【技术实现步骤摘要】
一种集成电路封装去胶装置
[0001]本技术属于集成电路封装
,具体是涉及一种集成电路封装去胶装置
。
技术介绍
[0002]集成电路芯片在生产的过程中,会采用塑封的模式对芯片进行封装;因封装模具及工艺原因,塑封后,会在相邻两个封装芯片之间的通槽上残留封装胶,且封装胶与封装芯片相连,如图1所示
。
在封装芯片转移至下道生产工序前,需对残留的封装胶进行去除
。
[0003]现有的封装去胶装置一般采用切刀切割的方式以去除封装胶,但在切割去胶的过程中,会有封装胶碎屑产生,若不及时清除,积聚后会抵接封装芯片,将封装芯片板翘起,影响封装芯片板的平放,从而影响切刀切割位置及效果
。
[0004]因此需要提出一种新的方案来解决这个问题
。
技术实现思路
[0005]本技术主要是解决上述现有技术所存在的技术问题,提供一种集成电路封装去胶装置
。
[0006]本技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:一种集成电路封装去胶装置,包括安装台
、
上模
、
下模
、
以及压板,所述下模安装在安装台的上表面,所述下模包括两个结构相同且对称设置的下模单元,所述下模单元上交替间隔设有第一下料孔和下支撑凸条,所述第一下料孔和下支撑凸条均与封装芯片板上相邻两个封装芯片之间的间隔区相对应,且均沿下模单元宽度方向设置,所述第一下料孔两侧的边缘设有切刀,所述下模单元沿其边缘设有容纳槽,所述下模单元 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种集成电路封装去胶装置,包括安装台
(1)、
上模
(2)、
下模
、
以及压板
(4)
,其特征在于,所述下模安装在安装台
(1)
的上表面,所述下模包括两个结构相同且对称设置的下模单元
(3)
,所述下模单元
(3)
上交替间隔设有第一下料孔
(5)
和下支撑凸条
(6)
,所述第一下料孔
(5)
和下支撑凸条
(6)
均与封装芯片板
(36)
上相邻两个封装芯片
(37)
之间的间隔区
(38)
相对应,且均沿下模单元
(3)
宽度方向设置,所述第一下料孔
(5)
两侧的边缘设有切刀
(7)
,所述下模单元
(3)
沿其边缘设有容纳槽
(8)
,所述下模单元
(3)
的上方设有用于放置封装芯片板
(36)
的容纳支架
(9)
,所述容纳支架
(9)
可移至容纳槽
(8)
内,所述下模单元
(3)
的外侧设有沿下模单元
(3)
长度方向的吹风管
(10)
,所述吹风管
(10)
内设有第一风道
(11)
,所述吹风管
(10)
朝向下模单元
(3)
的一侧设有与第一风道
(11)
相连通的第一出风孔
(12)
,所述第一出风孔
(12)
与第一下料孔
(5)、
下支撑凸条
(6)
相对应,所述第一风道
(11)
连通有软管
(13)
,并通过软管
(13)
连接气泵
(14)
,所述安装台
(1)
上设有多个第二下料孔
(15)
,所述第二下料孔
(15)
位于两个下模单元
(3)
之间,且与第一下料孔
(5)、
下支撑凸条
(6)
相对应;所述上模
(2)
位于下模的上方,所述上模
(2)
上交替间隔设有压条孔
(16)
和上支撑凸条
(17)
,所述压条孔
(16)
与第一下料孔
(5)
相对应,所述上支撑凸条
(17)
与下支撑凸条
(6)
相对应;所述压板
(4)
位于上模
(2)
的上方,所述压板
(4)
的下表面设有与压条孔
(16)
相对应的压条
(18)
,所述压条
(18)
的端部可穿过压条孔
(16)
并移至上模
(2)
的下方
。2.
根据权利要求1所述的一种集成电路封装去胶...
【专利技术属性】
技术研发人员:史绪敏,娄秋军,
申请(专利权)人:浙江华越芯装电子股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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