一种基于制造技术

技术编号:39735618 阅读:17 留言:0更新日期:2023-12-17 23:37
本发明专利技术公开了一种基于

【技术实现步骤摘要】
一种基于Zernike矩和几何约束的标靶定位方法


[0001]本专利技术属于机器视觉测量领域,特别涉及一种基于自适应
Zernike
矩边缘参数阈值和标靶几何约束的标靶定位方法


技术介绍

[0002]利用标靶特征进行定位的方法,可以对远距离的大型建筑物振动和下沉进行测量

相比于传统的光纤传感技术法

全站仪法
、GPS
法等,该方法有着绝对低成本且具有广泛的适用范围

[0003]随着检测精度要求越来越高,传统的边缘提取算法无法满足高精度的要求
。Zernike
矩就是一种抗噪性能强

检测精度高

稳定性好的亚像素边缘检测算法

但是由于在不同场景下
Zernike
矩需要不断调整三个边缘参数阈值,一旦取值过大或者过小,则易出现较多的伪边缘以及丢失较多的目标边缘

传统的
Zernike
矩边缘判定方法仅利用两个阈值进行判断,即圆心到边缘像素的距离以及边缘的阶跃强度

传统的边缘判定方法无法满足距离远

视场大的测量场景,由于标靶图像像素信息较少,一旦光照等天气因素发生变化,将会产生较多的伪边缘或者边缘定位不准的情况

边缘定位的误差将导致标靶定位偏移的结果


技术实现思路

[0004]针对现有标靶定位方法的不足,本专利技术提出了一种自适应
Zernike
矩边缘参数阈值和标靶几何约束的标靶定位方法,利用标靶几何信息自适应
Zernike
矩的边缘参数阈值,解决了传统
Zernike
矩的边缘定位偏差等问题,使得标靶边缘更细

更精确且拥有较好的鲁棒性

[0005]本专利技术采用如下技术方案:
[0006]本专利技术一种基于
Zernike
矩和几何约束的标靶定位方法,包括以下步骤:
[0007]1)
采集图像:采用工业相机采集图像,并裁剪出感兴趣的区域图像;
[0008]2)
图像插值:对感兴趣的区域图像进行三倍插值,得到标靶图像;
[0009]3)
边缘参数计算:对标靶图像使用
Zernike
矩计算边缘参数:边缘阶跃强度
k、
背景灰度
h、
单位圆圆心到边缘的垂直距离
l
和边缘位置点
(x,y)
和单位圆圆心连线与
x
轴的夹角
θ

[0010]4)
边缘参数阈值确定:根据标靶图像上的几何信息,迭代计算边缘参数阈值;
[0011]5)
边缘提取:根据步骤
4)
获得的边缘参数阈值实现对标靶图像中边缘的检测;
[0012]6)
标靶定位:根据步骤
5)
获得的边缘计算标靶中心位置;
[0013]其中,步骤
4)
具体如下:
[0014]设计
Zernike
矩边缘判定条件为:
[0015]l≥l
t
∩k≤k
t
∩h
t
≤h≤h
t
+
β
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)
[0016]其中,
l
t
为模板的内切圆圆心到边缘的垂直距离阈值,采用大小为
N
×
N
的模板对
标靶图像的像素灰度值矩阵进行卷积,并取边缘阶跃强度阈值
G
max
为步骤
2)
的标靶图像中像素的最大灰度值;
β
为灰度值范围系数,在
15

30
之间取值;背景灰度阈值
h
t
由二分法迭代寻找最佳直线拟合优度获得,具体如下:
[0017]步骤一

标靶图像扇形交界处的上





右四条直线分别记为
l1、l2、l3、l4;
[0018]步骤二

计算标靶图像中像素的平均灰度值
Gm
,由平均灰度值
Gm
设定二分法的上界
Gm+
γ
和下界
Gm

γ
,一般
γ

40

[0019]步骤三

设定损失函数
Ep
由直线
l1、l2上的各边缘点用最小二乘方法拟合出的直线
L
m
的拟合程度
R
sm
以及直线
l3、l4上的各边缘点用最小二乘方法拟合出的直线
L
n
的拟合程度
R
sn
相加获得,即:
[0020]Ep

R
sm
+R
sn
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0021]步骤四

由二分法在
[Gm

γ
,Gm+
γ
]区间内查找出损失函数
Ep
小于损失函数阈值的背景灰度阈值
h
t
,若
[Gm

γ
,Gm+
γ
]区间内损失函数
Ep
小于损失函数的搜索结果为空,则增大
γ
值或损失函数阈值,重新查找损失函数
Ep
小于损失函数阈值的背景灰度阈值
h
t
,直到找到为止

[0022]优选地,步骤
2)
中采用
Lanczos
方法对感兴趣的区域图像进行三倍插值;
[0023]Lanczos
核的计算式为:
[0024][0025]其中,
d
表示当前中心像素点与附近9个像素点的距离,
r
表示插值半径,
r
取值为
4。
[0026]优选地,步骤
3)
中使用
Zernike
矩计算边缘参数具体为:
[0027]步骤一

计算标靶图像
Zernike
矩,标靶图像
f(x,y)

n

m

Zernike
矩定义如下:
[0028][0029]式中,
ρ本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于
Zernike
矩和几何约束的标靶定位方法,其特征在于:包括以下步骤:
1)
采集图像:采用工业相机采集图像,并裁剪出感兴趣的区域图像;
2)
图像插值:对感兴趣的区域图像进行三倍插值,得到标靶图像;
3)
边缘参数计算:对标靶图像使用
Zernike
矩计算边缘参数:边缘阶跃强度
k、
背景灰度
h、
单位圆圆心到边缘的垂直距离
l
和边缘位置点
(x,y)
和单位圆圆心连线与
x
轴的夹角
θ

4)
边缘参数阈值确定:根据标靶图像上的几何信息,迭代计算边缘参数阈值;
5)
边缘提取:根据步骤
4)
获得的边缘参数阈值实现对标靶图像中边缘的检测;
6)
标靶定位:根据步骤
5)
获得的边缘计算标靶中心位置;其中,步骤
4)
具体如下:设计
Zernike
矩边缘判定条件为:
l≥l
t
∩k≤k
t
∩h
t
≤h≤h
t
+
β
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)
其中,
l
t
为模板的内切圆圆心到边缘的垂直距离阈值,采用大小为
N
×
N
的模板对标靶图像的像素灰度值矩阵进行卷积,并取边缘阶跃强度阈值
G
max
为步骤
2)
的标靶图像中像素的最大灰度值;
β
为灰度值范围系数,在
15

30
之间取值;背景灰度阈值
h
t
由二分法迭代寻找最佳直线拟合优度获得,具体如下:步骤一

标靶图像扇形交界处的上





右四条直线分别记为
l1、l2、l3、l4;步骤二

计算标靶图像中像素的平均灰度值
Gm
,由平均灰度值
Gm
设定二分法的上界
Gm+
γ
和下界
Gm

γ
,一般
γ

40
;步骤三

设定损失函数
Ep
由直线
l1、l2上的各边缘点用最小二乘方法拟合出的直线
L
m
的拟合程度
R
sm
以及直线
l3、l4上的各边缘点用最小二乘方法拟合出的直线
L
n
的拟合程度
R
sn
相加获得,即:
Ep

R
sm
+R
sn
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
步骤四

由二分法在
[Gm

γ
,Gm+
γ
]
区间内查找出损失函数
Ep
小于损失函数阈值的背景灰度阈值
h
t
,若
[Gm

γ
,Gm+
γ
]
区间内损失函数
Ep
小于损失函数的搜索结果为空,则增大
γ
值或损失函数阈值,重新查找损失函数
Ep
小于损失函数阈值的背景灰度阈值
h
t
,直到找到为止
。2.
根据权利要求1所述一种基于
Zernike
矩和几何约束的标靶定位方法,其特征在于:步骤
2)
中采用
Lanczos
方法对感兴趣的区域图像进行三倍插值;
Lanczos
核的计算式为:
其中,
d
表示当前中心像素点与附近9个像素点的距离,
r
表示插值半径,
r
取值为
4。3.
根据权利要求1所述一种基于
Zernike

【专利技术属性】
技术研发人员:吴小锋陈张林徐洪炳宋建娜刘洪江岑仰润
申请(专利权)人:杭州市城市建设投资集团有限公司
类型:发明
国别省市:

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