一种波分复用组件的耦合方法技术

本申请提供了一种波分复用组件的耦合方法

【技术实现步骤摘要】
一种波分复用组件的耦合方法、装置、系统及介质


[0001]本申请涉及波分复用
，尤其涉及一种波分复用组件的耦合方法
、
装置
、
系统及介质
。

技术介绍

[0002]波分复用是将两种或多种不同波长且携带光载波信号在发送端经复用器汇合在一起，并由同一根光纤中进行传输的技术；在接收端，经解复用器将各种波长的光载波信号分离，然后由光接收机作进一步处理以恢复原信号
。
这种在同一根光纤中同时传输两个及以上不同波长光信号的技术，称为波分复用
。
[0003]波分复用系列的光发射模块通常由不同波长的多个激光芯片
、
透镜组件
、
主控电路板等部分组成；其中，透镜组件包括透镜主体和多个与激光芯片对应的滤波片；透镜组件在进行组装时，需要保证透镜组件与电路板上的激光芯片耦合；而由于光发射模块中的激光芯片数量较多，耦合精度较低，因此，如何保证各激光芯片的光功率值达到最佳，以及提高透镜组件与激光芯片的耦合精度是本领域亟待解决的问题
。

技术实现思路

[0004]本申请的主要目的在于提供一种波分复用组件的耦合方法
、
装置
、
系统及介质，至少能够解决相关技术中难以保证各激光芯片的光功率值达到最佳
、
透镜组件耦合精度较低的问题
。
[0005]为实现上述目的，本申请第一方面提供了一种波分复用组件的耦合方法，应用于波分复用组件耦合系统，所述波分复用组件耦合系统包括透镜组件及多个激光芯片；所述方法包括：
[0006]控制所述多个激光芯片分别向所述透镜组件发射光束；
[0007]获取多个光功率测量值，所述多个光功率测量值与所述多个激光芯片对应，所述多个光功率测量值中的任意一个光功率测量值为与其对应的激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值；
[0008]若所述多个光功率测量值中的每个光功率测量值均不满足与其对应的激光芯片关联的光功率范围，则控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位，以使所述透镜组件与所述多个激光芯片处于耦合状态；
[0009]其中，所述透镜组件处于所述目标方位时，所述多个激光芯片中的每个激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值均满足与其关联的光功率范围
。
[0010]本申请第二方面提供了一种波分复用组件的耦合装置，包括：
[0011]应用于波分复用组件耦合系统，所述波分复用组件耦合系统包括透镜组件及多个激光芯片；所述耦合装置包括：
[0012]第一控制模块，用于控制所述多个激光芯片分别向所述透镜组件发射光束；
[0013]获取模块，用于获取多个光功率测量值，所述多个光功率测量值与所述多个激光
芯片对应，所述多个光功率测量值中的任意一个光功率测量值为与其对应的激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值；
[0014]第二控制模块，用于若所述多个光功率测量值中的每个光功率测量值均不满足与其对应的激光芯片关联的光功率范围，则控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位，以使所述透镜组件与所述多个激光芯片处于耦合状态；其中，当所述透镜组件处于所述目标方位时，所述多个激光芯片中的每个激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值均满足相应激光芯片与其关联的光功率范围
。
[0015]本申请实施例第三方面提供了一种波分复用组件耦合，包括：透镜组件
、
激光芯片
、
存储器及处理器，其中，处理器用于执行存储在存储器上的计算机程序，处理器执行计算机程序时，实现上述本申请第一方面提供的波分复用组件的耦合方法中的各步骤
。
[0016]本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现上述本申请第一方面提供的波分复用组件的耦合方法中的各步骤
。
[0017]由上可见，根据本申请方案所提供的波分复用组件的耦合方法
、
装置
、
系统及介质，控制激光芯片向透镜组件发射光束；获取光束经过透镜组件后所对应的光功率测量值；若所有光功率测量值均不满足相应激光芯片关联的光功率范围，则控制透镜组件从初始方位调整至目标方位，以使透镜组件与激光芯片处于耦合状态；其中，当透镜组件处于目标方位时，所有光功率测量值均满足相应激光芯片关联的光功率范围
。
通过本申请方案的实施，当判断出各激光芯片的光功率测量值均不满足预设的光功率范围时，根据多个方位调整指标对透镜组件进行调整，当透镜组件到达目标方位时，即可保证各激光芯片的光功率值达到最佳，且保证透镜组件与激光芯片的耦合精度满足需求
。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0019]图1为本申请第一实施例提供的波分复用组件的耦合方法的基本流程示意图；
[0020]图2为本申请第二实施例提供的一种波分复用组件的耦合装置的模块示意图；
[0021]图3为本申请第三实施例提供的波分复用组件耦合系统的结构示意图
。
具体实施方式
[0022]为使得本申请的专利技术目的
、
特征
、
优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例
。
基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围
。
[0023]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量
。
由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征
。
在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两
个以上，除非另有明确具体的限定
。
[0024]为了解决相关技术中难以保证各激光芯片的光功率值达到最佳
、
透镜组件耦合精度较低的问题，本申请第一实施例提供了一种波分复用组件的耦合方法，应用于波分复用组件耦合系统，波分复用组件耦合系统包括透镜组件及多个
(
两个及两个以上
)
激光芯片；如图1为本实施例提供的波分复用组件的耦合方法的基本流程示意图，该波分复用组件的耦合方法包括以下的步骤：
[0025]步骤
101、
控制多个激光芯片分别向透镜组件发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种波分复用组件的耦合方法，其特征在于，应用于波分复用组件耦合系统，所述波分复用组件耦合系统包括透镜组件及多个激光芯片；所述方法包括：控制所述多个激光芯片分别向所述透镜组件发射光束；获取多个光功率测量值，所述多个光功率测量值与所述多个激光芯片对应，所述多个光功率测量值中的任意一个光功率测量值为与其对应的激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值；若所述多个光功率测量值中的每个光功率测量值均不满足与其对应的激光芯片关联的光功率范围，则控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位，以使所述透镜组件与所述多个激光芯片处于耦合状态；其中，所述透镜组件处于所述目标方位时，所述多个激光芯片中的每个激光芯片发射的光束经过所述透镜组件后的光功率测量值均满足与其关联的光功率范围
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位之前，所述方法还包括：获取所述多个激光芯片中的任意一个激光芯片的光功率参考值；计算所述光功率参考值与预设参数值的乘积，得到所述任意一个激光芯片关联的光功率范围
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述透镜组件包括多个滤波片，所述多个滤波片与所述多个激光芯片对应；在获取多个光功率测量值之前，所述方法还包括：获取每个所述激光芯片的发光点方位；控制所述透镜组件调整至光聚焦方位；其中，所述透镜组件处于所述光聚焦方位时，每个所述滤波片对准与其对应的激光芯片的发光点方位
。4.
根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位，包括：将所述多个光功率测量值分别和与其对应的预设光功率阈值进行比较，得到多个比较结果；根据所述多个比较结果中的至少一个比较结果，确定初始方位调整指标类型；根据所述初始方位调整指标类型确定相应的方位调整策略；其中，所述方位调整策略包括多个方位调整指标，所述方位调整指标的类型包括平移调整指标和
/
或旋转调整指标；参考所述方位调整策略控制所述透镜组件从初始方位调整至目标方位；其中，所述初始方位为所述光聚焦方位
。5.
根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个比较结果中至少一个比较结果，确定初始方位调整指标类型，包括：当目标比较结果为所述光功率测量值小于所述光功率阈值...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘家发，付全飞，杨勇，张宽，
申请(专利权)人：深圳市埃尔法光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：