一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极技术方案

技术编号:39691499 阅读:6 留言:0更新日期:2023-12-14 20:30
本申请属于粉体材料静电放电安全性评价技术领域,公开了一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极,包括金属接地基座,金属接地基座上设置聚合物隔离柱,聚合物隔离柱上设置柱状金属电极和陶瓷加热片,陶瓷加热片连接有电源和温度控制器,柱状金属电极上端套设有陶瓷套管,柱状金属电极上端面与陶瓷套管内壁形成粉体样品槽,柱状金属电极和金属接地基座上分别设置有第一、第二电流测试接线柱,第一电流测试接线柱通过导线连接电流分流器再连接到第二电流测试接线柱,柱状金属电极上设置有温度探头,温度探头连接到温度控制器上。通过陶瓷加热片对柱状金属电极加热以调节粉体样品的温度,从而测量不同温度下粉体样品的静电放电感度。静电放电感度。静电放电感度。

【技术实现步骤摘要】
一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极


[0001]本技术涉及粉体材料静电放电安全性评价
,特别涉及一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极。

技术介绍

[0002]火炸药粉体材料是可以在极短时间内发生剧烈燃烧或爆炸的一类物质。一般情况下,火炸药的化学及物理性质比较稳定,但是,在冲击、高温等条件激发下会发生燃烧或爆炸,如果使用不当会产生意外燃爆,造成人员和财产的重大损失。因此,火炸药粉体材料在生产、储存、运输和使用过程中的安全性至关重要。
[0003]静电起电和放电过程是自然界普遍存在的一种物理现象,而静电放电过程可以在局部产生足以激发火炸药燃爆的能量,从而造成爆炸事故,所以火炸药粉体的静电放电安全性非常重要,对火炸药粉体进行静电放电感度试验是做好火炸药安全防护的主要依据。
[0004]目前,火炸药粉体的静电放电感度试验都是在实验室的常温环境下进行的,不考虑温度的影响。但是,在不同的实际应用环境中,温度的变化范围比较大,如南方和北方、冬天和夏天,环境温度变化非常大,特别是在室外高温环境下,粉体材料对静电放电的敏感性会有显著变化。因此,有可能会出现在低温和潮湿的环境中对静电放电比较安全的火炸药粉体材料,在高温干燥的环境中可能就变得不安全。可见,开展不同温度下的火炸药粉体材料的静电放电感度试验对于火炸药粉体材料的静电放电安全与防护变得至关重要。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题,本技术提供一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极。
[0006]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极,包括金属接地基座,所述金属接地基座上设置有聚合物隔离柱,所述聚合物隔离柱上设置有柱状金属电极,所述聚合物隔离柱上端还设置有对柱状金属电极加热的陶瓷加热片,所述陶瓷加热片连接有电源和温度控制器,所述柱状金属电极上端套设有陶瓷套管,所述陶瓷套管的上端面高于柱状金属电极上端面,所述柱状金属电极上端面与陶瓷套管内壁形成粉体样品槽,所述柱状金属电极和金属接地基座上分别设置有第一电流测试接线柱和第二电流测试接线柱,所述第一电流测试接线柱通过导线连接电流分流器再连接到第二电流测试接线柱,所述电流分流器连接示波器,所述柱状金属电极上设置有温度探头,所述温度探头连接到温度控制器上。
[0007]通过采用上述技术方案,设置金属接地基座、聚合物隔离柱、柱状金属电极、陶瓷加热片、陶瓷套管、粉体样品槽、第一电流测试接线柱、第二电流测试接线柱和温度探头,将粉体样品放置在粉体样品槽内,通过陶瓷加热片对柱状金属电极加热以调节粉体样品的温度,再通过柱状金属电极、第一电流测试接线柱、电流分流器、第二电流测试接线柱、金属接地基座形成放电回路,从而测量不同温度下粉体样品的静电放电感度。
[0008]进一步的,所述柱状金属电极上部设置有外螺纹,所述陶瓷套管内设置有内螺纹,所述陶瓷套管螺旋连接在柱状金属电极上端。
[0009]通过采用上述技术方案,将陶瓷套管螺旋连接在柱状金属电极上端,这样可以通过旋转陶瓷套管调整粉体样品槽的深度,从而调整粉体样品槽的装载量;在测试完成后,也可以将陶瓷套管旋拧出来以便清理柱状金属电极上端和陶瓷套管内壁的残留物。
[0010]进一步的,所述柱状金属电极中部设置有直径大于柱体本身的圆盘,所述陶瓷加热片设置在聚合物隔离柱上端面和圆盘下盘面之间且与圆盘下盘面贴合,所述第一电流测试接线柱、温度探头均设置在圆盘内。
[0011]通过采用上述技术方案,在柱状金属电极中部设置一个直径大于柱体本身的圆盘,主要用于陶瓷加热片的安装,以及增大柱状金属电极与陶瓷加热片之间的接触面积,提高加热效率。
[0012]进一步的,所述柱状金属电极下端与聚合物隔离柱之间采用螺纹连接。
[0013]通过采用上述技术方案,将柱状金属电极下端与聚合物隔离柱之间采用螺纹连接,这样便于调节柱状金属电极在聚合物隔离柱内的深度,从而调节圆盘与陶瓷加热片之间的贴合紧密度,提高加热效率。
[0014]进一步的,所述温度探头表面包裹有导热绝缘胶。
[0015]通过采用上述技术方案,在温度探头表面包裹导热绝缘胶,可准确测量柱状金属电极的同时,避免放电电流到金属材质的微型温度探头的泄漏,影响放电电流测试的准确性。
[0016]进一步的,所述聚合物隔离柱为由聚四氟乙烯材料制成的隔离柱。
[0017]通过采用上述技术方案,采用聚四氟乙烯材料制成聚合物隔离柱,可以形成柱状金属电极与聚合物隔离柱之间的紧固连接,避免试验过程中柱状金属电极松动或脱落;使用聚四氟乙烯还可以实现柱状金属电极与金属接地基座之间的绝热隔离,避免陶瓷加热片的热量损失,同时,也可以降低柱状金属电极与金属接地基座之间的分布电容,提高柱状金属电极与金属接地基座之间的高压绝缘性质。
[0018]综上所述,本技术具有以下有益效果:本申请中,通过设置金属接地基座、聚合物隔离柱、柱状金属电极、陶瓷加热片、陶瓷套管、粉体样品槽、第一电流测试接线柱、第二电流测试接线柱和温度探头,将粉体样品放置在粉体样品槽内,通过陶瓷加热片对柱状金属电极加热以调节粉体样品的温度,再通过柱状金属电极、第一电流测试接线柱、电流分流器、第二电流测试接线柱、金属接地基座形成放电回路,从而测量不同温度下粉体样品的静电放电感度。
附图说明
[0019]图1是本技术实施例的整体结构示意图。
[0020]图中:1、金属接地基座;2、聚合物隔离柱;3、柱状金属电极;4、陶瓷加热片;5、温度控制器;6、陶瓷套管;7、粉体样品槽;8、第一电流测试接线柱;9、第二电流测试接线柱;10、电流分流器;11、温度探头;301、圆盘。
具体实施方式
[0021]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述;显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0022]如图1所示,本申请实施例公开一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极,包括金属接地基座1、聚合物隔离柱2、柱状金属电极3、陶瓷加热片4、陶瓷套管6、粉体样品槽7、第一电流测试接线柱8、第二电流测试接线柱9、电流分流器10、温度探头11、温度控制器5。
[0023]金属接地基座1用于接地以及对柱状金属电极3、聚合物隔离柱2等的支撑作用,形成一个可移动的下电极整体结构,其上设置有第二电流测试接线柱9。
[0024]聚合物隔离柱2布置在金属接地基座1和柱状金属电极3之间,其下端与金属接地基座1连接,上端与柱状金属电极3连接,用于柱状金属电极3与金属接地基座1的绝缘、绝热隔离,避免放电电流直接通过柱状金属电极3到金属接地基座1形成放电回路。聚合物隔离柱2采用聚四氟乙烯材料制成,可以使柱状金属电极3与聚合物隔离柱2之间的紧固本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电极,其特征是:包括金属接地基座(1),所述金属接地基座(1)上设置有聚合物隔离柱(2),所述聚合物隔离柱(2)上设置有柱状金属电极(3),所述聚合物隔离柱(2)上端还设置有对柱状金属电极(3)加热的陶瓷加热片(4),所述陶瓷加热片(4)连接有电源和温度控制器(5),所述柱状金属电极(3)上端套设有陶瓷套管(6),所述陶瓷套管(6)的上端面高于柱状金属电极(3)上端面,所述柱状金属电极(3)上端面与陶瓷套管(6)内壁形成粉体样品槽(7),所述柱状金属电极(3)和金属接地基座(1)上分别设置有第一电流测试接线柱(8)和第二电流测试接线柱(9),所述第一电流测试接线柱(8)通过导线连接电流分流器(10)再连接到第二电流测试接线柱(9),所述电流分流器(10)连接示波器,所述柱状金属电极(3)上设置有温度探头(11),所述温度探头(11)连接到温度控制器(5)上。2.根据权利要求1所述的一种温度耦合粉体静电放电感度试验系统的下电...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙铭泽靳昌宾孙静
申请(专利权)人:中国兵器工业火炸药工程与安全技术研究院
类型:新型
国别省市:

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