一种基于全景图的缺陷点位显示方法技术

本申请提供一种基于全景图的缺陷点位显示方法

【技术实现步骤摘要】
一种基于全景图的缺陷点位显示方法、装置及存储介质


[0001]本申请涉及缺陷检测
，具体涉及一种基于全景图的缺陷点位显示方法
、
装置及存储介质
。

技术介绍

[0002]印刷电路板
(PrintedCircuitBoard
，
PCB)
的工业生产中由于生产工艺及材料的原因，可能会产生缺陷，比如气泡
、
划伤
、
阻焊等缺陷，影响产品的良率
。
最早的缺陷检测的方法依赖于人工目测，该方法是由操作人员借助放大镜或校准的显微镜通过肉眼检测被检板是否存在缺陷
。
可知，上述方法完全依赖于肉眼的检测结果，费时费力，且自动化程度较差
。
为了解决上述技术问题，相关技术提供了基于自动光学检测手段进行缺陷检测的方法，该方法通过各种图像处理方法
(
如灰度化
、
二值处理
、
特征提取
、
特征检测等
)
对获取被检板
(PNL)
的图像进行处理，并根据处理后的图像与模板之间的匹配结果来自动检测被检板是否存在缺陷
。
[0003]现有的自动光学检测系统，其主要包括首检系统和复检系统；其中首检系统通过获取被检板的全景图片，基于自动光学检测手段进行缺陷检测，输出缺陷小图集合；其中复检系统获取首检系统输出的缺陷小图集合，通过人工方式对缺陷小图进行复判，从而确定被检板上报废的最小独立单元<br/>(PCS)。
[0004]专利技术人发现，复检员若想了解被检
PNL
的缺陷点位分布情况以快速识别被检
PNL
是否异常，则需要复检系统显示被检
PNL
的全景图并在全景图中标注显示所有的缺陷点位
。
然而现有的复检系统未在被检
PNL
的全景图中标注显示所有缺陷点位
。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请提供了一种基于全景图的缺陷点位显示方法
、
装置及存储介质，以解决现有技术中未在全景图中标注显示所有缺陷点位的技术问题
。
[0006]第一方面，本申请提供了一种基于全景图的缺陷点位显示方法，应用于复检系统，所述方法包括：
[0007]获取待检板全景图的栅格分割规则
、
待检板的缺陷小图集合；其中，缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息；
[0008]基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，得到目标坐标集合；其中，栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；
[0009]基于所述目标坐标集合，在待检板的全景图像上生成缺陷标记并显示
。
[0010]在一个实施方式中，所述基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，包括：
[0011]基于所述栅格分割规则
、
缺陷对应所在栅格图的标识信息，确定缺陷的坐标偏移量；
[0012]根据缺陷相对于栅格图的坐标信息
、
缺陷的坐标偏移量，计算得到缺陷相对于全
景图的坐标信息
。
[0013]第二方面，本申请提供了一种缺陷小图生成方法，应用于首检系统，所述方法包括：
[0014]获取待检板全景图，基于待检板全景图的栅格分割规则对所述待检板全景图进行图像分割，得到栅格图集合；其中，所述栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；
[0015]基于预设的缺陷识别模型，识别栅格图上的缺陷并根据识别出的缺陷生成缺陷小图，得到待检板的缺陷小图集合；其中，所述缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息
。
[0016]第三方面，本申请提供了一种基于全景图的缺陷点位显示方法，应用于自动光学检测系统，所述自动光学检测系统包括首检系统和复检系统，所述方法包括：
[0017]所述首检系统获取待检板全景图，基于待检板全景图的栅格分割规则对所述待检板全景图进行图像分割，得到栅格图集合；其中，所述栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；基于预设的缺陷识别模型，识别栅格图上的缺陷并根据识别出的缺陷生成缺陷小图，得到待检板的缺陷小图集合；其中，所述缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息；
[0018]所述复检系统获取所述复检系统生成的所述缺陷小图集合
、
所述栅格分割规则；基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，得到目标坐标集合；基于所述目标坐标集合，在待检板的全景图像上生成缺陷标记并显示
。
[0019]在一个实施方式中，所述基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，包括：
[0020]基于所述栅格分割规则
、
缺陷对应所在栅格图的标识信息，确定缺陷的坐标偏移量；
[0021]根据缺陷相对于栅格图的坐标信息
、
缺陷的坐标偏移量，计算得到缺陷相对于全景图的坐标信息
。
[0022]第四方面，本申请提供了一种基于全景图的缺陷点位显示装置，应用复检系统，所述装置包括：
[0023]获取模块，用于获取待检板全景图的栅格分割规则
、
待检板的缺陷小图集合；其中，缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息；
[0024]坐标转换模块，用于基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，得到目标坐标集合；其中，栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；
[0025]缺陷标记模块，用于基于所述目标坐标集合，在待检板的全景图像上生成缺陷标记并显示
。
[0026]第五方面，本申请提供了一种缺陷小图生成装置，应用于首检系统，所述装置包括：
[0027]分割栅格模块，用于获取待检板全景图，基于待检板全景图的栅格分割规则对所述待检板全景图进行图像分割，得到栅格图集合；其中，所述栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；
[0028]缺陷小图模块，用于基于预设的缺陷识别模型，识别栅格图上的缺陷并根据识别出的缺陷生成缺陷小图，得到待检板的缺陷小图集合；其中，所述缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息
。
[0029]第六方面，本申请提供了一种自动光学检测系统，包括：第四方面所述的基于全景图的缺陷点位显示装置和第五方面所述的缺陷小图生成装置
。
[0030]第七方面，本申请提供了一种计算机设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种基于全景图的缺陷点位显示方法，其特征在于，应用于复检系统，所述方法包括：获取待检板全景图的栅格分割规则
、
待检板的缺陷小图集合；其中，缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息；基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，得到目标坐标集合；其中，栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；基于所述目标坐标集合，在待检板的全景图像上生成缺陷标记并显示
。2.
根据权利要求1所述的基于全景图的缺陷点位显示方法，其特征在于，所述基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，包括：基于所述栅格分割规则
、
缺陷对应所在栅格图的标识信息，确定缺陷的坐标偏移量；根据缺陷相对于栅格图的坐标信息
、
缺陷的坐标偏移量，计算得到缺陷相对于全景图的坐标信息
。3.
一种缺陷小图生成方法，其特征在于，应用于首检系统，所述方法包括：获取待检板全景图，基于待检板全景图的栅格分割规则对所述待检板全景图进行图像分割，得到栅格图集合；其中，所述栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；基于预设的缺陷识别模型，识别栅格图上的缺陷并根据识别出的缺陷生成缺陷小图，得到待检板的缺陷小图集合；其中，所述缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息
。4.
一种基于全景图的缺陷点位显示方法，其特征在于，应用于自动光学检测系统，所述自动光学检测系统包括首检系统和复检系统，所述方法包括：所述首检系统获取待检板全景图，基于待检板全景图的栅格分割规则对所述待检板全景图进行图像分割，得到栅格图集合；其中，所述栅格图的标识信息与所述栅格分割规则相适应；基于预设的缺陷识别模型，识别栅格图上的缺陷并根据识别出的缺陷生成缺陷小图，得到待检板的缺陷小图集合；其中，所述缺陷小图携带有对应所在栅格图的标识信息及缺陷相对于所述栅格图的坐标信息；所述复检系统获取所述复检系统生成的所述缺陷小图集合
、
所述栅格分割规则；基于所述栅格分割规则，将缺陷相对于栅格图的坐标信息转换成缺陷相对于全景图的坐标信息，得到目标坐标集合；基于所述目标坐标集合，在待检板的全景图像上生成缺陷标记并显示
。5.
根据权利要求4所述的基于全景图的缺陷点位显示方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张弛，侯晓峰，刘远刚，
申请(专利权)人：上海感图网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：