【技术实现步骤摘要】
多应力加速试验分析方法、电子设备和可读存储介质
[0001]本申请涉及设备可靠性分析领域,特别是涉及一种多应力加速试验分析方法
、
电子设备和可读存储介质
。
技术介绍
[0002]可靠性是产品在规定条件和规定时间完成规定功能的能力,我们一般采用平均故障间隔时间和使用寿命来衡量其可靠性水平高低
。
针对可靠性水平较高
、
使用寿命较长的设备,需要严格按照军用标准
GJB899A
开展充分的可靠性专项试验,但该试验的时间较长,且成本较高
。
为了寻找有效的可靠性加速寿命试验方案,使得指导工程人员在较短的试验时间内可以充分科学地考核被试设备的可靠性水平,一直是相关技术研发人员的研究方向
。
而对于研发人员来说,如何设计可靠性加速寿命试验方案,研究方向之一就是确定加速因子以及预测器件在某种应力水平下的寿命
。
[0003]目前,在可靠性加速寿命试验方案中,由于受试设备的元器件种类较多,因此对于不同的元器件来说其对应的激活能以及适用的加速因子参量是不同的
。
在单应力的加速寿命试验分析中,采用物理经验模型即可准确地计算出加速因子并推算出寿命,但在多应力水平作用下,由于多应力水平在加速寿命试验存在耦合作用,因此无法基于以上物理经验模型进行准确分析
。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种多应力加速试验分析方法
、
电子设备和可读存储介质,以至 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种多应力加速试验分析方法,其特征在于,包括:获取样品器件在多应力进行的寿命加速试验下得到的失效时间,根据所述失效时间计算得到所述样品器件在不同应力条件下的期望寿命值;获取可靠性指标,根据所述可靠性指标和所述期望寿命值得到所述样品器件在多应力无耦合作用下的第一预测寿命值;根据所述期望寿命值构建第一灰色预测模型,通过所述第一灰色预测模型预测得到所述样品器件在多应力有耦合作用下的第二预测寿命值;根据所述第一预测寿命值和所述第二预测寿命值构建第二灰色预测模型,根据所述第二灰色预测模型计算所述样品器件的最终寿命预测值
。2.
根据权利要求1所述的多应力加速试验分析方法,其特征在于,所述根据所述失效时间计算得到所述样品器件在不同应力下的期望寿命值,包括:对所述失效时间的数据分布情况进行分析,根据分析结果选取两个以上的分布类型;计算所述失效时间在不同分布类型下的皮尔森相关系数,并将最大的皮尔森相关系数对应的分布类型作为最优分布;根据所述最优分布的期望公式和所述失效时间计算所述期望寿命值
。3.
根据权利要求1所述的多应力加速试验分析方法,其特征在于,所述根据所述可靠性指标和所述期望寿命值得到所述样品器件在多应力无耦合作用下的第一预测寿命值,包括:对所述可靠性指标进行计算,得到与所述可靠性指标对应的物理经验模型的第一加速因子;对所述第一加速因子进行分析,得到多应力在无交互作用下的第二加速因子;对所述第二加速因子和所述期望寿命值进行计算,得到所述第一预测寿命值
。4.
根据权利要求1所述的多应力加速试验分析方法,其特征在于,所述根据所述期望寿命值构建第一灰色预测模型包括:将同一应力变量的期望寿命值作为一组,并对所述期望寿命值按照该应力变量从小到大的顺序进行排序,得到序列数据集;对所述序列数据集中的期望寿命值进行级比检验,若任一期望寿命值不在第一预设区间内,则根据第一预设常数增大所述序列数据集中的每一期望寿命值,直至每一期望寿命值在所述第一预设区间内;根据级比检验后的序列数据集生成第一累加序列;获取预设的第一灰色微分方程,通过所述第一累加序列和所述第一灰色微分方程得到所述第一灰色预测模型
。5.
根据权利要求1所述的多应力加速试验分析方法,其特征在于,所述根据所述第一预测寿...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡世松,黄厚超,方作宾,方小阳,陈鹏,柴俊标,卜建明,贺庭玉,廖剑,余亮,卜予城,
申请(专利权)人:杭州中安电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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