一种简易电阻率测试装置制造方法及图纸

技术编号:39781527 阅读:16 留言:0更新日期:2023-12-22 02:25
本实用新型专利技术涉及电阻测量技术领域,具体涉及一种简易电阻率测试装置,包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针,所述固定架设置于所述底座的上端面,所述升降机构架设于所述固定架内,所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端,升降定位组件位于固定架的上端面,所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部,所述探针与所述显示器电连接。本实用新型专利技术的测试装置结构简单,操作方便,测试精度高,通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度,避免因压力不同造成的测试误差,同时增加了探针与薄膜接触面积,避免刺穿薄膜,控制探针间距离,可减小测试误差,提高了工作效率,降低测试成本。降低测试成本。降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种简易电阻率测试装置


[0001]本技术涉及电阻测量
,具体涉及一种简易电阻率测试装置。

技术介绍

[0002]四探针测试仪是在薄膜电阻生产过程中用来测试薄膜电阻率的测试仪器,如图1所示,现有技术,薄膜电阻一般采用四探针测试仪进行测试,测试时将四探针测试仪的测试探针以一定的力度按压在测试膜面并保持相对静止,待测试数据稳定后测试仪器记录下测试数据。但在实际使用过程中存在一定的不便:1、探针较尖,容易刺穿薄膜;2探针间距离太近,测试误差大;3、测试成本较高。因此,有待于开发一款新的测试设备来解决现有测试仪存在的缺陷。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术中存在的缺点和不足,本技术的目的在于提供一种简易电阻率测试装置,该测试装置结构简单,操作方便,测试精度高,通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度,避免因压力不同造成的测试误差,同时增加了探针与薄膜接触面积,避免刺穿薄膜,控制探针间距离,可减小测试误差,提高了工作效率,降低测试成本。
[0004]本技术的目的通过下述技术方案实现:一种简易电阻率测试装置,包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针,所述固定架设置于所述底座的上端面,所述升降机构架设于所述固定架内,所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端,升降定位组件位于固定架的上端面,所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部,所述探针与所述显示器电连接。
[0005]进一步的,所述升降机构包括升降杆、定位杆、升降架和一组定位杆,所述定位杆设置于所述固定架内,所述定位杆的上端固定于固定架上端,定位杆的下一端固定于底座的上端面,所述升降架设置于两个定位杆之间,且的升降架两端均套设于所述定位杆,所述升降杆自上而下贯穿固定架,且升降杆的下端与所述升降架固定连接,所述升降定位组件套设于所述升降杆的上端,升降定位组件位于固定架的上端面。
[0006]进一步的,所述升降定位组件包括升降齿轮组件和旋钮,所述升降齿轮组件套设于所述升降杆,所述固定件的下端与所述固定架的上端面固定,所述旋钮设置于所述升降齿轮组件一侧能驱动升降杆上下移动。
[0007]进一步的,所述升降齿轮组件包括固定件和螺钉齿轮,所述升降杆的表面对应于所述螺钉齿轮设有齿槽,所述固定件套设于所述升降杆,所述螺钉齿轮贯穿所述固定件,且所述螺钉齿轮的一端与所述齿槽齿合,所述螺钉齿轮的另一端与所述旋钮连接。
[0008]进一步的,所述旋钮内设有测力组件。
[0009]进一步的,所述测力组件为棘轮。
[0010]进一步的,所述底座的上端面为测试台,测试台对应于所述探针位置凹设有定位槽。
[0011]进一步的,所述探针为长为10mm的铜块。
[0012]本技术的有益效果在于:本技术的测试装置结构简单,操作方便,测试精度高,通过设置升降定位组件可控制探针受到的按压力度,避免因压力不同造成的测试误差,同时增加了探针与薄膜接触面积,避免刺穿薄膜,控制探针间距离,可减小测试误差,提高了工作效率,降低测试成本。
附图说明
[0013]图1是四探针测试仪测试薄膜方块电阻的示意图;
[0014]图2是本技术的立体结构示意图;
[0015]图3是A处的局部放大示意图;
[0016]图4是本技术的测力组件的示意图。
[0017]附图标记为:1

底座、11

定位槽、2

固定架、3

升降机构、31

升降杆、311

齿槽、32

定位杆、33

升降架、4

升降定位组件、41

升降齿轮组件、411

固定件、412

螺钉齿轮、42

旋钮、421

测力组件、5

显示器和6

探针。
具体实施方式
[0018]为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例及附图1

4对本技术作进一步的说明,实施方式提及的内容并非对本技术的限定。
[0019]见图1

4,一种简易电阻率测试装置,包括底座1、固定架2、升降机构3、升降定位组件、显示器5和若干探针6,所述固定架2设置于所述底座1的上端面,所述升降机构3架设于所述固定架2内,所述升降定位组件套设于所述升降机构3的上端,升降定位组件位于固定架2的上端面,所述探针6间隔固定于所述升降机构3的下端部,所述探针6与所述显示器5电连接;所述底座1的上端面为测试台,测试台对应于所述探针6位置凹设有定位槽11,所述探针6优选设置四个;所述探针6为长为10mm的铜块、上宽5mm、下宽1mm、高为20mm,铜块与待测薄膜接触的一端宽为1mm,相邻两个探针6之间的距离为10mm,可使受测面积大,减小测试误差。
[0020]本实施例中的测试装置结构简单,操作方便,测试精度高,通过设置升降定位组件可控制探针6受到的按压力度,避免因压力不同造成的测试误差,同时增加了探针6与薄膜接触面积,避免刺穿薄膜,控制探针6间距离,可减小测试误差,提高了工作效率,降低测试成本;测试将待测薄膜放置在定位槽11内,使用升降定位组件将升降机构3竖直向下移动,当探针6下降到底接触到一定力后,可对待测薄膜进行检测,利用探针6将检测到的数据传输至显示器5。
[0021]本实施例中,所述升降机构3包括升降杆31、升降架33和一组定位杆32,所述定位杆32设置于所述固定架2内,所述定位杆32的上端固定于固定架2上端,定位杆32的下一端固定于底座1的上端面,所述升降架33设置于两个定位杆32之间,且的升降架33两端均套设于所述定位杆32,所述升降杆31自上而下贯穿固定架2,且升降杆31的下端与所述升降架33固定连接,所述升降定位组件套设于所述升降杆31的上端,升降定位组件位于固定架2的上端面。
[0022]本实施例中四个探针6安装在升降架33的下端,配合升降定位组件驱动升降杆31
在竖直方向运动,可实现四个探针6的上升或下降,设置的定位杆32保证了升降架33在上下移动时只在竖直方向移动不会产生晃动或摆动,保证了探针6下压薄膜的稳定性,提升了该测试装置的精准度。
[0023]本实施例中,所述升降定位组件包括升降齿轮组件41和旋钮42,所述升降齿轮组件41套设于所述升降杆31,所述旋钮42设置于所述升降齿轮组件41一侧能驱动升降杆31上下移动;所述旋钮42内设有测力组件421,所述测力组件421为棘轮。
[0024]本实施例中,所述升降齿轮组件41包括固定件411和螺钉齿轮412,所述升降杆31的表面对应于所述螺钉齿轮412设有齿槽311,所述固定件411套设于所述升降杆31,所述固定件411的下端与所述固定架2的上端面固定,所述螺钉齿轮412贯穿所本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种简易电阻率测试装置,其特征在于:包括底座、固定架、升降机构、升降定位组件、显示器和若干探针,所述固定架设置于所述底座的上端面,所述升降机构架设于所述固定架内,所述升降定位组件套设于所述升降机构的上端,升降定位组件位于固定架的上端面,所述探针间隔固定于所述升降机构的下端部,所述探针与所述显示器电连接。2.根据权利要求1所述的一种简易电阻率测试装置,其特征在于:所述升降机构包括升降杆、定位杆、升降架和一组定位杆,所述定位杆设置于所述固定架内,所述定位杆的上端固定于固定架上端,定位杆的下一端固定于底座的上端面,所述升降架设置于两个定位杆之间,且的升降架两端均套设于所述定位杆,所述升降杆自上而下贯穿固定架,且升降杆的下端与所述升降架固定连接,所述升降定位组件套设于所述升降杆的上端。3.根据权利要求2所述的一种简易电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员:赖德权杨述腾李召平
申请(专利权)人:东莞瑞泰新材料科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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