一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒制造技术

本实用新型专利技术提供了一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒，包括负载电阻，还包括用于给所述负载电阻散热的半导体制冷片，所述半导体制冷片的制冷面靠近所述负载电阻设置，所述半导体制冷片的发热面设置有铝散热器，所述铝散热器设有散热风扇，所述半导体制冷片连接有第一温控开关，所述第一温控开关监测所述负载电阻的温度用来控制所述半导体制冷片供电电路的连通或断开，所述散热风扇连接有第二温控开关，所述第二温控开关监测所述铝散热器的温度用来控制所述散热风扇供电电路的连通或断开

【技术实现步骤摘要】
一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒


[0001]本技术具体涉及一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒
。

技术介绍

[0002]耐压测试仪
、
绝缘电阻测试仪
、
泄漏电流仪进行日常点检和期间核查时候需要使用高精度的点检盒作核查工具，辅助测量被检测的仪器设备的相关参数是否正常
。
例如耐压测试仪的动作电流参数
、
绝缘电阻仪的电阻参数等等
。
常见的点检盒内部由一个或多个高精度电阻组成，核查时把被测仪器的输出端两极分别连接到点检盒对应电阻的测试端子上
。
例如耐压测试仪进行动作电流核查时，记录点检盒的阻值，耐压测试仪的输出电压示值和电流示值，通过欧姆定律计算，将输出电压值除以点检盒电阻的阻值得到电流计算值
。
电流计算值与耐压测试仪的电流示值进行比较，即可判断耐压测试仪的电流参数是否正常
。
[0003]常见的电子电工产品标准一般会要求进行1分钟的耐压测试和1分钟的绝缘电阻测试
。
有的标准甚至要求
15
分钟的耐压测试
。
普通的点检盒受到体积限制，其内部无法使用大功率电阻，长时间使用容易发热，电阻发热会导致阻值发生变化导致测试数据出现偏差，影响测试结果
。
如果电阻长时间过载使用可能会因过热烧毁甚至可能引发火灾，所以现有点检盒限制通电时间一般为2秒到
30
秒，无法很好的模拟常规1分钟耐压测试和绝缘电阻测试，测试时间太短得到的测试电压数据无法稳定，影响测试结果
。
此外，现场测试时，因测试时间太短，操作人员可能还没来得及记录关键数据就达到了点检盒的使用时间上限
。
如果需要测试多组数据或者需要核查多台设备，还需要等待一段时间后点检盒的电阻温度下降后再进行点检核查工作，影响工作效率
。

技术实现思路

[0004]本技术提供了一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒，能够为点检盒主动降温，提高核查工作的效率
。
[0005]本技术提供了一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒，包括负载电阻，还包括用于给所述负载电阻散热的半导体制冷片，所述半导体制冷片的制冷面靠近所述负载电阻设置，所述半导体制冷片的发热面设置有铝散热器，所述铝散热器设有散热风扇，所述半导体制冷片连接有第一温控开关，所述第一温控开关监测所述负载电阻的温度用来控制所述半导体制冷片供电电路的连通或断开，所述散热风扇连接有第二温控开关，所述第二温控开关监测所述铝散热器的温度用来控制所述散热风扇供电电路的连通或断开
。
[0006]本技术通过半导体制冷片对负载电阻进行主动控温，当第一温控开关监测的负载电阻温度高于设定的负载电阻温度值时，控制半导体制冷片的供电电路连通对负载电阻进行降温，当第一温控开关监测的负载电阻温度低于设定的负载电阻温度值时，控制半导体制冷片的供电电路断开停止对负载电阻降温
。
还设置铝散热器为半导体制冷片的发热面降温，当第二温控开关监测的铝散热器温度高于设定的铝散热器温度值时，控制散热风
扇的供电电路连通对半导体制冷片降温，当第二温控开关监测的铝散热器温度低于设定的铝散热器温度值时，控制散热风扇的供电电路断开停止对半导体制冷片降温
。
[0007]本技术还具有以下优选设计：
[0008]本技术的所述铝散热器包括铝底座和散热铝鳍片，所述第二温控开关安装在所述铝底座上，所述散热风扇安装在所述散热铝鳍片一侧
。
[0009]本技术的所述负载电阻连接有温度保护器，当负载电阻的温度超过温度保护器的设定值时，断开负载电阻的电路
。
[0010]本技术的所述负载电阻与所述半导体制冷片之间设置有绝缘垫片
。
[0011]本技术的所述负载电阻
、
所述半导体制冷片
、
所述铝底座
、
所述温度保护器和所述绝缘垫片设置在一个密封外壳内
。
[0012]本技术的所述散热铝鳍片和所述散热风扇设置在一个开放外壳内
。
[0013]本技术的有益效果在于：
[0014]1.
本技术具有主动制冷温度控制功能，能够将负载电阻的温度保持在一定范围内，在户外高温环境下使用也能使负载电阻的温度低于环境温度
。
避免温度大幅度变化影响负载电阻的阻值，提高稳定性和准确性
。
[0015]2.
本技术上下分为两个独立外壳，不会相互影响
。
上壳是密封外壳，可以防止内部元器件受到外界的灰尘水分影响
。
下壳是开放外壳，风扇吹出的气流能流畅排出，保证良好的散热效果
。
[0016]3.
本技术专门针对耐压试验仪器的动作电流参数
、
绝缘电阻测试仪的电阻参数点检核查设计，能够满足长时间的使用需求，操作方便快捷，能够满足多种仪器的核查需求：例如耐压试验仪器的动作电流参数
、
绝缘电阻测试仪的电阻参数，同时还能满足泄漏电流仪的电流参数
、
万用表电阻参数和电流参数的点检核查需求，用途广泛
。
[0017]4.
本技术体积小，节省占用空间，方便运输
、
存放
、
携带，生产制造容易
、
成本低廉
。
附图说明
[0018]图1是本技术具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒的立体图；
[0019]图2是本技术具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒的另一角度下的立体图；
[0020]图3是本技术具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒的背面的立体图；
[0021]附图标记说明：
[0022]1‑
负载电阻
、2a
‑
制冷面
、2b
‑
发热面
、3a
‑
铝底座
、3b
‑
散热铝鳍片
、4
‑
散热风扇
、5
‑
接线柱
、6
‑
供电接头
、7
‑
第一温控开关
、8
‑
第二温控开关
、9
‑
温度保护器
、10
‑
绝缘垫片
、11
‑
密封外壳
、12
‑
开放外壳
。
具体实施方式
[0023]下面结合附图和实施例，详细说明本技术的技术方案，以便本领域普通技术人员更好地理解和实施本技术的技术方案
。
[0024]如图1至3所示，一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒，包括负载电阻，其特征在于：还包括用于给所述负载电阻散热的半导体制冷片，所述半导体制冷片的制冷面靠近所述负载电阻设置，所述半导体制冷片的发热面设置有铝散热器，所述铝散热器设有散热风扇，所述半导体制冷片连接有第一温控开关，所述第一温控开关监测所述负载电阻的温度用来控制所述半导体制冷片供电电路的连通或断开，所述散热风扇连接有第二温控开关，所述第二温控开关监测所述铝散热器的温度用来控制所述散热风扇供电电路的连通或断开
。2.
根据权利要求1所述的具有主动制冷温度控制功能的核查点检盒，其特征在于：所述铝散热器包括铝底座和散热铝鳍片，所述第二温控开关安装在所述铝底座上，所述散热风扇安装在所述散热铝鳍片一侧
。3.
...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍梓健，曾博，桂怿，庄少红，许良纳，谭耀堂，黄嘉彬，陈俊军，
申请(专利权)人：威凯检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：