【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件一体化检测分选设备
[0001]本专利技术涉及元器件检测
,具体为一种电子元器件一体化检测分选设备
。
技术介绍
[0002]电子元器件是指构成电子装置的各种基本组成部分,包括有电阻器
、
电容器以及电容触摸屏等
。
[0003]随着电容触摸屏技术的广泛应用,对于触摸屏的响应速度提出了更高的要求,需要通过检测设备对生产的电容触摸屏进行检测后进行分选,但在实际使用过程中存在以下问题:
1、
对电容触摸屏的响应速度进行检测时,往往只是通过简单的触摸进行检测,这样检测的方式会导致得到的结果比较单一,往往会出现误判的问题,不能从触摸屏的静电容量等数据进行分析;
2、
对电容触摸屏进行检测后,需要根据检测的结果对不同批次的电容触摸屏进行分选,现有的都是通过人工进行分选,智能化程度较低,不能根据检测的结果实现自动化分选
。
[0004]为此,推出一种电子元器件一体化检测分选设备
。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的为了解决对电容触摸屏的响应速度进行检测时,往往只是通过简单的触摸进行检测,这样检测的方式会导致得到的结果比较单一,往往会出现误判的问题,而提出一种电子元器件一体化检测分选设备
。
[0006]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:一种电子元器件一体化检测分选设备,包括机架,所述机架的顶部连接有检测设备,所述机架的内部设置有预处理机构,所述预处理机构包括有两组导 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种电子元器件一体化检测分选设备,包括机架(1),所述机架(1)的顶部连接有检测设备(2),所述机架(1)的内部设置有预处理机构,所述检测设备(2)的内部设置有控制组件;其特征在于,所述控制组件包括:预处理模块,用于在检测之前对电子元器件的输送状态进行监测,并通过预处理机构对检测的目标元器件进行预处理;检测分析模块,用于对预处理后的电子元器件的各项参数进行检测分析得到电子元器件的触摸合格值,并发送至分选模块,具体为:步骤1:通过检测设备与目标元器件之间建立通信连接对触摸信号数据进行获取,得到目标元器件对应触摸坐标信息,并从中获取各触摸坐标对应在触摸屏上的静电容量值;步骤1‑1:对目标元器件各触摸坐标与触摸屏接触时的静电容量变化值进行获取,将各触摸坐标的静电容量变化值与未发生触摸时的恒定静电容量值之间进行差值计算得到静电差值,设定静电差值的标准值,将计算的各静电差值与标准值之间一一比对,将静电差值大于标准值的标记为高灵敏值,低于标准值的标记为低灵敏值,统计高灵敏值与低灵敏值的个数并与预设的影响系数之间进行相乘计算得到影响一值与影响二值,将各高灵敏值与标准值之间进行差值计算后并取均值得到第一均值,将各低灵敏值与标准值之间进行差值计算取绝对值后并取均值得到第二均值,将目标元器件的第一均值与影响一值之间进行相乘计算得到影响优值;将目标元器件的第二均值与影响二值之间进行相乘计算进行计算得到影响劣值,通过影响优值
/
影响劣值得到该目标元器件的灵敏度值
Y1
;对目标元器件在检测过程中的环境温度进行获取,将目标元器件的灵敏度值
Y1
与温度值
Y2
的数值代入公式得到该目标元器件的触摸灵敏值
LKA
;其中
Y1
″
表示为目标元器件的及格灵敏值,
Y2
″
表示对目标元器件检测过程中最适环境温度值;
a1
与
a2
分别为灵敏度值
Y1
与温度值
Y2
所对应的影响因子;
α
为预设的修正因子;步骤2:通过对各触摸坐标在检测过程中的响应时间进行获取,得到各触摸坐标的响应时长;计算各触摸坐标的平均响应时长,将计算得到的平均响应时长与预设的平均响应时长阈值进行比较,若平均响应时长小于预设阈值,则判定为提前响应;若平均响应时长大于预设阈值,则判定为延迟响应,计算平均响应时长与预设阈值之间的差值,预设提前响应或延迟响应所对应的多个取值范围,且每个取值范围分别对应一个影响比值,将计算的差值匹配对应的取值范围内得到影响比值
Y3
,对影响比值
Y3
与最大响应时长
Y4
两者之间代入公式进行计算得到触摸响应值
LKB
,其中
b1
和
b2
分别为影响比值
Y3
与最大响应时长
Y4
的预设权重因子;步骤3:对目标电子元器件的触摸合格值进行获取并标记为
G
t
,其中
t
代表该批检测元器件的编号,
t=1
,2,3,
...
,
N
,
N
代表该批元器件的总数;步骤3‑1:设定多个检测触摸压力环境
Ki
,
i=1
,2,3;其中
K1、K2
以及
K3
分别代表较小压力环境
、
正常压力环境以及较重压力环境,分别获取各压力环境下的触摸灵敏值
LKA
和触摸响应值
LKB
,并代入公式
G
ti
=
(
LKA
×
c1+LKB
×
c2
),进行计算得到各压力环境下的触摸总值
G
ti
;
i
表示压力系数,
i=1
,2,3;其中
c1
和
c2
分别为触摸灵敏值
LKA
和触摸响应值
LKB
的预设权重因子;依据公式计算得到该编号电子元器件的触摸合格值
G
t
,其中
aG
t1
、bG
t2
以及
cG
t3
分别为各压力系数下的合格触摸总值,
d1、d2
以及
d3
分别为各压力系数下触摸总值所对应的预设权重因子,
β
为预设的修正因子;分选模块,用于接收目标元器件的触摸合格值,并将触摸合格值代入对应的取值范围内,设定每个取值范围分别对应一个分选指令,若触摸合格值属于对应的取值范围内,则输出该取值范围对应的分选指令,将得到的分选指令发送至执行模块;其中分选指令包括有合格指令
、
返修指令以及报废指令;执行模块,用于接收生成的分选指令,并根据分选指令的结果控制分选机构将目标元器件分配到对应装载箱体内,随后输送至目标车间内进行下一道工序
。2.
根据权利要求1所述的一种电子元器件一体化检测分选设备,其特征在于,所述预处理机构包括有两组导轨架(
111
),两组所述导轨架(
111
)分别安装在机架(1)的前后内壁上,所述机架(1)的上内壁安装有气缸(
112
),且气缸(
112
)的延伸端安装有第一电机(
113
),所述第一电机(
113
)的驱动端安装有两组吸盘,所述机架(1)前内壁的内部安装有第二电机,且第二电机的驱动端连接有第一丝杠(
114
),所述第一丝杠(
114
)的外表面螺纹连接有两组固定架(
115
),且两组固定架(
115
)的内部设置有相反的内螺纹,所述机架(1)前后内壁之间固定连接有限位杆(
116
),且限位杆(
116
)贯穿两组固定架(
115
),两组所述固定架(
115
)相靠近的一端侧壁上均开设有凹槽(
118
),且两组凹槽(
118
【专利技术属性】
技术研发人员:宋继军,钱柳健,吕凌,李佳力,杨亦洲,
申请(专利权)人:江苏省电子信息产品质量监督检验研究院江苏省信息安全测评中心,
类型:发明
国别省市:
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