本实用新型专利技术公开了一种端子测试工装,包括抵接板,还包括设置在抵接板两侧的卡接组件以及与抵接板滑动连接的下压测试组件,抵接板上竖向设置有通孔,下压测试组件包括弹性组件、可穿过通孔的若干探针、用于固定探针的升降架,弹性组件两端分别与升降架的下端与抵接板的上端相抵,卡接组件包括与抵接板侧壁固定连接的侧板以及两个对称设置在侧板两侧的弹性卡合件,侧板设置有侧向凹槽,弹性卡合件包括一号弹簧、与侧板铰接的带勾卡柱,一号弹簧两端分别与侧向凹槽和带勾卡柱连接,一号弹簧用于驱动带勾卡柱卡柱端子。优点:能够有效的对端子进行固定,保证端子在测试过程中稳定,提高端子的耐压测试效率。高端子的耐压测试效率。高端子的耐压测试效率。
【技术实现步骤摘要】
一种端子测试工装
[0001]本技术涉及端子测试领域,具体为一种端子测试工装。
技术介绍
[0002]在PCB线路板上,通过在PCB板上焊接多P端子与外部端子头配合使得PCB输出电信号,为了确保端子的性能正常,需要对端子进行耐压测试,耐压测试的方法是通过对塑胶外壳内的金属锁合键进行导电测试耐压性能。由于端子的体积较小,利用耐压测试仪接通测试线直接与端子的金属锁合键接触存在端子固定不便的问题。现有的测试方式是设置夹具或工装对端子进行固定后进行测试,现有的测试工装在对端子进行测试时存在对端子的固定不稳定的问题。
[0003]例如公开号为CN216622569U的中国专利,公开了一种接线端子耐压测试用工装,涉及接线端子耐压测试技术的领域,其包括底板,底板上设置有用于连接待测产品上相邻两个接电片的连接件,连接件沿任意方向依次设置有多个,且任意相邻的两个连接件之间至多插入一个接电片。上述的接线端子耐压测试用工装利用底板很难对端子进行有效固定,从而降低了端子的测试效率。
[0004]鉴于此,有必要提供一种端子测试工装。
技术实现思路
[0005]本技术提供的一种端子测试工装,有效的解决了现有端子测试时固定效果不佳、测试效率低的问题。
[0006]本技术所采用的技术方案是:一种端子测试工装,包括抵接板,还包括设置在所述抵接板两侧的卡接组件以及与抵接板滑动连接的下压测试组件,所述抵接板上竖向设置有通孔,所述下压测试组件包括弹性组件、可穿过通孔的若干探针、用于固定探针的升降架,所述弹性组件两端分别与升降架的下端与抵接板的上端相抵,所述卡接组件包括与抵接板侧壁固定连接的侧板以及两个对称设置在侧板两侧的弹性卡合件,所述侧板设置有侧向凹槽,所述弹性卡合件包括一号弹簧、与侧板铰接的带勾卡柱,所述一号弹簧两端分别与侧向凹槽和带勾卡柱连接,所述一号弹簧用于驱动带勾卡柱卡柱端子。
[0007]进一步的是:所述升降架包括位于抵接板上方的一号板、设置在一号板上的若干直线轴承、套设在一号轴承上的导柱,所述导柱下端与抵接板固定连接,所述探针设置在一号板上,所述弹性组件的两端分别与一号板和抵接板相抵。
[0008]进一步的是:所述升降架还包括两个对称设置在一号板两侧的侧向卡合件,所述侧向卡合件包括与一号板侧壁固定连接的连接件、固定设置在连接件上的连接柱、与连接柱铰接的卡板,所述侧板位于在卡板内侧,所述卡板下端设置有可与侧板下端相抵的台阶。
[0009]进一步的是:两个所述侧板相背一侧设置有限位件,所述限位件为三边结构,所述限位件与侧板形成保护卡板的竖向槽。
[0010]进一步的是:所述抵接板一侧还设置有限位板,所述限位板位于两个所述卡接组
件之间。
[0011]技术的有益效果:能够有效的对端子进行固定,保证端子在测试过程中稳定,提高端子的耐压测试效率。
附图说明
[0012]图1为本申请的实施例所提供的端子测试工装的整体示意图。
[0013]图2为本申请的实施例所提供的端子测试工装应用时的示意图。
[0014]图3为本申请的实施例所提供的端子测试工装的侧向卡合件以及卡接组件的示意图。
[0015]图4为本申请的实施例所提供的端子测试工装的侧向卡合件以及卡接组件的示意图。
[0016]图中标记为:1、抵接板;2、卡接组件;3、下压测试组件;31、弹性组件;32、探针;33、升降架;21、侧板;22、弹性卡合件;221、一号弹簧;222、带勾卡柱;210、凹槽;331、一号板;332、直线轴承;333、导柱;334、侧向卡合件;3341、连接件;3342、连接柱;3343、卡板;3430、台阶;5、限位件;6、限位板;001、端子。
具体实施方式
[0017]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。
[0018]如图1、图2和图3所示,本申请的实施例所提供的一种端子测试工装,其结构包括抵接板1,还包括设置在所述抵接板1两侧的卡接组件2以及与抵接板1滑动连接的下压测试组件3,所述抵接板1上竖向设置有通孔,所述下压测试组件3包括弹性组件31、可穿过通孔的若干探针32、用于固定探针32的升降架33,所述弹性组件31两端分别与升降架33的下端与抵接板1的上端相抵,所述卡接组件2包括与抵接板1侧壁固定连接的侧板21以及两个对称设置在侧板21两侧的弹性卡合件22,所述侧板21设置有侧向凹槽210,所述弹性卡合件22包括一号弹簧221、与侧板21铰接的带勾卡柱222,所述一号弹簧221两端分别与侧向凹槽210和带勾卡柱222连接,所述一号弹簧221用于驱动带勾卡柱222卡柱端子001。
[0019]实际使用时,手动拨动四个带勾卡柱222,使得每个卡接组件2的两个带勾卡柱222开合,随后抵接板1下端与端子001上端相抵,松开带勾卡柱222使得带勾卡柱222下端与端子001卡接,然后下压测试组件3下移,弹性组件31压缩,使得升降架33带动探针32与端子001的金属锁合键进行耐压测试,测试完毕后升降架33带动探针32上移,使得弹性组件31复位。然后手动拨动四个带勾卡柱222,完成端子001与带勾卡柱222的脱离。
[0020]上述设计中,能够有效的对端子001进行固定,保证端子001在测试过程中稳定,提高端子001的耐压测试效率。
[0021]具体地:如图1和图2所示,所述升降架33包括位于抵接板1上方的一号板331、设置在一号板331上的若干直线轴承332、套设在一号轴承上的导柱333,所述导柱333下端与抵接板1固定连接,所述探针32设置在一号板331上,所述弹性组件31的两端分别与一号板331和抵接板1相抵。
[0022]实际使用时,一号板331升降带动直线轴承332沿导柱333上下滑动,下压过程中使
得弹性组件31收缩,同时带动探针32穿过通孔与端子001的金属锁合键接触。
[0023]上述设计中,升降架33的结构设计能够有效的完成对探针32的驱动。
[0024]具体地:如图1、图3和图4所示,所述升降架33还包括两个对称设置在一号板331两侧的侧向卡合件334,所述侧向卡合件334包括与一号板331侧壁固定连接的连接件3341、固定设置在连接件3341上的连接柱3342、与连接柱3342铰接的卡板3343,所述侧板21位于在卡板3343内侧,所述卡板3343下端设置有可与侧板21下端相抵的台阶3430。
[0025]实际使用时,当抵接板1与端子001接触前,拨动卡板3343,使得卡板3343绕连接柱3342转动后的台阶3430可伸入侧板21下端,当抵接板1与端子001上端接触后,停止拨动卡板3343使得卡板3343因自身重力自然下垂,当端子001测试完成后弹性组件31复位的过程中,一号板331上移带动侧向卡合件334上移,台阶3430与侧板21的下端相抵。
[0026]上述设计中,侧向卡合件33本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种端子测试工装,包括抵接板(1),其特征在于:还包括设置在所述抵接板(1)两侧的卡接组件(2)以及与抵接板(1)滑动连接的下压测试组件(3),所述抵接板(1)上竖向设置有通孔,所述下压测试组件(3)包括弹性组件(31)、可穿过通孔的若干探针(32)、用于固定探针(32)的升降架(33),所述弹性组件(31)两端分别与升降架(33)的下端与抵接板(1)的上端相抵,所述卡接组件(2)包括与抵接板(1)侧壁固定连接的侧板(21)以及两个对称设置在侧板(21)两侧的弹性卡合件(22),所述侧板(21)设置有侧向凹槽(210),所述弹性卡合件(22)包括一号弹簧(221)、与侧板(21)铰接的带勾卡柱(222),所述一号弹簧(221)两端分别与侧向凹槽(210)和带勾卡柱(222)连接,所述一号弹簧(221)用于驱动带勾卡柱(222)卡柱端子(001)。2.根据权利要求1所述的端子测试工装,其特征在于:所述升降架(33)包括位于抵接板(1)上方的一号板(331)、设置在一号板(331)上的若干直线轴承(332)、套设在一号轴承上的...
【专利技术属性】
技术研发人员:张君军,张伟,王益平,
申请(专利权)人:苏州品嘉电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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