一种数字发声芯片的测试系统和测试方法技术方案

本发明专利技术公开一种数字发声芯片的测试系统和测试方法，涉及电路测试技术领域，以解决现有扬声器测试方法无法进行数字发声芯片测试的问题

【技术实现步骤摘要】
一种数字发声芯片的测试系统和测试方法


[0001]本专利技术涉及电路测试
，尤其涉及一种数字发声芯片的测试系统和测试方法
。

技术介绍

[0002]数字发声芯片是由
N
个像素单元构成的阵列发声器件，与传统扬声器模拟发声原理不同，其发声采用数字声音重构的方式实现，在构成的单个像素扬声器设计中，其很多设计原理与传统扬声器不同，因此现有技术如传统动圈铁圈等扬声器测试方案显然不适用于数字发声芯片；另外虽然数字发声芯片跟其它硅芯片的设计一样，本质上是通过典型光刻
、
刻蚀等工艺制造的单芯片，在硅晶圆上构建整个扬声器，但由于其像素单元内部及像素单元之间特殊的连接结构，现有芯片级的测试电路也不适用
。
[0003]因此，亟需一种数字发声芯片的测试系统和测试方法
。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种数字发声芯片的测试系统和测试方法，用于解决现有测试系统无法对数字发声芯片内部电路进行测试的问题
。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一方面，本专利技术提供一种数字发声芯片的测试系统，包括：电性能检测电路以及接触检测电路；所述电性能检测电路包括控制器
、
多个开关电路以及采样电路；所述接触检测电路与控制器相连；每个所述开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，所述开关电路的另一侧与控制器相连；所述采样电路与所述控制器相连；所述接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统接触是否良好；所述控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道，所述采样电路用于采集测试系统的电流数据并将所述电流数据发送给控制器；所述控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测
。
[0006]与现有技术相比，本专利技术提供的数字发声芯片的测试系统包括：电性能检测电路以及接触检测电路；电性能检测电路包括控制器
、
多个开关电路以及采样电路；接触检测电路与控制器相连；每个开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，开关电路的另一侧与控制器相连；采样电路与控制器相连；接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统接触是否良好，可以确保待检测数字发声芯片各管脚与测试系统进行了良好的电连接；控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道工作，可以实现数字发声芯片单一通道的单独检测，采样电路用于采集测试系统的电流数据并将电流数据发送给控制器；本专利技术的电性能检测电路可以实现数字发声芯片内部电路中各通道的检测，通过检测结果可以精准定位异
常位置，有效判断数字发声芯片内部电性能与工艺的优劣，从而提高数字发声芯片的工艺水平以及产品质量
。
[0007]另一方面，本专利技术还提供一种数字发声芯片的测试方法，所述数字发声芯片的测试方法应用于上述数字发声芯片的测试系统，方法包括：控制器控制接触检测电路对测试系统和待检测数字发声芯片之间的接触性能进行检测；将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道；控制采样电路采集测试系统中的电流数据，并将电流数据发送给所述控制器；所述控制器根据电流数据判断当前通道是否异常；完成待检测数字发声芯片所有通道的检测，得到异常通道
。
[0008]与现有技术相比，本专利技术提供的数字发声芯片的测试方法的有益效果与上述技术方案所述数字发声芯片的测试系统的有益效果相同，此处不做赘述
。
附图说明
[0009]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定
。
在附图中：图1为本专利技术提供的数字发声芯片像素单元阵列结构示意图；图2为本专利技术提供的一种数字发声芯片的测试系统结构示意图；图3为本专利技术提供的接触检测电路结构示意图；图4为本专利技术提供的电性能检测电路结构示意图；图5为本专利技术提供的音频检测模块结构示意图；图6为本专利技术提供的一种数字发声芯片的测试方法流程图
。
[0010]附图标记：1‑
接触检测电路，
11
‑
开关，
12
‑
指示灯，
13
‑
第一限流器件，
14
‑
稳压电路，
15
‑
保护器件，2‑
电性能检测电路，
21
‑
控制器，
22
‑
开关电路，
23
‑
采样电路，
231
‑
采样器件，
232
‑
ADC
转换器，
24
‑
信号转换器，
25
‑
第二限流器件，
26
‑
电源，3‑
音频检测模块，
31
‑
音频信号处理模块，
32
‑
驱动模块，
33
‑
音质判断模块，4‑
转接卡，5‑
数字发声芯片
。
具体实施方式
[0011]为了便于清楚描述本专利技术实施例的技术方案，在本专利技术的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分
。
例如，第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值，并不对其先后顺序进行限定
。
本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同
。
[0012]需要说明的是，本专利技术中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子
、
例证或说明
。
本专利技术中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势
。
确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念
。
[0013]本专利技术中，“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上
。“和
/
或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，
A
和
/
或
B
，可以表示：单独存在
A
，同时存在
A
和
B
，单独存在
B
的情况，其中
A
，
B
可以是单数或者复数
。
字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系
。“以下至少一项（个）”或其类似表达，是指的这些项中的任意组合，包括单项（个）或复数项（个）的任意组合
。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种数字发声芯片的测试系统，其特征在于，包括：电性能检测电路以及接触检测电路；所述电性能检测电路包括控制器
、
多个开关电路以及采样电路；所述接触检测电路与控制器相连；每个所述开关电路的一侧与待检测数字发声芯片的一个引脚相连，所述开关电路的另一侧与控制器相连；所述采样电路与所述控制器相连；所述接触检测电路用于检测待检测数字发声芯片与测试系统的连接是否良好；所述控制器用于将驱动单一通道的检测信号发送给开关电路，以使对应的开关电路控制待检测数字发声芯片的对应通道，所述采样电路用于采集测试系统的电流数据并将所述电流数据发送给控制器；所述控制器用于完成待检测数字发声芯片各通道的检测
。2.
根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括电源，所述电源包括高压档
、
低压档以及零电位；所述电源与所述开关电路相连，所述控制器用于控制所述开关电路接入电源的档位
。3.
根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括转接卡；所述待检测数字发声芯片和所述转接卡通过排针或飞线的方式电连接，所述转接卡上包括与所述待检测数字发声芯片一一对应的引脚；所述接触检测电路与所述转接卡的首尾两个引脚相连；所述接触检测电路包括开关
、
指示灯
、
第一限流器件
、
稳压电路以及保护器件；所述开关的一端连接所述转接卡的引脚，所述开关的另一端连接所述第一限流器件的一端，所述第一限流器件的另一端连接所述稳压电路的一端，所述稳压电路的另一端连接所述保护器件的一端，所述保护器件的另一端连接所述控制器，所述指示灯的一端连接开关，所述指示灯的另一端接地
。4.
根据权利要求2所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述电性能检测电路还包括信号转换器和第二限流器件，所述第二限流器件的一端连接待检测数字发声芯片的一个引脚，所述第二限流器件的另一端连接所述开关电路的第一端，所述开关电路的第二端连接信号转换器的一端，所述信号转换器的另一端连接控制器，所述开关电路的第三端连接所述电源；所述信号转换器用于将所述控制器发送的检测信号转换成开关电路可识别的信号并将信号发送给所述开关电路
。5.
根据权利要求1所述数字发声芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括音频检测模块，所述音频检测模块包括音频信号处理模块
、
驱动模块以及音质判断模块，所述音频信号处理模块用于对数字音频信号进行处理得到目标音频数据，并将所述目标音频数据发送给所述驱动模块，所述驱动模块将所述目标音频数据发送给所述待检测数字发声芯片以驱动所述待检测数字发声芯片发出声音，音质判断模块根据所述声音确定所述待检测数字发声芯片发声是否正常
。6...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘长华，乔文利，袁飞洋，
申请(专利权)人：地球山苏州微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：