ICT制造技术

本申请提供一种

【技术实现步骤摘要】
ICT测试装置


[0001]本申请涉及电路板测试
，尤其涉及一种
ICT
测试装置
。

技术介绍

[0002]ICT(In Circuit Test
，在线测试
)
测试装置主要用于测试电路板的电路是否存在开路
、
短路等异常
。
[0003]相关技术中，
ICT
测试装置包括上模和下模，上模与下模可转动连接，上模上具有压钉，下模上具有定位柱
。
在对电路板进行测试时，将电路板放在下模上，电路板的第一表面与下模接触，并且使下模上的定位柱插设在电路板上的定位孔中；然后操作人员使上模相对于下模转动，使得上模上的压钉抵接在电路板的第二表面上，并在上模上施加压力，从而将电路板夹紧在上模与下模之间，以对电路板进行测试
。
[0004]定位柱与电路板上的定位孔未对准时，压钉和定位柱损伤电路板
。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种
ICT
测试装置，可以避免压钉和定位柱损伤电路板
。
[0006]本申请提供一种
ICT
测试装置，包括下模
、
上模
、
触发组件和测试单元；上模与下模可转动连接；上模上具有压钉，下模上具有定位柱；下模用于放置电路板，定位柱用于定位电路板，压钉用于压紧电路板；
[0007]触发组件包括触发件和动作件，触发件设置在下模上，动作件设置在上模上，动作件位于测试单元所在的回路中；测试单元用于与电路板电连接；
[0008]在上模与下模处于盖合状态时，触发件触发动作件连通，从而使测试单元所在的回路导通；
[0009]在上模与下模处于非盖合状态时，动作件断开
。
[0010]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，触发件包括磁铁，动作件包括两个磁簧片，两个磁簧片分别与测试单元的两端电连接；
[0011]在上模与下模处于盖合状态时，两个磁簧片在磁铁的作用下吸合，从而使得测试单元所在的回路导通；
[0012]在上模与下模处于非盖合状态时，两个磁簧片断开
。
[0013]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，触发件第一防护壳，第一防护壳与下模连接，并且与下模朝向上模的一端的边缘平齐，磁铁位于第一防护壳中；
[0014]动作件包括第二防护壳，第二防护壳与上模连接，并且与上模朝向下模的一端边缘平齐，两个磁簧片均位于第二防护壳中
。
[0015]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，
ICT
测试装置还包括转轴，上模的一端和下模的一端通过转轴铰接；
[0016]第一防护壳在下模上沿
ICT
测试装置的宽度方向位于远离转轴的一端；第二防护壳在上模上沿
ICT
测试装置的宽度方向位于远离转轴的一端
。
[0017]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，上模包括上壳和上载板，压钉位于上载板上；下模包括下壳和下载板，定位柱位于下载板上；
[0018]测试单元包括控制器和压紧件，压紧件和两个磁簧片均与控制器电连接，在上模与下模处于盖合状态时，控制器控制压紧件在上载板上施加压力，使得上载板相对于上壳移动，以将压钉压紧在电路板上
。
[0019]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，压紧件为真空泵，两个磁簧片均与真空泵电连接；
[0020]在上模与下模处于盖合状态时，两个磁簧片闭合，真空泵用于抽取上模和下模之间形成的容纳腔中的空气，使得上载板相对于上壳移动，以将压钉压紧在电路板上
。
[0021]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，测试单元还包括测试组件，测试组件与控制器电连接；
[0022]在容纳腔中的真空度达到预设值后，控制器用于控制测试组件测试电路板
。
[0023]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，测试组件包括下探针；下模上还具有下针板，下针板位于下载板与下壳的底壁之间，下探针设置在下针板上，下探针与控制器电连接；
[0024]下载板上具有探针孔；在测试组件测试电路板时；下探针穿设在探针孔中以与电路板上的触点接触
。
[0025]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，下模还包括弹性件，弹性件弹力方向的一端与下载板连接，弹性件弹力方向的另一端与下针板连接；
[0026]在真空泵抽取容纳腔中的空气时，下载板克服弹性件的弹力朝向下针板移动
。
[0027]在一种可能的实施方式中，本申请提供的
ICT
测试装置，测试组件还包括上探针，上探针设置在上载板上，上探针与控制器电连接；
[0028]在测试组件测试电路板时，上探针随着上载板的移动朝向电路板移动，以与电路板上的触点接触
。
[0029]本申请提供一种
ICT
测试装置，通过设置包括下模
、
上模
、
触发组件和测试单元；上模上具有压钉，下模上具有定位柱；触发组件包括触发件和动作件，触发件设置在下模上，动作件设置在上模上，动作件位于测试单元所在的回路中；测试单元用于与电路板电连接；在上模与下模处于盖合状态时，触发件向动作件发出信号，动作件接收到触发件发出的信号之后，动作件连通，使得测试单元所在的回路导通，
ICT
测试装置开始测试；在上模与下模处于非盖合状态时，上模与下模之间具有间隙，动作件接收不到触发件发出的信号，动作件为断开状态时，测试装置会发出测试异常的通知，操作人员根据测试异常通知可以及时发现上模与下模处于非盖合状态，进而检查电路板是否存在放置异常，从而可以避免压钉和定位柱损伤电路板
。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0031]图1为相关技术中
ICT
测试装置的结构示意图；
[0032]图2为电路板的结构示意图；
[0033]图3为相关技术中
ICT
测试装置的使用状态图；
[0034]图4为相关技术中
ICT
测试装置中定位柱和电路板上的定位孔未对准的状态示意图；
[0035]图5为相关技术中
ICT
测试装置中定位柱和电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种
ICT
测试装置，其特征在于，包括下模
、
上模
、
触发组件和测试单元；所述上模与所述下模可转动连接；所述上模上具有压钉，所述下模上具有定位柱；所述下模用于放置电路板，所述定位柱用于定位所述电路板，所述压钉用于压紧所述电路板；所述触发组件包括触发件和动作件，所述触发件设置在所述下模上，所述动作件设置在所述上模上，所述动作件位于所述测试单元所在的回路中；所述测试单元用于与所述电路板电连接；在所述上模与所述下模处于盖合状态时，所述触发件触发所述动作件连通，从而使所述测试单元所在的回路导通；在所述上模与所述下模处于非盖合状态时，所述动作件断开
。2.
根据权利要求1所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述触发件包括磁铁，所述动作件包括两个磁簧片，两个所述磁簧片分别与所述测试单元的两端电连接；在所述上模与所述下模处于盖合状态时，两个所述磁簧片在所述磁铁的作用下吸合，从而使得测试单元所在的回路导通；在所述上模与所述下模处于非盖合状态时，两个所述磁簧片断开
。3.
根据权利要求2所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述触发件包括第一防护壳，所述第一防护壳与所述下模连接，并且与所述下模朝向所述上模的一端的边缘平齐，所述磁铁位于所述第一防护壳中；所述动作件包括第二防护壳，所述第二防护壳与所述上模连接，并且与所述上模朝向所述下模的一端边缘平齐，两个所述磁簧片均位于所述第二防护壳中
。4.
根据权利要求3所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述
ICT
测试装置还包括转轴，所述上模的一端和所述下模的一端通过所述转轴铰接；所述第一防护壳在所述下模上沿所述
ICT
测试装置的宽度方向位于远离所述转轴的一端；所述第二防护壳在所述上模上沿所述
ICT
测试装置的宽度方向位于远离所述转轴的一端
。5.
根据权利要求2至4任一项所述的
ICT
测试装置，其特征在于，所述上模包括上壳...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈飞鹏，何刚，
申请(专利权)人：上海芯希信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：