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用于控制磁共振设备中磁共振测量过程的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:3964466 阅读:182 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术描述了一种在磁共振设备(5)中用于控制MR测量过程的方法和装置(6)。在此,将预定体积片段(23)划分为具有预定层间隔(d)的并行的层(22)并且利用连续移动的检查台进行测量。除了在MR测量的开始和结束阶段,在作为基础的基本序列的每个重复中激励并读出检查对象的多个层(22),其中,所述多个层位于磁共振设备(5)的内部中的有效体积(24)中。作为基础的基本序列的每个重复所激励并读出的层(22)的数量根据特别是确定图像对比度和图像分辨率的参数来自动地选择,并且由此不是由磁共振设备(5)的用户自由设定的。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种在磁共振设备(5)中用于控制磁共振测量过程的方法,其中,采集检查对象(O)的预定体积片段(23)的磁共振信号,其中,磁共振测量的每个重复激励并测量所述预定体积片段(23)的多个层(22),其中,在检查台连续移动的情况下激励和测量,并且其中,每个重复所激励并测量的多个层(22)的数量根据确定磁共振测量过程的参数被自动地确定,并且不是由磁共振设备(5)的用户自由设定。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:阿尔托施泰莫
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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