【技术实现步骤摘要】
一种提高电极加工精度的方法、装置、终端设备及介质
[0001]本申请属于电极放电加工的
,尤其涉及一种提高电极加工精度的方法
、
装置
、
终端设备及介质
。
技术介绍
[0002]一般地,电极放电加工中,电极齿位置的极小偏差可能对加工精度产生明显的负面影响,因此需要将修正后的电极齿位置作为加工的输入参数
。
[0003]一个直接的思路是通过电极基准台进行电极整体的位置修正
。
若电极基准台上只存在一个电极齿,那么采用这种方式可能会提高电极齿电极加工的精度,但对于更常见的电极基准台上具有多个电极齿的情况而言,各电极齿的误差并不完全一致,整体位置修正方式也是无法解决电极齿不规则的偏移而导致的加工误差的问题
。
[0004]另外,在电极加工完成后,需要修改其摇摆间隙,现有的摇摆间隙计算的方式为不管什么方向直接算均值,使得精度较低
、
误差较大
。
[0005]因此,如何提供以一种提高电极加工精度的方法,以解决电极齿的位置偏移而导致的生产精度下降的问题以及电极加工完成后摇摆间隙的问题,是本领域中一直需要攻克的大问题
。
技术实现思路
[0006]本申请实施例提供了一种提高电极加工精度的方法
、
装置
、
终端设备及介质,可以解决电极齿的实际加工位置点误差大的技术问题
。
[0007]第一方面,本申请实施例提供了一种提高电极加工精
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种提高电极加工精度的方法,其特征在于,包括:根据电极齿指定面的法向量确定探针路径,并基于所述探针路径获取所述电极齿在所述指定面上的至少一个实际位置点;根据所述实际位置点和理论位置点在指定方向上的距离差计算得到所述指定方向上的补正值,所述理论位置点与所述实际位置点一一对应;利用所述补正值修正电极加工参数,以执行加工任务
。2.
如权利要求1所述的提高电极加工精度的方法,其特征在于,所述根据电极齿指定面的法向量确定探针路径的步骤包括:以路径约束构建所述探针路径,所述路径约束是指所述探针路径的起点至所述探针路径的终点的方向与所述法向量的方向平行且相反
。3.
如权利要求1或2所述的提高电极加工精度的方法,其特征在于,所述指定方向至少包括第一方向和第二方向;所述根据所述实际位置点和理论位置点在指定方向上的距离差计算得到所述指定方向上的补正值的步骤包括:确定所述法向量与所述第一方向平行,则根据所述实际位置点和所述理论位置点在所述第一方向上的距离差计算得到所述第一方向上的补正值,过滤所述实际位置点和所述理论位置点在所述第二方向上的距离差
。4.
如权利要求3所述的提高电极加工精度的方法,其特征在于,所述指定面包括指定面集合,所述指定面集合是指法向量与所述第一方向平行的指定面;所述根据所述实际位置点和理论位置点在指定方向上的距离差,计算得到所述指定方向上的补正值的步骤包括:根据所述指定面集合上的所述实际位置点和所述理论位置点在所述第一方向上的距离差的平均值,计算得到所述第一方向上的补正值,过滤所述实际位置点和所述理论位置点在所述第二方向上的距离差
。5.
如权利要求1或2所述的提高电极加工精度的方法,其特征在于,所述指定方向包括相互正交的第一方向和第二方向,将所述法向量记为
(M
,
N)
,
M
为所述法向量在所述第一方向上的投影长度,
N
为所述法向量在所述第二方向上的投影长度,令
Max
为
M
和
N
中的最大值;所述根据所述实际位置点和理论位置点在指定方向上的距离差计算得到所述指定方向上的补正值步骤包括:根据所述实际位置点和所述理论位置点在
Max
方向上的距离差计算得到所述
Max
方向上的补正值,过滤其他方向上所述实际位置点和所述理论位置点的距离差;其中,所述
Max
方向是指
M
和
N
中的最大值所代表的所述投影长度的指向
。6.
如权利要求5所述的提高电极加工精度的方法,其特征在于,所述电极加工参数为电极齿的放电位置;利用所述补正值修正所述电极齿的放点位置参数,以执行基于所述电极齿的预设加工任务
【专利技术属性】
技术研发人员:成亚飞,袁进,
申请(专利权)人:深圳模德宝科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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