新型传感器质量检测装置制造方法及图纸

新型传感器质量检测装置，包括框架

【技术实现步骤摘要】
新型传感器质量检测装置


[0001]本技术涉及检测设备
，特别是一种新型传感器质量检测装置
。

技术介绍

[0002]基于
CIS
传感器（也称为
CIS
工业相机）的检测机构，是一种集光源
、
镜头
、
光电转换芯片于一体，对物体进行高精度扫描检测的设备，工作时将采集的物体信号输出到配套的
PC
机，
PC
机显示界面显示出物品无畸变
1:1
的完整图像
。
相较于现有基于普通工业相机的检测机构，
CIS
传感器检测机构不需要调整光路和景深等，具有结构简单
、
体积小
、
应用方便等优点，在一些应用场合
CIS
传感器检测机构比 CCD
或 COMS
等传感器检测机构有着无法比拟的优点
。
[0003]由于
CIS
传感器检测机构占用空间小，可贴近待检测物体进行单面及双面的在线同步检测，因此其广泛应用在了板材
、
卷材
、
电池制造
、PCB
板孔洞
、
服装制版
、
纺织材料（上述下文统称为产品）等行业的质量检测，检测时，生产设备带动产品不断从两套
CIS
传感器检测机构之间经过，质检人员通过
PC
机的显示界面就可在线检测产品质量（现有技术中，还有利用
AI
的检测设备，能在
CIS
传感器检测到产品质量问题时，生成提示信号），发现产品质量时能及时进行处理，保证了产品质量
。
虽然现有的
CIS
传感器检测机构一定程度上实现了产品的双面质量检测，但是受到技术所限还是存在一些技术问题
。
比如我国专利号“201922478458 .9”、
专利名称“一种基于
CIS
传感器的铝箔生产质量在线检测系统”，其记载到“本技术采用
CIS
传感器检测生产的铝箔的表面质量，虽然
CIS
传感器属于接触式传感器，但是其存在焦距，可通过改变
CIS
传感器的焦距使得
CIS
传感器与铝箔表面不接触
。
因此，基于
CIS
传感器对铝箔生产质量进行在线检测，在满足工业视觉检测要求的同时，成本更低
、
精度更高
、
占用空间更小”。
上述可见，对比专利无论是应用于产品的一侧面或者另一侧面的同步检测，和现有其他本领域技术一样，当产品的厚度发生变化时，或者因各种原因造成
CIS
传感器位移等和产品焦距发生变化时，为了达到好的图像采集效果，那么就需要工作人员手动反复调节其和物品之间的间距（焦距），这样会给工作人员带来不便，且工作人员不具有相当经验时，存在焦距调节不当，对在线图像采集带来不利影响（比如图像相对不清晰）
。
综上，提供一种能自动调节和产品上下端之间焦距（间距）的检测装置显得尤为必要
。

技术实现思路

[0004]为了克服现有
CIS
传感器检测机构由于结构所限，应用于产品质量检测存在如背景所述弊端，本技术提供了一种基于
CIS
传感器检测机构本体，应用中，在相关机构和电路共同作用下，能自动保证两套
CIS
传感器检测机构本体和产品上下端面的间距，保证了产品质量的检测基础上，还给检测人员带来了便利的新型传感器质量检测装置
。
[0005]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0006]新型传感器质量检测装置，包括框架
、AC
‑
DC
电源
、
激光测距仪
、CIS
传感器检测机
构本体
、
电动推杆；其特征在于，还具有第一控制电路
、
第二控制电路；所述
CIS
传感器检测机构本体和激光测距仪各具有两套，电动推杆至少有两套，两套电动推杆
、
两套激光测距仪分别安装在框架内上端及内下端，两套
CIS
传感器检测机构本体的壳体分别和两套电动推杆的活动柱安装在一起；所述
AC
‑
DC
电源
、
第一控制电路
、
第二控制电路安装在元件盒内，被检测产品位于两套
CIS
传感器检测机构本体的探测面之间；所述第一控制电路
、
第二控制电路的电源输出端和两套电动推杆的电源输入端分别电性连接，两套激光测距仪的信号输出端和第一控制电路及第二控制电路的信号输入端分别电性连接
。
[0007]进一步地，所述产品的宽度小于
CIS
传感器检测机构本体的探测面横向宽度
。
[0008]进一步地，所述两套
CIS
传感器检测机构本体的探测面处于面对面结构
。
[0009]进一步地，所述两套激光测距仪的探测头分别对准两套
CIS
传感器检测机构本体的壳体外侧
。
[0010]进一步地，所述第一控制电路
、
第二控制电路均包括第一触发子电路和第二触发子电路，第一触发子电路包括电性连接的可调电阻
、
电阻
、NPN
三极管和继电器，继电器正极电源输入端及正极控制电源输入端连接，可调电阻一端和第一只电阻一端
、
第二只电阻一端连接，第二只电阻另一端和
NPN
三极管连接，
NPN
三极管基集电极和继电器负极电源输入端连接，继电器负极控制电源输入端和
NPN
三极管发射极
、
第一只电阻另一端连接
。
[0011]本技术有益效果是：本技术基于
CIS
传感器检测机构本体，具有普通
CIS
传感器检测机构的所有功能，应用中，当产品不断经过两套
CIS
传感器检测机构本体的检测面之间时，两套控制电路协同激光测距仪能自动控制两套
CIS
传感器检测机构本体的探测面和产品上下端面之间的间距，这样，由于不需要人为进行调节，给检测人员带来了便利，且由于能保证
CIS
传感器检测机构本体探测面和产品上下端面的间距，因此能为上位机清楚显示产品图像起到有利技术支持，综上，本新型具有好的应用前景
。
附图说明
[0012]下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明
。
[0013]图1为本技术结构示意图
。
[0014]图2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
新型传感器质量检测装置，包括框架
、AC
‑
DC
电源
、
激光测距仪
、CIS
传感器检测机构本体
、
电动推杆；其特征在于，还具有第一控制电路
、
第二控制电路；所述
CIS
传感器检测机构本体和激光测距仪各具有两套，电动推杆至少有两套，两套电动推杆
、
两套激光测距仪分别安装在框架内上端及内下端，两套
CIS
传感器检测机构本体的壳体分别和两套电动推杆的活动柱安装在一起；所述
AC
‑
DC
电源
、
第一控制电路
、
第二控制电路安装在元件盒内，被检测产品位于两套
CIS
传感器检测机构本体的探测面之间；所述第一控制电路
、
第二控制电路的电源输出端和两套电动推杆的电源输入端分别电性连接，两套激光测距仪的信号输出端和第一控制电路及第二控制电路的信号输入端分别电性连...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘玉麟，蒋涛，罗浩丁，
申请(专利权)人：上海采起电子技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：