【技术实现步骤摘要】
一种带有自动矫正功能的芯片测试装置
[0001]本专利技术涉及芯片测试
,特别涉及一种带有自动矫正功能的芯片测试装置
。
技术介绍
[0002]芯片测试是一个比较大的问题,直接贯穿整个芯片设计与量产的过程中,通常我们生长单晶是是按照
111
晶向进行提拉生长,但是由于各种外界因素,比如温度,提拉速度,以及量子力学的各种随机性,导致生长过程中会出现错位,这个就称为缺陷
。
缺陷产生还有一个原因就是离子注入导致的,即使退火也未能校正过来的非规整结构,这些存在于半导体中的问题,会导致器件的失效,进而影响整个芯片,从而使得需要对芯片进行测试从而获得合格的芯片产品
。
[0003]中国专利公告号为
CN111624464A
一种芯片测试装置及测试方法,包括测试设备主体
、
工作台和测试架,所述测试架的上端设置有升降板,所述升降板通过伸缩杆与测试架相连接,所述升降板的下方设置有压板,且压板通过连接柱与升降板相连接,所述压板的下表面设置有检测板
。
本专利技术所述的一种芯片测试装置及芯片测试方法,可以通过移动限位装置,避免固定柱与固定孔结合时发生松动,避免压板将放置腔中的芯片压坏,比较实用,通过拉动拉动杆使得拉动杆带动连接块移动,并在第二伸缩弹簧的作用下将芯片固定住,防止检测时芯片发生偏离,挡板之间的气囊被压紧,从而气囊与接触垫片相接触进而减小缓冲,避免放置腔中的芯片或者固定台发生损坏,上述专利中,通过拉动拉动杆使得拉动杆 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.
一种带有自动矫正功能的芯片测试装置,包括底板(1),其特征在于,所述底板(1)的四角位置开设有安装孔(
101
),所述底板(1)的表面固定安装有设备座(
102
),所述设备座(
102
)的顶端设置有顶板(
103
),所述顶板(
103
)上开设有活动槽(
104
),所述顶板(
103
)的中部位置固定连接有放置台(
105
),所述放置台(
105
)的上方位置设置有调节架(
106
),所述调节架(
106
)上固定连接有导线(
107
),所述调节架(
106
)顶端两侧固定连接有把手(
108
),所述把手(
108
)的底端固定连接有测试设备(
109
);还包括调节组件
、
矫正组件和限位组件,所述调节组件用于配合所述调节架(
106
)进行使用,所述矫正组件用于配合所述设备座(
102
)进行使用,所述限位组件用于配合所述矫正组件进行使用
。2.
根据权利要求1所述的一种带有自动矫正功能的芯片测试装置,其特征在于:所述调节组件包括固定安装在所述底板(1)上的一对固定座(2),一对所述固定座(2)上转动连接有第一阻尼轴(
201
),所述第一阻尼轴(
201
)上固定连接有第一活动板(
202
)
。3.
根据权利要求2所述的一种带有自动矫正功能的芯片测试装置,其特征在于:所述第一活动板(
202
)上转动连接有转轴(
203
),所述转轴(
203
)固定连接在对接块(
204
)上,所述对接块(
204
)的一侧固定连接有第一弹簧(
205
)
。4.
根据权利要求3所述的一种带有自动矫正功能的芯片测试装置,其特征在于:所述第一活动板(
202
)的另一端固定连接有第二阻尼轴(
206
),所述第二阻尼轴(
206
)上固定连接有第二活动板(
207
),所述第二活动板(
207
)的另一端固定连接有第三阻尼轴(
208
),所述第三阻尼轴(
208
)固定连接在所述调节架(
106
)上
。5.
根据权利要求1所述的一种带有自动矫正功能的芯片测试装置,其特征在于:所述矫正组件包括转动连接在所述设备座(
102
)内部的主轴(3),所述主轴(3)上固定连接有第一皮带轮(
301
),所述第一皮带轮(
301
)上套设有传动带(
302
),所述传动带(
302
)的另一端套设在第二皮带轮(
303
)上,所述第二皮带轮(
303
)固定连接在调节轴(
304
)上,所述调节轴(
304
)转动连接在所述底板(1)上,所述调节轴(
304
)的顶端固定连接有调节盘(
技术研发人员:常浩,刘增红,何佳,
申请(专利权)人:镇江矽佳测试技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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