【技术实现步骤摘要】
一种探针与测试板对接锁紧结构
[0001]本技术涉及测试板对接
,具体的说是一种探针与测试板对接锁紧结构
。
技术介绍
[0002]现有技术中常见的的半导体芯片测试设备中,探针头大多固定在测试接口板上,探针内部安装有弹簧,测试电路板与探针接触后,通过省力结构将装有测试电路板的加强筋下压最终与探针头对接固定,测试电路板下压探针内部弹簧产生的压缩量反作用力从而保证紧密对接,以确保对接质量
。
[0003]如授权公告号为
CN217085045U
的专利,公开了一种用于集成电路测试设备中的探针与测试板的对接结构,包括测试平台,所述测试平台上安装有探针头安装座,所述探针头安装座上安装有若干个探针头;探针升降机构,所述探针升降机构用于驱动探针头安装座进行升降运动;测试板加强筋,用于安装测试板卡,所述测试板加强筋与测试平台可拆卸式固定连接;所述探针升降机构驱动探针头安装座升降运动的过程中实现探针头与测试板卡的接触和分离
。
[0004]上述专利解决了现有技术中安装测试板卡容易出现对探针针尖磨损甚至折弯的问题,但是,上述专利采用连杆作为连接与省力结构,但连接结构主动杆采用旋转方式带动其余从动杆出力,从动连杆带动两侧滑块,滑块两侧安装有滚轴,滚轴在立板导向槽中做横向平移,滑块上安装锁紧滑槽,滑块平移时带动锁紧滑槽下压板卡固定框两侧的滚轴从而下拉整个板卡组件实现探针头与板卡的对接,此种出力方式在两端跨度过大时,有三个缺点,一是对出力的放大倍数有限,接头过多时费力,二是连杆过 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种探针与测试板对接锁紧结构,包括底座
(1)
,其特征在于:所述底座
(1)
顶部固定安装有安装顶板
(8)
,安装顶板
(8)
底部错位安装有平移滑块
(14)
,平移滑块
(14)
顶部固定安装有联动滚轴
(21)
,联动滚轴
(21)
外侧滑动安装有摆杆旋转座
(16)
,摆杆旋转座
(16)
外侧固定安装有主动摆杆
(20)
,两个主动摆杆
(20)
之间转动安装有连杆
(17)
,其一主动摆杆
(20)
内部活动套接有加力杆
(19)
,未套接加力杆
(19)
一侧的摆杆旋转座
(16)
与联动滚轴
(21)
之间滑动安装有从动摆杆
(15)。2.
如权利要求1所述的一种探针与测试板对接锁紧结构,其特征在于:所述安装顶板
(8)
顶部滑动安装有测试板卡
(4)
,测试板卡
(4)
中部贯穿开设有多个对接槽
(3)
,安装顶板
(8)
顶部固定安装有多个探针头
(11)
,探针头
(11)
与对接槽
(3)
相匹配
。3.
如权利要求2所述的一种探针与测试板对接锁紧结构,其特征在于:所述测试板卡
(4)
外侧固定安装有板卡固定框
(5)
,板卡固定框
(5)
两对称侧开设有多个定位导...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱磊,黄世雄,
申请(专利权)人:悦芯科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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