用于极个别的衰减， 即分立中心的单指数规律的衰减，而且它只反应发光衰减的速度，例如衰减l/e，l/10， 1/100处各需要多少时间，若问何时衰减完毕，对所有衰减的答案都是相同的，都是无穷大， 这显然不符合实际。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是找到在光致发光中测出它的发光期间的一种方法。本专利技术的技术方案。使用恒定光源，用斩 光器及变频马达获得恒定占空比又能变频的脉冲光，以此脉冲光激发光致体，用分光探测 器测量发光强度随频率的变化关系，画出发光强度随激发频率的变化曲线，找出曲线的回 折点所对应的频率‘则被测光致发光器件中的发光体的发光期间是T = 1/fo (l - r) y为占空比。被测光致发光体为单晶、薄膜、粉末或液体。本专利技术的有益效果是提供了一种用斩光器及变速马达产生的定值占空比及可变频的光脉冲测定光致 发光期间的方法，超越了只了解衰减速度的局限性，第一次依据坚实的理论，以直观、简便、 常规的技术手段，在光致发光中测出发光期间。附图说明图1光致发光随恒定占空比的激发光脉冲频率的变化。 具体实施例方式，该方法包括以下步 骤步骤一，准备恒定光强的光源、斩光器、变速马达、测量发光强度的分光探测器、被测光致发光器件。步骤二，实验条件1)用斩光器将恒定光强的光源发出的光变成恒定占空比(Y)的脉冲光。2)用变速马达调节脉冲光源的频率。步骤三，用步骤二获得的脉冲光激发光致发光体，从近乎零开始陆续增高激发频 率，用分光探测器测量光致发光的强度随频率的变化关系，画出发光强度随频率的变化曲 线，当发光强度回折时，这个回折点对应的频率是&，则发光体的发光期间T T = 1/fo(l -r) 其中Y为占空比，即激发占用的时间占整个周期的百分比。本专利技术的理论依据用恒定占空比的光脉冲激发时，一个周期的时间是1/f，除去激发占去p= Y/f外 (P是脉宽)，可用于发光衰减的时间只有t = (1/f-y/f) = (l/f)(l-Y)，其中、是占空 比，如果这段时间t大于发光期间T，则由于f*p= y =常数，激发功率不变，在这段频率范 围内发光维持不变。但当t < T时，情况就不同了，下一个激发脉冲将与上一次激发产生的发光的末 梢相重叠，这个重叠部分说明发光还未衰减完毕，发光中心还处于激发态，不能吸收激发 光，从而激发变弱，导致发光下降，在亮度频率曲线上出现回折，这个回折点f；就给出T = 1/fo(l -r)其中，y是占空比，f0是回折点对应的频率。用斩光器及变速马达产生的幅度及占空比都保持恒定的变频光源可以是发光光 源，也可以是激光光源。权利要求，其特征在于使用恒定光源、斩光器及变速马达获得恒定占空比的变频脉冲光，以此脉冲光激发发光体，用分光探测器测量光致发光的发光强度随频率的变化关系，画出发光强度随激发频率的变化曲线，找出曲线的回折点所对应的频率f0，则被测光致发光的发光期间T是 <mrow><mi>T</mi><mo>=</mo><mfrac> <mn>1</mn> <msub><mi>f</mi><mn>0</mn> </msub></mfrac><mrow> <mo>(</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mi>γ</mi> <mo>)</mo></mrow> </mrow>γ为占空比。2.根据权利要求1所述的， 其特征在于被测光致发光体为单晶、薄膜、粉末或液体。全文摘要本专利技术公开了一种，是测定光致发光期间的一种方法。该方法使用恒定光源，用斩光器获得恒定占空比，用变速马达调节脉冲光的频率，然后，以此脉冲光激发光致发光体，用分光探测器测量光致发光强度随激发频率的变化，画出发光强度随激发频率的变化曲线，找出曲线的回折点所对应的频率f0，则被测光致发光体的发光期间，γ为脉冲光的占空比。该方法超越了只了解衰减速度的局限性，第一次依据坚实的理论，以直观、简便、常规的技术手段，在光致发光中测出发光期间。文档编号G01M11/02GK101846582SQ20101016316公开日2010年9月29日 申请日期2010年4月29日 优先权日2010年4月29日专利技术者冀国蕊, 张福俊, 徐叙瑢, 徐征, 赵谡玲 申请人:北京交通大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
用定值占空比及变频光脉冲测定发光体的发光期间的方法，其特征在于：使用恒定光源、斩光器及变速马达获得恒定占空比的变频脉冲光，以此脉冲光激发发光体，用分光探测器测量光致发光的发光强度随频率的变化关系，画出发光强度随激发频率的变化曲线，找出曲线的回折点所对应的频率ｆ↓［０］，则被测光致发光的发光期间Ｔ是：Ｔ＝１／ｆ↓［０］（１－γ）γ为占空比。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐征，赵谡玲，张福俊，冀国蕊，徐叙瑢，
申请(专利权)人：北京交通大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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