一种芯片测试程序自动导入及对比系统技术方案

本发明专利技术提供一种芯片测试程序自动导入及对比系统，包括测试设备；设备控制装置与文件控制装置通讯根据测试设备内产品的需求请求测试程序文件，设备控制装置接收返回测试文件路径后自动下载测试文件驱动测试设备进行测试；生产系统及数据库接收来自设备控制装置的请求在存储装置中匹配产品的测试文件路径及文件信息；设备控制装置通过外接的存储装置内核用于通知用户空间程序文件系统变化；测试程序更新迭代完成新测试程序后上传至临时存储装置；测试程序审批系统对更新迭代更新后的测试程序进行审批及版本管控

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试程序自动导入及对比系统


[0001]本专利技术涉及半导体设备通讯领域，尤其是涉及数据传输
，具体为一种芯片测试程序自动导入及对比系统
。

技术介绍

[0002]目前，常用的技术是通过
FTP
文件传输协议导入半导体芯片测试程序到设备，在半导体芯片测试工程，测试程序控制
T/C、T/H
等测试中温度
、
湿度
、
循环次数等测试条件的程序是产品质量和可靠性的关键，属于芯片制造中的核心技术
。
测试程序的复杂性及更新迭代使得程序准确导入设备
、
匹配及验证比对设备中的产品和外部测试程序的正确性非常困难
。
[0003]现有技术中测试程序一般由个人或公共空间管理，无法满足测试程序在产品多样性条件下的版本管理及存储，具体的包括以下几个方面：
[0004](1)
设备无法与生产系统通讯，无法与现有生产系统进行在制品数据比对校验；通
[0005](2)
过人工或简单脚本程序无法远程控制设备进行测试程序导入，存在人为失误及错用；
[0006](3)
半导体芯片测试工程设备新旧及型号参差不齐，原有设备要进行改造及功能实现费用极高；
[0007](4)
设备
、
存储
、
服务器等不同环境下的异构系统无法互联，设备与生产系统不能交互导致测试程序无法校验对比及自动下载和执行
。

技术实现思路

[0008]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种芯片测试程序自动导入及对比系统，用于解决现有技术的难点
。
[0009]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种芯片测试程序自动导入及对比系统，包括：
[0010]测试设备1；
[0011]设备控制装置2，所述设备控制装置2的一端与文件控制装置3通讯根据测试设备1内产品的需求请求测试程序文件，所述设备控制装置2接收返回测试文件路径后自动下载测试文件驱动测试设备1进行测试；
[0012]生产系统及数据库4，所述生产系统及数据库4接收来自设备控制装置2的请求在存储装置5中匹配产品的测试文件路径及文件信息；
[0013]存储装置5，设备控制装置2通过外接的存储装置5内核用于通知用户空间程序文件系统变化；
[0014]测试程序更新迭代6，所述测试程序更新迭代6完成新测试程序后上传至临时存储装置9；
[0015]测试程序审批系统7，所述测试程序审批系统7对测试程序更新迭代6更新后的测
试程序进行文件审批及版本管控
。
[0016]根据优选方案，设备控制装置2自动下载测试文件通过
x86
服务器搭建
Web
服务以及
FTP、XML
等多种企业级技术
。
[0017]根据优选方案，存储装置5内置
inotify
及自动复制脚本
、rsync
文件复制工具
。
[0018]根据优选方案，还包括文件对比装置8，所述文件对比装置8对临时存储装置9中的文件进行版本比对后自动复制到存储装置5中进行保存
。
[0019]根据优选方案，测试程序更新迭代6完成新测试程序后上传至临时存储装置9中
。
[0020]根据优选方案，存储装置5通过多台
Unix
服务器构建测试设备核心程序的外部存储装置
。
[0021]根据优选方案，文件控制装置3通过消息中间件实时通讯技术及采用半导体设备标准通信协议
SECS
向生产系统及数据库4请求测试程序在存储装置5中的匹配产品的测试文件路径及文件信息
。
[0022]根据优选方案，文件对比装置8中采用实时测试程序版本对比及复制备份
。
[0023]根据优选方案，文件对比装置8中具体的是采用
EAI、FTP
及文件解析等技术实现装置中测试程序迭代更新后自动校验并导入设备
。
[0024]根据优选方案，设备控制装置2与多台测试设备1连接通讯
。
[0025]本专利技术采用测试设备
1、
设备控制装置
2、
文件控制装置
3、
生产系统及数据库
4、
存储装置
5、
测试程序更新迭代
6、
测试程序审批系统
7、
文件对比装置
8、
临时存储装置9，通过设备读取并导入测试程序的外部设备装置，实现对测试程序校验比对，下载和执行；达到了以下有益效果：
[0026](1)
实现各工程不同产品及其测试程序的分布式管理及自动导入；
[0027](2)
实现测试程序自动迭代更新管理；
[0028](3)
实现测试程序设置异常管控和测试设备自动校验对比和下载
,
最终实现设备自动导入准确无误的测试程序；
[0029](4)
减少设置测试程序的人为失误，减少对生产核心设备的变更，提高生产作业效率，有效提高测试工程的有效性和产品的质量
。
[0030]下文中将结合附图对实施本专利技术的最优实施例进行更详尽的描述，以便能容易地理解本专利技术的特征和优点
。
附图说明
[0031]图1显示为本专利技术的结构示意图；
[0032]标号说明
[0033]1、
测试设备；
2、
设备控制装置；
3、
文件控制装置；
4、
生产系统及数据库；
5、
存储装置；
6、
测试程序更新迭代；
7、
测试程序审批系统；
8、
文件对比装置；
9、
临时存储装置
。
具体实施方式
[0034]为了使得本专利技术的技术方案的目的
、
技术方案和优点更加清楚，下文中将结合本专利技术具体实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚
、
完整的描述
。
附图中相同的附图标记代表相同的部件
。
需要说明的是，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不
是全部的实施例
。
基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围
。
[0035]与附图所展示的实施例相比，本专利技术保护范围内的可行实施方案可以具有更少的部件
、
具有附图未展示的其他部件
、
不同的部件
、
不同地布置的部件或不同连接的部件等
。
此外，附图中两个或更多个部件可以在单个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种芯片测试程序自动导入及对比系统，其特征在于，包括：测试设备
(1)
；设备控制装置
(2)
，所述设备控制装置
(2)
的一端与文件控制装置
(3)
通讯根据测试设备
(1)
内产品的需求请求测试程序文件，所述设备控制装置
(2)
接收返回测试文件路径后自动下载测试文件驱动测试设备
(1)
进行测试；生产系统及数据库
(4)
，所述生产系统及数据库
(4)
接收来自设备控制装置
(2)
的请求在存储装置
(5)
中匹配产品的测试文件路径及文件信息；存储装置
(5)
，设备控制装置
(2)
通过外接的存储装置
(5)
内核用于通知用户空间程序文件系统变化；测试程序更新迭代
(6)
，所述测试程序更新迭代
(6)
完成新测试程序后上传至临时存储装置
(9)
；测试程序审批系统
(7)
，所述测试程序审批系统
(7)
对测试程序更新迭代
(6)
更新后的测试程序进行文件审批及版本管控
。2.
根据权利要求1所述的芯片测试程序自动导入及对比系统，其特征在于，还包括文件对比装置
(8)
...

【专利技术属性】
技术研发人员：金峰，
申请(专利权)人：海太半导体无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：