【技术实现步骤摘要】
一种夹持效果好的耐压测试设备
[0001]本技术涉及耐压测试设备
，具体为一种夹持效果好的耐压测试设备
。
技术介绍
[0002]在电子产品加工之后需要将电子产品放在耐压测试设备上进行耐压能力测试，现有的耐压测试设备包括箱体，箱体上设有一个治具和位于治具上方的气缸，气缸的气缸杆上固定连接有与治具相对的压板，测试时将电子产品放置在冶具上利用气缸带动压板对电子产品进行下压测试，在测试过程中未了避免电子产品移动会通过夹具对电子产品进行夹持；
[0003]现有中国专利
CN 210166416 U
公布了一种半导体耐压测试设备，该半导体耐压测试设备第一弹簧与第二弹簧对半导体进行固定，使用者将半导体放置在第一固定台与第二固定台的上端，根据半导体尺寸的不同，第一弹簧与第二弹簧进行压缩，带动第一固定块与第二固定块在凹槽的内部水平滑动，对半导体进行固定；
[0004]然而上述半导体耐压测试设备通过弹簧推动固定板对半导体进行夹持，无法控制固定板作用在半导体上的力度，当力度过小，在测试时半导体有可能晃动，力度过大会导致半导体损坏
。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于提供了一种夹持效果好的耐压测试设备，解决了上述
技术介绍
中提到的问题
。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种夹持效果好的耐压测试设备，包括支架；
[0007]设置在支架内侧外壁上的放置槽；
[0008]以及设置在支架内侧的测试组件，所述测试组件包括测...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种夹持效果好的耐压测试设备，包括支架
(1)
；设置在支架
(1)
内侧外壁上的放置槽
(3)
；以及设置在支架
(1)
内侧的测试组件
(2)
，其特征在于：所述测试组件
(2)
包括测试部
(21)、
一号夹持部
(22)、
二号夹持部
(23)
，所述测试部
(21)
位于支架
(1)
的顶部内侧外壁上，所述一号夹持部
(22)
和二号夹持部
(23)
位于放置槽
(3)
内
。2.
根据权利要求1所述的一种夹持效果好的耐压测试设备，其特征在于：所述一号夹持部
(22)
包括长槽
(221)
，长槽
(221)
位于放置槽
(3)
的左侧内壁上，且长槽
(221)
连通多个放置槽
(3)
，长槽
(221)
的内壁滑动设置有连接板
(224)
，所述连接板
(224)
的正面固定安装有一号
T
型板
(222)
，所述一号
T
型板
(222)
的背面固定安装有二号气缸
(223)
，所述二号气缸
(223)
朝向背面的一端与支架
(1)
正面上的凹槽内壁固定连接，所述连接板
(224)
的右侧外壁固定安装有一号夹持板
(225)
，所述一号夹持板
(225)
位于放置槽
(3)
内
。3.
根据权利要求1所述的一种夹持效果好的耐压测试设备，其特征在于：所述二号夹持部
(23)
包括连通槽
(231)、
避让槽
(232)
，连通槽
(231)
位于放置槽
(3)
的内壁上，且连通槽
(231)
连通多个放置槽
(3)
，避让槽
(232)
位于连接板
(224)
的侧面外壁上，连通槽
(231)
的内壁滑动设置有二号夹持板
(235)
，所述二号夹持板
(235)
活动穿过避让槽
(232)
，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜栋，周玉峰，
申请(专利权)人：安徽麦策机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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