【技术实现步骤摘要】
研磨液供给方法及装置
[0001]本专利技术涉及半导体制造
,尤其涉及一种研磨液供给方法及装置
。
技术介绍
[0002]抛光是硅片加工过程中的重要工艺流程,在对硅片进行抛光时,吸附固定硅片,利用研磨垫对硅片进行一定压力的旋转研磨,同时向研磨垫喷入研磨液,研磨垫在研磨液的作用下研磨硅片,研磨效果直接影响硅片的最终品质
。
[0003]相关技术中,与研磨液喷嘴连接的研磨液供给手臂由于臂身较长,导致在研磨过程中研磨液供给手臂会随着时间推移慢慢发生臂身形变下垂现象,导致研磨液喷嘴也随着臂身下垂而下垂,研磨液喷嘴与研磨垫之间的距离发生变化,如果研磨液喷嘴与研磨垫之间的距离太近容易发生研磨液飞溅,使得研磨液供给不够均匀充分,对研磨效果有不良影响,另外如果臂身下垂严重还容易划伤研磨垫,直接导致硅片产品
NG
,研磨垫报废
。
技术实现思路
[0004]为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种研磨液供给方法及装置,能够保证在研磨过程中研磨液供给均匀充分,进而保证研磨效果
。
[0005]为了达到上述目的,本专利技术实施例采用的技术方案是:
[0006]一种研磨液供给装置,包括:
[0007]研磨液供给手臂,所述研磨液供给手臂包括:手臂本体,所述手臂本体固定有供给研磨液的研磨液管路和与所述研磨液管路出液端相连通的研磨液喷嘴;
[0008]研磨垫,配置为对硅片进行研磨;
[0009]图像采集组件,配置为采集所述研磨液喷 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种研磨液供给装置,其特征在于,包括:研磨液供给手臂,所述研磨液供给手臂包括:手臂本体,所述手臂本体固定有供给研磨液的研磨液管路和与所述研磨液管路出液端相连通的研磨液喷嘴;研磨垫,配置为对硅片进行研磨;图像采集组件,配置为采集所述研磨液喷嘴与所述研磨垫的图像信息;控制器,配置为根据所述图像信息控制所述研磨液供给手臂的移动
。2.
根据权利要求1所述的研磨液供给装置,其特征在于,还包括:丝杠;设置在所述丝杠上
、
能够沿所述丝杠滑动的滑块;固定在所述滑块上的连接杆,所述手臂本体与所述连接杆连接;线性步进电机,配置为驱动所述滑块在所述丝杠上移动,在所述线性步进电机驱动所述滑块在所述丝杠上移动时,所述研磨液供给手臂的整体高度上升或下降
。3.
根据权利要求2所述的研磨液供给装置,其特征在于,所述图像采集组件与所述控制器通过无线通信连接
。4.
根据权利要求2所述的研磨液供给装置,其特征在于,所述控制器配置为根据所述图像信息确定所述研磨液喷嘴与所述研磨垫之间的实际位置关系;获取所述研磨液喷嘴与所述研磨垫之间的目标位置关系,在所述实际位置关系与所述目标位置关系不匹配时,向所述线性步进电机发送驱动信号,控制所述线性步进电机移动所述研磨液供给手臂,使得所述研磨液喷嘴与所述研磨垫之间的位置关系符合所述目标位置关系
。5.
根据权利要求4所述的研磨液供给装置,其特征在于,所述目标位置关系包括所述研磨液喷嘴相对于所述研磨垫的目标高度,所述目标高度为根据硅片产品的良率
、
硅片的型号
、
研磨设备的型号
、
硅片产品的表面去除量和硅片产品的平坦度中的至少一项确定
。6.
【专利技术属性】
技术研发人员:高宇,
申请(专利权)人:西安奕斯伟硅片技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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