【技术实现步骤摘要】
老化测试插座
[0001]本专利技术涉及芯片测试治具
,尤其是指一种老化测试插座
。
技术介绍
[0002]老化测试作为芯片信赖性测试的一项,其用于芯片寿命和长期上电运行的可靠性评估,是芯片电路可靠性的一项关键的基础测试,老化测试将芯片老化炉内的插座并通电运行,监测芯片的运行状况和数据
。
[0003]进行老化测试时,芯片的测试温度主要受老化炉环境温度
、
老化炉内风扇风速
、
芯片自身功耗
、
测试插座加热棒功率以及测试插座的散热效率等因素的影响
。
其中,现有的老化测试进行时,老化炉环境温度
、
老化炉内风扇风速
、
芯片自身功耗
、
测试插座加热棒功率可进行定量调节,而测试插座的散热效率不可控,具体原因为:
[0004]1、
现有的测试插座在芯片测试过程中,翻盖式测试插座的测试区域侧边连通,风扇的风由测试插座的侧面吹向测试区域,容易对测试区域内的芯片温度造成影响,导致测试温度不满足测试要求
。
[0005]2、
现有的测试插座采用全金属材料制作,由于金属材料的热传导效率过高,使得测试插座不仅仅从散热鳍片处散热,从而其散热效率无法进行定量计算
。
技术实现思路
[0006]为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种老化测试插座
。
[0007]一种老化测试插座,用于固定于
PCB
...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种老化测试插座,其特征在于,用于固定于
PCB
板上进行老化测试,包括:测试座,所述测试座内设置有用于承载待测试芯片的腔室;散热模块,所述散热模块内嵌于所述测试盖内,其下表面在所述测试盖闭合时与所述待测试芯片接触,上表面为若干散热鳍片;测试盖,所述测试盖为一中空的框架,该测试盖的一端转动连接于所述测试座的一端,所述测试盖包括隔热片,所述隔热片为工程塑料材质,该隔热片中心设置有一通孔,所述散热模块嵌套于所述通孔内;侧风挡块,所述侧风挡块设置于所述测试座上,位于所述测试座与所述测试盖连接端相邻的两侧;所述侧风挡块高度等于所述测试盖与所述测试座闭合时的间隙高度,且所述侧风挡块上下表面分别与所述测试盖边框
、
所述测试座边缘接触,所述侧风挡块为工程塑料;底板,所述底板设置于所述测试座与所述
PCB
板之间,所述底板上设置有与所述探针固定组件相对应的探针孔;所述底板材质为工程塑料;其中,所述测试盖与所述测试座闭合时,所述侧风挡块能够抵挡由所述侧风挡块所在侧吹向所述待测试芯片所在腔室的风
。2.
根据权利要求1所述的老化测试插座,其特征在于,所述侧风挡块为浮动结构
。3.
根据权利要求2所述的老化测试插座,其特征在于,所述侧风挡块上设置有至少两个通孔,所述侧风挡块与所述测试座通过一穿过该通孔的第二螺钉连接;所述第二螺钉杆部露出所述测试座部分的高度大于所述侧风挡块的高度,且所述第二螺钉杆部套设有一弹簧,所述弹簧上端与所述侧风挡块下端抵接,所述弹簧下端与所述测试座抵接;其中,所述侧...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈伟,金永斌,王强,贺涛,丁宁,朱伟,戴娟,王传刚,
申请(专利权)人:法特迪精密科技苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:
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