一种旋转精密测量辅助检验治具制造技术

技术编号:39603324 阅读:12 留言:0更新日期:2023-12-07 12:19
本实用新型专利技术涉及检验治具技术领域,且公开了一种旋转精密测量辅助检验治具,包括底座,所述底座的顶部两侧设置有支撑架,两侧的支撑架之间通过旋转轴安装有框架,框架的两侧壁面上均倒模出正面

【技术实现步骤摘要】
一种旋转精密测量辅助检验治具


[0001]本技术涉及检验治具
,具体为一种旋转精密测量辅助检验治具


技术介绍

[0002]目前,随着手机的普及,手机的质量及功能要求越来越高,加上手机塑胶外壳形状和工艺越来越复杂,由于塑胶外壳注塑成型变形度较大,需使用特有的辅助治具进行仿形和整形以保证产品尺寸的真实性,但现有辅助治具只能测量一个方位,测另一个方位需换一个治具并重新安装产品,需费时间较长,影响测量效率,塑胶壳拆卸容易变形,存在数据不稳定因素,因此现有技术与方法还有待于改进和提升,为此我们提出了一种旋转精密测量辅助检验治具


技术实现思路

[0003](

)
解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足,本技术提供了一种旋转精密测量辅助检验治具,解决了上述的问题

[0005](

)
技术方案
[0006]为实现上述所述目的,本技术提供如下技术方案:一种旋转精密测量辅助检验治具,包括底座,所述底座的顶部两侧设置有支撑架,两侧的支撑架之间通过旋转轴安装有框架,框架的两侧壁面上均倒模出正面
/
反面仿形治具,框架对应仿形治具的两侧均固定安装有三棱镜

[0007]优选的,所述支撑架的顶部两侧均设置有平面凹陷,框架的两侧对应平面凹陷的位置上均插接有位置卡扣,当需要检修检验的时候,将位置卡扣插接上去,使得其与平面凹陷接触,用于支撑框架不随意翻动

[0008]优选的,所述支撑架的底部固定安装有两个插接柱,底座对应两个插接柱的位置上开设有插接孔
,
插接孔与插接柱插接在一起

[0009]优选的,所述底座上开设有与支撑架位置对应的螺栓孔,所述螺栓孔的内部螺纹连接有螺栓,且螺栓的上端与支撑架的底部螺纹连接在一起

[0010](

)
有益效果
[0011]与现有技术相比,本技术提供了一种旋转精密测量辅助检验治具,具备以下有益效果:
[0012]1、
该旋转精密测量辅助检验治具,可改变现在的单一测量技术,在测量产品时,测完正面后不需要将产品换下直接翻转治具即可测量另一面尺寸,加上框架上镶嵌的三棱镜
(
折射出侧边的位置
)
可同一时间测量
A/B/
面较大提升了测量效率

附图说明
[0013]图1为本技术结构立体示意图

[0014]图中:
1、
底座;
2、
螺栓孔;
3、
插接孔;
4、
插接柱;
5、
螺栓;
6、
支撑架;
7、
框架;
8、
位置卡扣;
9、
三棱镜

具体实施方式
[0015]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚

完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例

基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围

[0016]请参阅图1,一种旋转精密测量辅助检验治具,包括底座1,底座1的顶部两侧设置有支撑架6,两侧的支撑架6之间通过旋转轴安装有框架7,框架7的两侧壁面上均倒模出正面
/
反面仿形治具,框架7对应仿形治具的两侧均固定安装有三棱镜
9。
[0017]进一步的,支撑架6的顶部两侧均设置有平面凹陷,框架7的两侧对应平面凹陷的位置上均插接有位置卡扣8,当需要检修检验的时候,将位置卡扣8插接上去,使得其与平面凹陷接触,用于支撑框架7不随意翻动

[0018]进一步的,支撑架6的底部固定安装有两个插接柱4,底座1对应两个插接柱4的位置上开设有插接孔
3,
插接孔3与插接柱4插接在一起

[0019]进一步的,底座1上开设有与支撑架6位置对应的螺栓孔2,螺栓孔2的内部螺纹连接有螺栓5,且螺栓5的上端与支撑架6的底部螺纹连接在一起

[0020]第一步先做一个长方形的外框架,框架7两边镶嵌2块三棱镜9;
[0021]第二步根据产品
3D
模型尺寸倒模出正面
/
反面仿形治具
(
该治具正反面在一个治具上完成,中心位置在水平线上
)

[0022]第三步做一个底座1,底座1可支撑住仿形治具不晃动,且水平稳定,底座1两端有两根支撑架6用于架住治具;
[0023]第四步在支撑架6的两端交汇处做一个位置卡扣,即为平面凹陷,用于旋转治具时不偏移水平线,最后将仿形治具安装在底座1上即可

[0024]尽管已经示出和描述了本技术的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化

修改

替换和变型,本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定

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...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种旋转精密测量辅助检验治具,其特征在于,包括底座
(1)
,所述底座
(1)
的顶部两侧设置有支撑架
(6)
,两侧的支撑架
(6)
之间通过旋转轴安装有框架
(7)
,框架
(7)
的两侧壁面上均倒模出正面
/
反面仿形治具,框架
(7)
对应仿形治具的两侧均固定安装有三棱镜
(9)。2.
根据权利要求1所述的一种旋转精密测量辅助检验治具,其特征在于:所述支撑架
(6)
的顶部两侧均设置有平面凹陷,框架
(7)
的两侧对应平面凹陷的位置上均插接有位置卡扣
(8)。3.
根据权利要求1所述的一种旋转精密测量辅助检验治具...

【专利技术属性】
技术研发人员:张成
申请(专利权)人:深圳市众为精密科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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