一种测试设备性能的方法与系统技术方案

本发明专利技术提供了一种测试设备性能的方法与系统，属于测试技术领域，包括：获取用于描述测试数据的

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备性能的方法与系统


[0001]本专利技术属于测试
，具体涉及一种测试设备性能的方法与系统
。

技术介绍

[0002]对于测试仪器
、
设备或系统的性能测试，能够有助于确保产品质量
、
提升用户体验以及减少潜在的风险
。
传统的性能测试方法为人工测试，测试员通过手动操作设备，观察和记录其行为
。
这种方法对于小批量或个别测试可以很有效，但在大规模和复杂的测试中效率较低
。
因此需要利用计算机对测试仪器
、
设备或系统进行自动测试
。
[0003]自动测试系统是一种用于自动执行软件或硬件测试的计算机系统
。
它的主要目的是通过自动化执行测试用例，检测程序或系统的功能
、
性能
、
稳定性以及其他方面的问题，以确保软件或硬件在交付给用户之前具有高质量和可靠性
。
[0004]目前的自动测试系统均为专用测试任务特殊研制，不同测试系统间存在难以交互信息，通用性和兼容性差的问题
。

技术实现思路

[0005]为了克服上述现有技术存在的不足，本专利技术提供了一种测试设备性能的方法
。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0007]一种测试设备性能的方法，包括：
[0008]获取用于描述测试数据的
ATML
文件，提取
ATML<br/>文件中的信号参数组集合
、
被测对象端口组集合
、
信号方向
、
路径映射组
、
测试仪器能力集合；
[0009]根据测试信号的信号类型
、
信号方向
、
信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口
,
将测试仪器的资源端口映射到物理端口；在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；存储测试仪器匹配结果和建立的路径搜索结果；
[0010]在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器匹配
、
路径搜索的结果，控制测试系统对设备进行测试
。
[0011]进一步，所述
ATML
文件包括：测试描述文件
TD、
测试站文件
TS、
适配器文件
TA、WireList
文件
、
测试仪器描述文件
TI、
被测对象文件
UUT。
[0012]进一步，所述信号参数组集合的结构为：
[0013]P1
＝
SignalType
：
[(Attribute1:value1)
，
(Attribute2:value2)
……
][0014]其中，
SignalType
为信号类型，
Attribute
为信号属性，
value
为信号属性对应的值；
[0015]所述被测对象端口组集合的结构为：
[0016]P2
＝
ConnectType
：
[(PortType1:port1)
，
(PortType2:port2)
……
][0017]其中，
ConnectType
为连接类型，
PortType
为端口类型，
port
为端口名称；
[0018]所述测试信号方向的结构为：
[0019]P3
＝
SignalDirection∈[Source
，
Sensor][0020]其中，
Sensor
为收方向，
Source
为发方向
。
[0021]进一步，所述路径映射组包括：
[0022][0023]MapTsTi、MapTaTs、MapUutTa、MapCapability、MapResources、MapTsTs、MapUutTs
分别为
TS
到
TI、TA
到
TS、UUT
到
TA、TI
能力端口到
TI
资源端口
、TI
资源端口到
TI
物理端口
、TS
到
TS、UUT
到
TS
的接线映射
。
[0024]进一步，所述根据测试信号的信号类型
、
信号方向
、
信号属性为测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；包括：
[0025]检查
SignalType
是否匹配；
[0026]检测
SignalDirection
是否匹配，若匹配则遍历检查
Attribute
全称是否能够完全匹配；
[0027]检查
value
是否满足要求，若满足则加入已匹配能力集合
。
[0028]进一步，所述在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索，包括：
[0029]查找
MapTsTi
得到测试仪器描述文件
TI
到测试站文件
TS
的接线关系；
[0030]查找
MapTaTs
得到测试站文件
TS
到适配器文件
TA
的接线关系；
[0031]查找
MapUutTa
得到
TA
到被测对象文件
UUT
的接线关系
。
[0032]进一步，还包括：针对每一个测试仪器驱动，根据
ATML
要求和
Ctypes
映射规则，将驱动封装为模板；
[0033]根据测试站和测试仪器的
UUID
对生成的所有测试仪器驱动建立本地索引，将信号和端口作为实参传入驱动方法调用驱动
。
[0034]进一步，还包括：如果物理端口没有直连到被测对象端口，利用矩阵开关分配算法为物理端口与被测对象端口匹配矩阵开关路径
。
[0035]一种测试设备性能的系统，其特征在于，包括：
[0036]文件解析模块，用于获取用于描述测试数据的
ATML
文件，提取
ATML
文件中的信号
参数组集合
、
被测对象端口组集合
、
信号方向
、
路径映射组
、
测试仪器能力集合；
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种测试设备性能的方法，其特征在于，包括：获取用于描述测试数据的
ATML
文件，提取
ATML
文件中的信号参数组集合
、
被测对象端口组集合
、
信号方向
、
路径映射组
、
测试仪器能力集合；根据信号类型
、
信号方向
、
信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力；利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口
,
将测试仪器的资源端口映射到物理端口，在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索；在测试设备时，利用计算机调用存储的测试仪器能力匹配
、
路径搜索的结果，控制测试系统对设备进行测试
。2.
根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述
ATML
文件包括：测试描述文件
TD、
测试站文件
TS、
适配器文件
TA、WireList
文件
、
测试仪器描述文件
TI、
被测对象文件
UUT。3.
根据权利要求1所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述信号参数组集合的结构为：
P1
＝
SignalType
：
[(Attribute1:value1)
，
(Attribute2:value2)
……
]
其中，
SignalType
为信号类型，
Attribute
为信号属性，
value
为信号属性对应的值；所述被测对象端口组集合的结构为：
P2
＝
ConnectType
：
[(PortType1:port1)
，
(PortType2:port2)
……
]
其中，
ConnectType
为连接类型，
PortType
为端口类型，
port
为端口名称；所述测试信号方向的结构为：
P3
＝
SignalDirection∈[Source
，
Sensor]
其中，
Sensor
为收方向，
Source
为发方向
。4.
根据权利要求2所述的一种测试设备性能的方法，其特征在于，所述路径映射组包括：
MapTsTi、MapTaTs、MapUutTa、MapCapability、MapResources、MapTsTs、MapUutTs
分别
为
TS
到
TI、TA
到
TS、UUT
到
TA...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨小辉，贾枫，李士林，姜永鹏，张桂英，许萌，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：