基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法技术

本发明专利技术提供一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法

【技术实现步骤摘要】
基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法、装置及其设备


[0001]本专利技术涉及屏幕检测领域，具体而言，涉及一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法
、
装置及其设备
。

技术介绍

[0002]在自动光学检测设备进行显示屏画面缺陷检测的过程中，针对渐变画面常使用检测方法为：计算出相邻像素的灰度差，并计算统计得到合适的灰度差阈值；然后逐一判断，将非灰度差阈值范围外的像素判定为缺陷像素
。
但是由于如
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灰阶渐变画面等灰阶渐变的图像，其像素和像素之间为渐变过渡的灰度差阈值非常小，使用常规的灰度差阈值判定方式会出现漏检
、
误检的现象
。
且渐变画面缺陷的形状各异
、
灰度深浅不一
、
位置随机，使用常规的灰度差阈值判定方式会增加图像的判定频次，导致检测效率低下
。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法
、
装置及其设备，其能够针对上述渐变画面进行快速准确的缺陷检测提取
。
[0004]具体的，本专利技术包括以下内容：
[0005]第一方面，提供一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法，屏幕渐变缺陷检测方法包括如下步骤：
[0006]获取待检测灰阶渐变图像；
[0007]通过二阶曲面算法计算灰阶渐变图像的灰度值矩值和灰度值近似值参数；
[0008]根据灰度值矩值和灰度值近似值参数拟合生成无暇渐变图像；
[0009]将无暇渐变图像和灰阶渐变图像作差，得到差影图像；
[0010]将差影图像进行阈值分割，获得暗区域不良图像，提取暗区域不良图像中的缺陷并标记显示
。
[0011]作为优选的技术方案，上述获取具有暗化不良缺陷的灰阶渐变图像的步骤包括：
[0012]点亮显示屏，获取灰度值大于
150
灰阶的显示屏图像；
[0013]使用图像分割方法获取显示屏图像的
AA
区；
[0014]将显示屏切换为灰阶渐变画面，获取
AA
区范围内的图像作为灰阶渐变图像
。
[0015]作为优选的技术方案，上述二阶曲面算法为：
[0016]Image(r
，
c)
＝
Alpha(r
‑
r
center
)2+Beta(c
‑
c
center
)2+Gamma(r
‑
r
center
)*(c
‑
c
center
)+Delta(r
‑
r
center
)+Epsilon(c
‑
c
center
)+Zeta
[0017]其中，
r
center
和
c
center
为
AA
区和灰阶渐变图像交集的中心坐标；
Alpha
为垂直方向的二阶系数，
Beta
为水平方向的二阶系数，
Garnrna
为混合二阶系数，
Delta
为垂直方向的一阶系数，
Epsilon
为水平方向的一阶系数，
Zeta
为零阶系数
。
[0018]作为优选的技术方案，上述根据灰度值矩值和灰度值近似值参数拟合生成无暇渐变图像的算法包括：
[0019]ImageSurface(r
，
c)
[0020]＝
Alpha(r
‑
Row)2+Beta(c
‑
Column)2[0021]+Gamma(r
‑
Row)*(c
‑
Column)+Delta(r
‑
Row)
[0022]+Epsilon(c
‑
Column)+Zeta
[0023]其中，参数
Row
和
Column
为创建的无暇渐变图像的参考点；
Row
和
Column
包括图像中心坐标
。
[0024]作为优选的技术方案，上述差影图像的获取方法包括将无暇渐变图像和灰阶渐变图像的每个对应像素进行灰度值作差
。
[0025]作为优选的技术方案，上述阈值分割为基于局部均值和方差的阈值分割方法
。
[0026]作为优选的技术方案，上述获取暗区域不良图像的方法包括：
[0027]采用设定大小的掩膜于差影图像内游走；
[0028]将当前图像像素的灰度值和掩膜的灰度均值对比，当图像像素灰度值比对应的掩膜灰度均值低
(StdDevScale,AbsThreshold)
个灰阶时，判定当前图像像素为缺陷像素；
[0029]集合所有缺陷像素并显示，得到暗区域不良图像
。
[0030]作为优选的技术方案，上述提取暗区域不良图像中的缺陷并标记显示包括如下步骤：
[0031]通过像素面积大小
、
形状相似度
、
长度宽度中的一者或多者组合条件筛选出缺陷；
[0032]于差影图像中标记出缺陷；
[0033]将标记点位复刻于灰阶渐变图像，并显示
。
[0034]第二方面，提供一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测装置，该屏幕渐变缺陷检测装置包括：
[0035]图像获取单元，用于获取具有屏幕渐变缺陷的灰阶渐变图像；
[0036]图像拟合单元，用于通过二阶曲面算法计算灰阶渐变图像的灰度值矩值和灰度值近似值参数；根据灰度值矩值和灰度值近似值参数拟合生成无暇渐变图像；
[0037]差影图像生成单元，用于将无暇渐变图像和灰阶渐变图像作差，得到差影图像；
[0038]缺陷检测单元，将差影图像进行阈值分割，获得暗区域不良图像；提取暗区域不良图像中的缺陷并标记，将标记点位于灰阶渐变图像上显示
。
[0039]第三方面，提供一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测设备，该屏幕渐变缺陷检测设备包括：
[0040]至少一个处理器；以及，
[0041]与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0042]存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行第一方面中任一项屏幕渐变缺陷检测方法的步骤
。
[0043]本专利技术实施例的有益效果为：本专利技术使用二阶曲面拟合算法生成一幅与灰阶渐变图像灰度匹配的无暇渐变图像，再将无暇渐变图像和灰阶渐变图像作差，获得差影图像；通过对差影图像进行暗区域不良提取，对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待检测灰阶渐变图像；通过二阶曲面算法计算所述灰阶渐变图像的灰度值矩值和灰度值近似值参数；根据所述灰度值矩值和所述灰度值近似值参数拟合生成无暇渐变图像；将所述无暇渐变图像和所述灰阶渐变图像作差，得到差影图像；将所述差影图像进行阈值分割，获得暗区域不良图像，提取暗区域不良图像中的缺陷并标记显示
。2.
根据权利要求1所述的基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待检测灰阶渐变图像步骤包括：点亮显示屏，获取灰度值大于
150
灰阶的显示屏图像；使用图像分割方法获取所述显示屏图像的
AA
区；将所述显示屏切换为灰阶渐变画面，获取所述
AA
区范围内的图像作为所述灰阶渐变图像
。3.
根据权利要求2所述的基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述二阶曲面算法为：
Image(r,c)
＝
Alpha(r
‑
r
center
)2+Beta(c
‑
c
center
)2+Gamma(r
‑
r
center
)*(c
‑
c
center
)+Delta(r
‑
r
center
)+Epsilon(c
‑
c
center
)+Zeta
其中，
r
center
和
c
center
为
AA
区和所述灰阶渐变图像交集的中心坐标；所述
Alpha
为垂直方向的二阶系数，所述
Beta
为水平方向的二阶系数，
Gamma
为混合二阶系数，所述
Delta
为垂直方向的一阶系数，所述
Epsilon
为水平方向的一阶系数，
Zeta
为零阶系数
。4.
根据权利要求1所述的基于二阶曲面拟合法的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述灰度值矩值和所述灰度值近似值参数拟合生成无暇渐变图像的算法包括：
ImageSurface(r,c)
＝
Alpha(r
‑
Row)2+Beta(c
‑
Column)2+Gamma(r

【专利技术属性】
技术研发人员：蒲大杭，王治玺，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：