服务器主板测试制造技术

本发明专利技术提供服务器主板测试

【技术实现步骤摘要】
服务器主板测试、边界扫描测试平台、BSI系统


[0001]本专利技术涉及服务器系统
，具体为服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统
。

技术介绍

[0002]随着电路技术进入超大规模集成时代，电路的高度复杂性以及多层印制板
、
表面贴装和多芯片模块技术在电路系统中的应用，都使得很多电路节点的物理可访问性正逐步削弱甚至消失，电路和系统的可测试性急剧下降，测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升，
AOI+ICT
的传统测试方案已经无法满足现行产品的测试和故障诊断，服务器市场中，持续增加的产量要求
、
更严格的质量要求，在产品复杂度日益增加的情况下，产品测试面临着巨大的挑战
。
[0003]边界扫描测试是一种基于软件的测试解决方案，硬件干预非常少
。
[0004]其优点包括
:1.
方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；
2.
具有
JTAG
接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计
。
[0005]现在，几乎所有复杂的芯片都具集成
JTAG
控制接口
(TCK/TMS/TDI/TDO/TRST)
，
JTAG
控制逻辑简单方便，易于实现r/>。
[0006]现有技术方案存在以下问题：
[0007]服务响应迟缓
、
虚拟测试卡种类繁多，维护难度大
、JTAG
接口数量无法扩展
、
无法侦测电压值
、
无外置可控
IO、
无法根据客户需求提供定制化服务
。

技术实现思路

[0008]解决的技术问题
[0009]针对现有技术的不足，本专利技术提供了服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，解决了服务响应迟缓
、
虚拟测试卡种类繁多，维护难度大
、JTAG
接口数量无法扩展
、
无法侦测电压值
、
无外置可控
IO、
无法根据客户需求提供定制化服务的问题
。
[0010]技术方案
[0011]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，所述系统包括如下组成部分：
[0012]硬件模块：所述硬件模块用于测试系统的硬件安装及电路硬件的组配；
[0013]逻辑模块：所述逻辑模块用于系统的逻辑控制；
[0014]运行模块：所述运行模块用于系统步骤的调整和控制
。
[0015]优选的，所述硬件模块包括：主控板
、HUB
板
、Dummy
卡和上位机系统
。
[0016]优选的，所述逻辑模块包括：
HUB
板逻辑
、
主控板逻辑
。
[0017]优选的，所述运行模块包括：
HUB
板运行系统
、
主控板运行系统和上位机运行系统
。
[0018]优选的，所述系统的运行步骤如下：
[0019]Sp1、
系统开机；
[0020]Sp1.1、
进入测试；
[0021]Sp1.2、
进入设置；
[0022]Sp2、
结束
。
[0023]优选的，所述运行步骤的进入测试步骤包括如下步骤：
[0024]Sp1、
开始测试；
[0025]Sp2、
检查硬件连接，成功进入下一步，失败结束测试；
[0026]Sp3、
治具启动；
[0027]Sp4、BSI
测试；
[0028]Sp5、
成功进入下一步；失败进行重测并生成错误日志；
[0029]Sp6、
产品掉电；
[0030]Sp7、
生成测试日志；
[0031]Sp8、
治具复位；
[0032]Sp9、
结束测试
。
[0033]优选的，所述运行步骤的进入设置步骤包括如下步骤：
[0034]Sp1、
进入高级模式；
[0035]Sp2、
输入密码；
[0036]Sp3、
检查硬件连接，成功进入下一步，失败退出设置；
[0037]Sp4、
运行测试文件；
[0038]Sp5、
测试项目设置；
[0039]Sp6、
选择测试类型；
[0040]Sp7、
设置测试参数；
[0041]Sp8、
运行测试，进入测试步骤
。
[0042]有益效果
[0043]本专利技术提供了服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统
。
具备以下有益效果：
[0044]1、
本专利技术产品测试前量测关键电压，确保产品开机无异常
、
解决
JTAG
芯片过多和
JTAG
链路过长的顾虑，测量各接口电源管脚，确保各接口的带载能力
。
测量接口的所有管脚，确保无焊接异常，测量各
JTAG
芯片之间的互连无异常，减少测试虚拟卡的种类，提升测试维护效率
。
附图说明
[0045]图1为本专利技术的系统流程图；
[0046]图2为本专利技术的控制系统图；
[0047]图3为本专利技术的集线系统图；
[0048]图4为本专利技术的虚拟卡系统图；
[0049]图5为本专利技术的集线系统逻辑图；
[0050]图6为本专利技术的控制系统逻辑图；
[0051]图7为本专利技术的测试系统运行逻辑图；
[0052]图8为本专利技术的上位机系统图；
[0053]图9为本专利技术的第一测试电路图；
[0054]图
10
为本专利技术的第二测试电路图；
[0055]图
11
为本专利技术的第三测试电路图；
[0056]图
12
为本专利技术的第四测试电路图
。
具体实施方式
[0057]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，其特征在于：所述系统包括如下组成部分：硬件模块：所述硬件模块用于测试系统的硬件安装及电路硬件的组配；逻辑模块：所述逻辑模块用于系统的逻辑控制；运行模块：所述运行模块用于系统步骤的调整和控制
。2.
根据权利要求1所述的服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，其特征在于：所述硬件模块包括：主控板
、HUB
板
、Dummy
卡和上位机系统
。3.
根据权利要求1所述的服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，其特征在于：所述逻辑模块包括：
HUB
板逻辑
、
主控板逻辑
。4.
根据权利要求1所述的服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，其特征在于：所述运行模块包括：
HUB
板运行系统
、
主控板运行系统和上位机运行系统
。5.
根据权利要求1所述的服务器主板测试
、
边界扫描测试平台
、BSI
系统，其特征在于：所述系统的运行步骤如下：
Sp1、
系统开机；
Sp1.1、
进入测试；
...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙阳，刘家兵，李剑平，
申请(专利权)人：苏州英赛测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：