一种砂体刻画的方法技术

本发明专利技术公开了一种砂体刻画的方法，属于砂体刻画技术领域，该方法包括如下步骤：

【技术实现步骤摘要】
一种砂体刻画的方法


[0001]本专利技术属于砂体刻画领域，特别是涉及一种砂体刻画的方法
。

技术介绍

[0002]砂体刻画是指预测砂体在地层中的分布情况，例如，预测砂体在地层中的位置以及砂体的形状大小等
。
随着对石油资源的勘探以及开发程度的不断深入，对砂体刻画精度的要求越来越高
。
[0003]相关技术中，在钻井过程中检测到砂体后，会根据检测到砂体的可视长度作为砂体的厚度
。
同样的砂体在不同斜度的钻井过程中，看到的砂体长度是不一样的，这就说明上述刻画砂体的厚度方法对砂体的刻画是不准确的
。
[0004]目前大多通过井点可视砂体厚度与反演时间域厚度建立关系，根据沉积规律，建立关系式，将时间域砂厚直接转换为砂层真实厚度，根据这个真实厚度去刻画砂体形态
。
但是反演时间砂厚与井点砂体厚度具有一定的相关性，但相关系数基本只保持在
0.5
～
0.8
左右
,
那么根据低相关性的系数建立的关系式是不准确的，导致根据该关系式得到的时间域砂厚是不准确的，进而导致转换得到的砂体真实厚度与实际砂体厚度是存在区别的
。
用不准确的砂体真实厚度对砂体的刻画也是不精准的
。
[0005]现有技术存在砂体厚度计算不准确，造成了对砂体刻画不精准的问题
。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种砂体刻画的方法，以解决现有技术中对砂体刻画不精准的问题
。
[0007]为实现上述目的，本专利技术所提供的一种砂体刻画的方法的技术方案是：
[0008]一种砂体刻画的方法，包括如下步骤：
1)
获取待刻画区域中已钻井的相关数据，包括：单砂体视厚度
、
井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
、
地层倾角和井斜角；
2)
根据井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
、
地层倾角和井斜角数据校正单砂体视厚度，计算得到单砂体在地层垂直方向的真实厚度
。
[0009]有益效果是：将单砂体视厚度通过井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
、
地层倾角和井斜角校正为单砂体在地层垂直方向的真实厚度，通过上述角度修正了井斜
、
地层倾斜和井轨迹方向对单砂体厚度影响，使得刻画的单砂体属性更准确
、
更真实
。
[0010]作为进一步地改进，单砂体的真实厚度计算公式为：
H
＝
L sin
α
sin
β
cos
γ
+L cos
α
cos
β
，其中，
H
为单砂体的真实厚度，
L
为单砂体的视厚度，
α
为地层倾角，
β
为井斜角，
γ
为井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
。
[0011]有益效果是：通过推导计算出单砂体的真实厚度计算公式，通过公式能精准计算出单砂体的真实厚度
。
[0012]作为进一步地改进，上述单砂体为单个层序地层格架内对应的砂体单元
。
[0013]有益效果是：砂体是一层一层分布在地层的，通过层序地层研究找出砂体层，多个
[0032][0033][0034][0035][0036]由于自然砂层形成后的平面与地层平面是平行的，因此砂体的厚度应该用垂直地层方向的砂体厚度来刻画砂体的形态
。
根据井轨迹在地层上的投影线方向与地层倾向的夹角
γ
、
地层倾角
α
和井斜角
β
校正单砂体视厚度
L
，计算得到单砂体在地层垂直方向的真实厚度
H。
如图2所示，建立一个井
A
的立体空间模型，其中
PGCE
面为水平面
、Z
为竖直方向
、
灰色面为地层斜面，
PD
为斜井
A
穿过砂层的井轨迹
。
井轨迹与竖直方向的夹角为井斜角
β
，地层斜面与水平面的夹角为井地层倾角
α
，按照角
α
的概念本模型中
∠ECF
为角
α
，通过数学推理可得
∠FDM
＝
∠ECF
，地层倾向逆时针旋转到井轨迹在水平面上的投影线方向处所得的夹角
γ
；计算垂直地层的砂体真实厚度
H
＝
DFcos
α
＝
(DE+EF)cos
α
，
DE
＝
Lcos
β
,
因为
EC
＝
PG
，因此
EF
＝
ECtan
α
＝
PGtan
α
＝
PEcos
γ
tan
α
＝
Lsin
β
cos
γ
tan
α
,
将
DE
和
EF
代入
H
＝
DFcos
α
＝
(DE+EF)cos
α
，得到真实厚度公式：
H
＝
Lsin
α
sin
β
cos
γ
+Lcos
α
cos
β
。
[0037]将
γ
、
α
、
β
和
L
的数值代入真实厚度计算公式，得到为
H
＝
Lsin
α
sin
β
cos
γ
+Lcos
α
cos
β
＝
3.6*sin18
°
*sin64.9
°
*cos23
°
+3.6*cos18
°
*cos64.9
°
，计算得到真实厚度
H
＝
2.4m。
[0038]最后根据单砂体真实厚度绘制砂体厚度等值线图
。
通过建立层序地层格架研究，选取潜力好的砂层进行刻画，通过对钻井过程中容易获得的单砂体视厚度进行校正，得到垂直地层方向的单砂体真实厚度，用该真实厚度等值线图刻画砂体的形态，为油气勘探开发工作提供坚实的数据基础
。
[0039]砂体刻画的方法实施例2：
[0040]本实施例2与实施例1的区别仅在于本实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种砂体刻画的方法，其特征在于，包括如下步骤：
1)
获取待刻画区域中已钻井的相关数据，包括：单砂体视厚度
、
井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
、
地层倾角和井斜角；
2)
根据井轨迹投影方向与地层倾向的夹角
、
地层倾角和井斜角数据校正单砂体视厚度，计算得到单砂体在地层垂直方向的真实厚度
。2.
根据权利要求1所述的砂体刻画的方法，其特征在于，在步骤
2)
中所述单砂体的真实厚度计算公式为：
H
＝
Lsin
α
sin
β
cos
γ
+Lcos
α
cos
β
，其中，
H
为单砂体的真实厚度，
L
为单砂体的视厚度，
α
为地层...

【专利技术属性】
技术研发人员：马玉，朱煜华，张晓亮，王树芳，马荣，庞萌，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司河南油田分公司，
类型：发明
国别省市：