一种轨迹生成方法技术

本申请提出一种轨迹生成方法

【技术实现步骤摘要】
一种轨迹生成方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及自动化加工
，特别涉及为一种轨迹生成方法
、
装置
、
设备及介质
。

技术介绍

[0002]在常规的铸件生产制造过程中，在铸件的时候，铁水浇进去的地方，会存在过于高的部件，将过于高的部件折断了，剩下的部分叫余根，但余跟由于折断能力不同，造成的不规则排序
(
有高余根和低余根
)
，常规设备无法适应余根变化，且由于工形变量大，出现的余根不固定，固定打磨轨迹打磨时间较长，打磨效率低，在无余根处依旧打磨，人工示教效率低下
。
[0003]因此，亟需一种可以针对余跟打磨轨迹的轨迹生成方法
。

技术实现思路

[0004]针对上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种轨迹生成方法，用于解决产品铸件中，存在不规则区域打磨效率低的问题
。
[0005]根据本专利技术的实施方案，提供第一个方案为：一种轨迹生成方法，其特征在于，所述方法包括：对模板产品进行扫描，得到与所述模板产品对应的三维模板图像；获取所述模板产品的第一基准面；根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像；根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹；根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹
。
[0006]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像点，包括：以所述第一基准面为第一平面；将所述三维模板图像以第一平面为基准，测量在所述三维模板图像中的多个部件的高度值；将低于第一预设高度的高度值对应的部件图像删除，得到有效三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于所述第一预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第一目标三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于第二预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第二目标三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于第三预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第三目标三维模板图像；组合所述第一目标三维模板图像
、
所述第二目标三维模板图像和所述第三目标三维模板图像得到至少一张三维模板图像
。
[0007]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹，包括：获取所述至少一个目标三维模板图像中每个三维模板图像的目标高度值；按照所述目标高度值由大到小对所述至少一条轨迹进行排列，形成目标轨迹
。
[0008]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹，包括：以目标距离为半径形成第一圆点；将所述第一圆点均匀的复制在所述至少一张目标三维模板图像中，得到第一待处理三维模板图像；以所述第一圆点的圆心为中心，生成至少一种工具框；根据所述至少
一种工具框对所述第一待处理三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹
。
[0009]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述至少一种工具框包括第一工具框和第二工具框，所述根据所述至少一种工具框对所述第一待处理三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹，包括：以所述第一圆点的圆心为中心，生成多个第一工具框；根据所述多个第一工具框识别所述第一待处理三维模板图像，得到在所述第一待处理三维模板图像中的多个有效点；将所述多个有效点垂直平落在所述第一基准面上，得到第二待处理三维模板图像；以所述第一圆点的圆心为中心，生成多个第二工具框；根据所述第二工具框识别所述第二待处理三维模板图像，得到在所述第二待处理三维模板图像中的多个有效点；将所述第二待处理三维模板图像中的多个有效点进行轨迹处理，得到所述至少一条轨迹
。
[0010]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述将所述第二待处理三维模板图像中的多个有效点进行轨迹处理，得到所述至少一条轨迹，包括：将所述多个有效点进行过滤，得到过滤后的有效点；根据所述三维模板图像建立第一空间坐标系，所述第一空间坐标系包含
X
轴
、Y
轴和
Z
轴，所述
X
轴
、Y
轴与
Z
轴两两互相垂直；将所述过滤后的有效点沿着所述
Z
轴移动目标高度，得到多个目标有效点；连接所述目标有效点，得到所述至少一条轨迹
。
[0011]进一步地，作为本专利技术一种更为优选地实施方案，所述将所述多个有效点进行过滤，得到过滤后的有效点，包括：获取所述多个有效点中每个有效点的第一距离；筛选出超过预设距离阈值的目标第一距离；获取所述目标第一距离对应的有效点为过滤后的有效点
。
[0012]根据本专利技术的实施方案，利用本专利技术提供第二个方案为：一种轨迹生成装置，其特征在于，所述装置包括：扫描模块，用于对模板产品进行扫描，得到与所述模板产品对应的三维模板图像；获取模块，用于获取所述模板产品的第一基准面；筛选模块，用于根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像；处理模块，用于根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹；生成模块，用于根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹
。
[0013]根据本专利技术的实施方案，利用本专利技术提供第三个方案为：一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，所述程序包括用于如第一方案的指令
。
[0014]根据本专利技术的实施方案，利用本专利技术提供第四个方案为：提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有一条或多条指令，所述一条或多条指令适于由处理器加载并执行如上述第一方案及其任一种可能的实现方式的步骤
。
[0015]本申请先对模板产品进行扫描，得到与所述模板产品对应的三维模板图像，获取所述模板产品的第一基准面，其次，根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像，然后，根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹，最后根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹
。
通过本专利技术可先获取模板产品的第一基准面，并基于基准面确定模板产品中符合要求的模板图像，根据目标距离对符合要求的模板图像生成轨迹，该轨迹用于打磨模板产品，提高了轨迹生成的准确性和高效性，大幅提高单位生产效率
。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或
技术介绍
中的技术方案，下面将对本申请实施例或
技术介绍
中所需要使用的附图进行说明
。
[0017]图1为本申请实施例提供的一种轨迹生成方法的流程示意图；
[0018]图
2A
为本申请实施例提供的一种三维模板图像示意图；
[0019]图<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种轨迹生成方法，其特征在于，所述方法包括：对模板产品进行扫描，得到与所述模板产品对应的三维模板图像；获取所述模板产品的第一基准面；根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像；根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹；根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一基准面对所述三维模板图像进行筛选，得到至少一张目标三维模板图像点，包括：以所述第一基准面为第一平面；将所述三维模板图像以第一平面为基准，测量在所述三维模板图像中的多个部件的高度值；将低于第一预设高度的高度值对应的部件图像删除，得到有效三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于所述第一预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第一目标三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于第二预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第二目标三维模板图像；在有效三维模板图像中，将高于第三预设高度的高度值对应的部件图像保留，得到第三目标三维模板图像；组合所述第一目标三维模板图像
、
所述第二目标三维模板图像和所述第三目标三维模板图像得到至少一张三维模板图像
。3.
根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述至少一条轨迹生成目标轨迹，包括：获取所述至少一个目标三维模板图像中每个三维模板图像的目标高度值；按照所述目标高度值由大到小对所述至少一条轨迹进行排列，形成目标轨迹
。4.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据目标距离依次对所述至少一张目标三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹，包括：以目标距离为半径形成第一圆点；将所述第一圆点均匀的复制在所述至少一张目标三维模板图像中，得到第一待处理三维模板图像；以所述第一圆点的圆心为中心，生成至少一种工具框；根据所述至少一种工具框对所述第一待处理三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹
。5.
根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述至少一种工具框包括第一工具框和第二工具框，所述根据所述至少一种工具框对所述第一待处理三维模板图像进行轨迹处理，得到至少一条轨迹，包括：以所述第一圆点的圆心为中心，生成多个第一工具框；根据所述多个第一工具框识别所述第一待处理三维模板图像，得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴晓彬，陈方，席豪圣，卢绍粦，
申请(专利权)人：群滨智造科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：