平面度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种平面度测量装置，包括基座、立柱、框架、高度测量仪及在框架内彼此上下错开且垂直相交的水平横梁和水平纵梁。立柱固定于基座并向上凸出基座以形成凸出部，框架位于基座对应上方并装配于凸出部；水平横梁还沿X方向和Y方向中的一者滑设于框架，水平纵梁还沿X方向和Y方向中的另一者滑设于框架；高度测量仪分别呈悬空的装配于水平横梁和水平纵梁，水平横梁上的高度测量仪还可沿水平横梁滑移，水平纵梁上的高度测量仪还可沿水平纵梁上滑移，基座的顶面具有位于高度测量仪对应下方的基准面；本实用新型专利技术的平面度测量装置具有节省成本和通用性好的优点。节省成本和通用性好的优点。节省成本和通用性好的优点。

【技术实现步骤摘要】
平面度测量装置


[0001]本技术涉及一种测量装置，尤其涉及一种适用于对带有凹面和/凸面的产品平面度进行测量的平面度测量装置。

技术介绍

[0002]众所周知，在产品的平面度测量过程中，会遇到带有凹面和/凸面的产品，即是，该产品的几个面虽处同一高度但不连续，且它们之间存在凸高位或凹陷位，这样在测量几个面的平面度时需要将产品固定专门的治具上，再连同治具一起放到检测台上合适位置；然后，借助百分表和机器（例如CNC、三次元等），将百分表顶到产品要测量的一个面上，设定百分表的一个显示数据并记录机器上Z轴显示的数据，对需要测量的面进行一个个高度测量，再记录每个位置测量得出的数据，最高点和最低点相差的数值就是平面度的数值。
[0003]由于需要对产品的几个面一个个进行检查，且机器和百分表的操作需要专业的人员，故存在检测的效率比较慢的缺陷。另，由于机器比较昂贵，从而导致测量成本的增加。
[0004]虽然中国专利申请号201922192632.3公开的手机玻璃盖板平面度测量装置能一次实现对手机玻璃盖板的几个面检查，以提高检测效率；但是，中国专利申请号201922192632.3公开的手机玻璃盖板平面度测量装置存在通用性差及成本相对高的缺陷。
[0005]因此，急需要一种通用性好且节省成本的平面度测量装置来克服上述的一个或多个缺陷。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种通用性好且节省成本的平面度测量装置。
[0007]为实现上述目的，本技术的平面度测量装置适用于测量带有凹面和/或凸面的产品平面度，包括基座、立柱、框架、高度测量仪及在所述框架内彼此上下错开且垂直相交的水平横梁和水平纵梁。所述立柱固定于所述基座，所述立柱还向上延伸并凸出所述基座以形成一凸出部，所述框架位于所述基座对应上方并装配于所述凸出部；所述水平横梁还沿X方向和Y方向中的一者滑设于所述框架，所述水平纵梁还沿所述X方向和Y方向中的另一者滑设于所述框架，所述高度测量仪分别呈悬空的装配于所述水平横梁和水平纵梁，所述水平横梁上的高度测量仪还可沿所述水平横梁滑移，所述水平纵梁上的高度测量仪还可沿所述水平纵梁上滑移，所述基座的顶面具有位于所述高度测量仪对应下方的基准面。
[0008]与现有技术相比，由于本技术的平面度测量装置还包括在框架内彼此上下错开且垂直相交的水平横梁和水平纵梁，水平横梁还沿X方向和Y方向中的一者滑设于框架，水平纵梁还沿X方向和Y方向中的另一者滑设于框架，高度测量仪分别呈悬空的装配于水平横梁和水平纵梁，水平横梁上的高度测量仪还可沿水平横梁滑移，水平纵梁上的高度测量仪还可沿水平纵梁上滑移，基座的顶面具有位于高度测量仪对应下方的基准面；这样设计使得水平横梁上的高度测量仪和水平纵梁上的高度测量仪能根据产品的测量面所在位置进行适应性地的位置调整，以兼容不同类型和/或不同规格的产品而通用性好；同时，借助
水平横梁上的高度测量仪和水平纵梁上的高度测量仪能一次对产品的多个处于同一高度的测量面之平面度进行测量，且不需要配置使框架升降的动力源，故能节省成本。
[0009]较佳地，所述水平横梁的两端各与所述框架滑动连接，所述水平纵梁的两端各与所述框架滑动连接，所述水平横梁和水平纵梁的横截面为方形，所述高度测量仪为数显高度计。
[0010]较佳地，所述框架具有两个在所述X方向隔开的第一侧框及两个在所述Y方向隔开的第二侧框，每个所述第一侧框开设有沿所述Y方向水平延伸的Y向导滑通槽，每个所述第二侧框开设有沿所述X方向水平延伸的X向导滑通槽，所述水平横梁的两端分别穿置于所对应的一个所述Y向导滑通槽中，所述Y向导滑通槽还阻挡所述水平横梁沿Z方向滑移，所述水平纵梁的两端分别穿置于所对应的一个所述X向导滑通槽中，所述X向导滑通槽还阻挡所述水平纵梁沿所述Z方向滑移。
[0011]较佳地，所述水平横梁为沿其滑移方向平行隔开的多个，所述水平纵梁为沿其滑移方向平行隔开的多个，每个所述第一侧框上的Y向导滑通槽之数量与所述水平横梁的数量相等，每个所述第二侧框上的X向导滑通槽之数量与所述水平纵梁的数量相等。
[0012]较佳地，所述框架还具有与所述第一侧框或第二侧框固定连接的套筒，所述框架借助所述套筒套设于所述凸出部处。
[0013]较佳地，所述套筒位于所述第一侧框或第二侧框的中部处，所述套筒还位于所述框架内。
[0014]较佳地，所述套筒还可沿所述凸出部滑移和/绕所述凸出部旋转。
[0015]较佳地，本技术的平面度测量装置还包括可被旋转操作的锁固操作件，所述锁固操作件水平穿过所述套筒并选择地与所述凸出部抵接或脱离抵接，从而对应地将所述框架与所述凸出部锁固在一起或者脱离对所述框架与所述凸出部的锁定。
[0016]较佳地，所述锁固操作件还水平穿过与所述套筒固定连接的第一侧框或第二侧框。
[0017]较佳地，所述基座邻近其边缘的中间位置开设有螺丝沉孔，所述螺丝沉孔上下贯穿所述基座，所述立柱与所述基座的顶面抵接，一螺丝从所述基座的下方穿过所述螺丝沉孔再与所述立柱螺纹连接，从而使所述基座与所述立柱固定在一起。
附图说明
[0018]图1是本技术的平面度测量装置的立体图。
[0019]图2是图1所示的平面度测量装置的立体分解图。
[0020]图3是图1所示的平面度测量装置沿X方向的正向观看的平面图。
[0021]图4是图1所示的平面度测量装置沿Y方向的正向观看的平面图。
[0022]图5是图1在隐藏基座、立柱、锁固操作件及螺丝后的立体图。
[0023]图6是图5的立体分解图。
[0024]图7是在图1所示的平面度测量装置上显示出产品及夹具后的立体图。
[0025]图8是产品装配于夹具上的立体图。
[0026]图9是图8中的产品的立体图。
具体实施方式
[0027]为了详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征，以下结合实施方式并配合附图作进一步说明。
[0028]请参阅图1、图2、图8及图9，本技术的平面度测量装置100适用于测量带有凹面和/或凸面的产品200平面度，以在一次测量中实现产品200的内个处于同一高度的测量面210测量，以此计算得到测量面210的平面度，即用所测量的最大数减少最小数计算得到。具体地，于图8和图9中，作为一示例，产品200的测量面210有四个，三个位于产品200的边缘处，余下一个位于产品200的中间处，且位于产品200之中间处的测量面210远离大于其它的三个，为提高测量可靠性，可配置两个下面描述到的高度测量仪40去测量位于产品200之中间处的测量面210，其它的三个对应配置一个高度测量仪40即可；当然，根据实际需要，高度测量仪40与测量面210的配置方式还可为其它，故不以图8和图9所示为限。
[0029]再结合图6，本技术的平面度测量装置100包括基座10、立柱20、框架30、高度测量仪40及在框架30内彼此上下错开且垂直相交的水平横梁5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面度测量装置，适用于测量带有凹面和/或凸面的产品平面度，包括基座、立柱、框架及高度测量仪，所述立柱固定于所述基座，所述立柱还向上延伸并凸出所述基座以形成一凸出部，所述框架位于所述基座对应上方并装配于所述凸出部，其特征在于，所述平面度测量装置还包括在所述框架内彼此上下错开且垂直相交的水平横梁和水平纵梁，所述水平横梁还沿X方向和Y方向中的一者滑设于所述框架，所述水平纵梁还沿所述X方向和Y方向中的另一者滑设于所述框架，所述高度测量仪分别呈悬空的装配于所述水平横梁和水平纵梁，所述水平横梁上的高度测量仪还可沿所述水平横梁滑移，所述水平纵梁上的高度测量仪还可沿所述水平纵梁上滑移，所述基座的顶面具有位于所述高度测量仪对应下方的基准面。2.根据权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于，所述水平横梁的两端各与所述框架滑动连接，所述水平纵梁的两端各与所述框架滑动连接，所述水平横梁和水平纵梁的横截面为方形，所述高度测量仪为数显高度计。3.根据权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于，所述框架具有两个在所述X方向隔开的第一侧框及两个在所述Y方向隔开的第二侧框，每个所述第一侧框开设有沿所述Y方向水平延伸的Y向导滑通槽，每个所述第二侧框开设有沿所述X方向水平延伸的X向导滑通槽，所述水平横梁的两端分别穿置于所对应的一个所述Y向导滑通槽中，所述Y向导滑通槽还阻挡所述水平横梁沿Z方向滑移，所述水平纵梁的两端分别穿置于所对应的一个所述X向导滑通槽中，所述X向导滑通槽还阻挡所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓健，
申请(专利权)人：东莞市闻誉实业有限公司，
类型：新型
国别省市：