测试插座制造技术

本申请实施例涉及电子器件测试技术领域，公开了一种测试插座

【技术实现步骤摘要】
测试插座


[0001]本申请实施例涉及电子器件测试
，特别涉及一种测试插座
。

技术介绍

[0002]随着集成电路的快速发展，半导体器件的种类也越来越多
。
同时，半导体器件的封装类型较多，这给集成电路测试带来了极大的挑战
。
为了实现对大规模器件的批量测试，使用测试插座是个较好的解决办法
。
采用测试插座进行测试，可以提高半导体器件测试时的便利性
。
在测试过程中，只需将待测试的半导体器件的引脚插入测试插座的插孔内，即可实现测试电路的连通
。
[0003]但是，目前的测试插座在对可控半导体器件进行测试时，存在各种信号之间相互影响的现象
。
也就是说，当待测试半导体器件是可控器件时，测试插座无法确保各种信号之间的独立性
。
因此，如何在进行半导体器件测试时，确保各种信号之间的独立性，是一个重要的问题
。

技术实现思路

[0004]本申请实施方式的目的在于提供一种测试插座，能够在进行半导体器件测试时，确保各种信号之间的独立性
。
[0005]为解决上述技术问题，本申请的实施方式提供了一种测试插座，测试插座用于测试半导体器件，半导体器件具有多个引脚
。
测试插座包括壳体，壳体设置有与多个引脚一一对应的多个插孔，每个插孔用于插入对应的引脚；至少部分插孔内设置有多个电连接通道，多个电连接通道用于在引脚插入插孔时与该引脚电连接
。
[0006]本申请的实施方式提供的测试插座，通过在插孔内增加一组或者多组电连接通道，将原本插孔内共用的电连接通道分拆为不同信号专用的电连接通道，可以避免共用回路造成的信号影响，保证了测试的信号完整性
。
也就是说，本申请一些实施例提供的测试插座，可以在测试插座和半导体器件引脚接触源头将不同电连接通道，如信号回路和功率回路分开，避免两者相互之间产生不良影响
。
从而使得测试插座能够在进行半导体器件测试时，确保各种信号之间的独立性
。
[0007]在一些实施方式中，每个电连接通道包括相连的弹性件与引出线，弹性件安装在壳体内，并用于在引脚插入插孔时与引脚电接触，引出线安装在壳体内并用于连接测试电路
。
[0008]在一些实施方式中，弹性件呈片状设置
。
[0009]在一些实施方式中，弹性件设置成弧形
。
[0010]在一些实施方式中，弹性件的一端为自由端，弹性件的另一端与引出线相接
。
[0011]在一些实施方式中，在插孔的深度方向上，弹性件的中部相较两端更加靠近插孔
。
[0012]在一些实施方式中，电连接通道有两个
。
[0013]在一些实施方式中，两个电连接通道的弹性件对称设置在插孔的两侧，且两个弹
性件背对设置
。
[0014]在一些实施方式中，两个电连接通道的弹性件在插孔的深度方向上平齐设置，且弹性件的一端相较另一端更加靠近插孔
。
[0015]在一些实施方式中，两个电连接通道的引出线朝向不同方向延伸
。
附图说明
[0016]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制
。
[0017]图1是本申请一些实施例提供的测试插座与半导体器件的配合结构示意图；
[0018]图2是现有技术中的半导体器件的结构示意图；
[0019]图3是本申请一些实施例提供的测试插座中电连接通道与半导体器件的引脚配合时的结构示意图
。
具体实施方式
[0020]为使本申请实施例的目的
、
技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施方式进行详细的阐述
。
然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节
。
但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案
。
以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本申请的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用
。
[0021]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含
。
[0022]在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量
、
特定顺序或主次关系
。
在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定
。
[0023]在本申请实施例的描述中，术语“和
/
或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如
A
和
/
或
B
，可以表示：单独存在
A
，同时存在
A
和
B
，单独存在
B
这三种情况
。
另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系
。
[0024]在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系
。
对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义
。
[0025]现有用于测试半导体器件的测试插座非常简易，虽然能够实现半导体器件的批量测试，但是测试插座内部未针对不同信号设计独立信号通道
。
在测试普通的半导体器件时，可以满足正常使用，但是针对一些可控器件，由于信号之间会相互影响，因此会导致测试结
果异常
。
例如，
TO
插件封装的半导体器件的测试插座大多数为弹簧片结构，在进行测试时，半导体器件的引脚通过弹簧片固定住，并通过弹簧片压接完成电气接触
。
这种结构简单容易实现，但是缺点是当半导体器件是可控器件时，弹簧片需要同时走控制信号通路和功率回路
。
那么，当半导体器件是高速器件时，同时需本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试插座，用于测试半导体器件，所述半导体器件具有多个引脚，其特征在于，所述测试插座包括：壳体，设置有与所述多个引脚一一对应的多个插孔，每个所述插孔用于插入对应的所述引脚；至少部分所述插孔内设置有多个电连接通道，所述多个电连接通道用于在所述引脚插入所述插孔时与该引脚电连接
。2.
根据权利要求1所述的测试插座，其特征在于，每个所述电连接通道包括相连的弹性件与引出线，所述弹性件安装在所述壳体内，并用于在所述引脚插入所述插孔时与所述引脚电接触，所述引出线安装在所述壳体内并用于连接测试电路
。3.
根据权利要求2所述的测试插座，其特征在于，所述弹性件呈片状设置
。4.
根据权利要求2所述的测试插座，其特征在于，所述弹性件设置成弧形
。5.
根据权利要求4所述的测试插座，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：王彬，
申请(专利权)人：深圳尚阳通科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：