【技术实现步骤摘要】
一种误码测试方法和装置
[0001]本专利技术涉及通信
,更具体地说,本专利技术涉及一种误码测试方法和装置
。
技术介绍
[0002]随着数据中心业务发展
、400G、800G
光模块呈现爆炸式增长的态势
。400G、800G
光模块功能复杂,速率高
、
设计和制造可靠性风险较大
、
需在生产
FT
和老化
&
温循等环节进行拦截;同时模块发货量大,需要降低生产测试的成本
。
[0003]一种误码测试方法和装置,通过对光模块的温度测试,评估光模块在高温环境下的性能和可靠性,满足光模块大容量
、
低成本
、
高可靠测试需求
。
技术实现思路
[0004]本专利技术针对现有技术中存在的技术问题,提供一种误码测试方法和装置,根据负荷需求和供电能力,通过对光模块的温度测试,评估光模块在高温环境下的性能和可靠性,以解决上述
技术介绍
中提出的问题
。
[0005]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种误码测试方法和装置,具体包括以下步骤:步骤
101、
使用模块测试仪接收待测试模块发送的数据,将其存储到内部存储器中;步骤
102、
将模块测试仪与待测模块高密串接
MCB
,实现对电路的保护;步骤
103、
采用蛇形串接方法,精准定位故障待测模块;步骤
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种误码测试方法,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤
101、
使用模块测试仪接收待测试模块发送的数据,将其存储到内部存储器中;步骤
102、
将模块测试仪与待测模块高密串接
MCB
,实现对电路的保护;步骤
103、
采用蛇形串接方法,精准定位故障待测模块;步骤
104、
将高密串接
MCB
和模块测试仪采用高速电缆连接,实现对传输速率的提高;步骤
105、
通过对光模块的温度测试,评估光模块在高温环境下的性能和可靠性
。2.
根据权利要求1所述的一种误码测试方法,其特征在于:所述步骤
101
中,根据模块测试仪提供多通道的
PRBS
发生器和检测器,直接连接
M
个待测试模块进行测试,通过对接收到的数据进行误码统计,计算比特错误率和符号错误率性能指标,具体步骤如下:步骤
A1、
计算比特错误率,在设置的传输数据量内,从待测试模块接收数据,具体计算公式如下:;其中,
BER
表示比特错误率,
E
为错误数,
N
为传输数据量,
R
为数据传输速率;步骤
A2、
计算符号错误率:在设置的传输数据量内,从待测试模块接收数据,并与已知参考信号进行比较,统计出现的错误数,具体计算公式如下:;其中,
SER
表示符号错误率,
E
为错误数,
N
为传输数据量收集与分布式能源系统相关的数据,监测分布式能源节点的实时运行状况和性能
。3.
根据权利要求1所述的一种误码测试方法,其特征在于,所述步骤
102
中,通过模块测试仪与待测模块高密串接
MCB
,扩展系统容量的同时保护电路免受过载和短路故障的影响,在高密串接
MCB
的环境中,通过计算总功率需求
、
环路电流以及
MCB
的额定断路能力,实现对电路的保护,具体步骤如下
:
步骤
1、
总功率需求:根据待测模块数量和每个模块的功率值,计算出总功率需求,确定需要扩展的系统容量,具体计算公式如下:;其中,
W
表示总功率需求,
N
表示系统中待测模块的数量,
P
表示每个待测模块的功率;步骤
2、
环路电流的计算:在高密串接
MCB
的环境中,计算环路电流,确保电路在安全范围内,环路电流的计算公式如下所示:;其中,表示所有连接在电路上的设备功率之和,表示环路电流,
P
表示每个电气设备功率,
V
表示电路的工作电压:步骤
3、MCB
的额定断路能力:通过计算
MCB
能够承受的故障电流大小,实现对电路的保护,具体计算公式如下:;
其中,表示每个电气设备额定电流,
K
表示安全系数,
MCB
额定断路能力表示
MCB
能够承受的故障电流大小
。4.
根据权利要求1所述的一种误码测试方法,其特征在于,所述步骤
...
【专利技术属性】
技术研发人员:李红日,
申请(专利权)人:江苏信而泰智能装备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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