一种固态硬盘的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种固态硬盘的测试方法

【技术实现步骤摘要】
一种固态硬盘的测试方法、系统和计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试
，尤其涉及一种固态硬盘的测试方法
、
系统和计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]主机写入固态硬盘的数据存在于两部分，一部分位于缓存中，一部分可能已经存入非易失性的介质中
。
在固态硬盘的测试中，可靠性测试非常重要，同时异常掉电的测试又是可靠性测试中最容易出现问题的项目
。
异常掉电是指固态硬盘在没有收到主机的掉电通知时就被断电，或者收到主机的掉电通知后还没来得及将数据写入固态硬盘的闪存就被断电了，异常掉电可能会导致数据的丢失
。
[0003]现有技术中的测试方法都是通过实现一种测试设备，控制电源进行异常掉电，但是对于不同的电源，掉电时电源的电压下降可能不同，不同的电压下降斜率则对固态硬盘的数据可靠性提出不同的要求
。
现有技术在进行异常掉电测试时存在以下问题：
[0004]1、
未对缓存中的不同大小数据量场景进行充分验证，也就是针对性的验证缓存中数据的安全性
。
[0005]2、
同时未对不同电源电压下降方式时的数据可靠性进行验证，造成测试压力不够，容易导致数据安全性问题
。
[0006]因此本专利技术对于固态硬盘掉电测试的可靠性是有必要的
。

技术实现思路

[0007]本专利技术要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷，提供一种固态硬盘的测试方法
、
系统和计算机可读存储介质
。
[0008]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0009]本专利技术提供一种固态硬盘的测试方法，包括以下步骤：
[0010]启动测试，根据固态硬盘存放在缓存中的数据量大小，设置测试缓存的大小；
[0011]根据固态硬盘的工作电压设置不同的电压下降方式，电压下降方式包括：直接下降法
、
阶梯下降法和振动下降法；
[0012]执行测试，统计不同的电压下降方式下，测试缓存的数据保存完整程度，直到所有电压下降方式测试完成
。
[0013]进一步地，本专利技术的设置测试缓存的大小的方法具体为：
[0014]通过命令读取主机写入
Nand
的数据量，写入一定
count
的数据之后，继续读取；
[0015]直到该
Nand
的数据量发生变化，取此时最大的
count
为
max_count
，记为固态硬盘测试缓存的最大值；
[0016]测试缓存大小在0～
max_count
之间均匀选取
。
[0017]进一步地，本专利技术的直接下降法具体为：直接从工作电压下降到0，用于模拟正常使用时异常掉电的场景
。
[0018]进一步地，本专利技术的直接下降法在电源和固态硬盘之间连接开关控制芯片，当满足测试条件时，开关控制芯片直接断开，电压下降曲线的斜率
k
→
∞。
[0019]进一步地，本专利技术的阶梯下降法具体为：电压下降曲线呈阶梯状，用于模拟正常掉电时电压下降趋势平稳的场景
。
[0020]进一步地，本专利技术的阶梯下降法的电压下降按以下公式进行控制：
[0021][0022]其中，放点初期，相同时间
t
内电源放电量的步进为
m
；电量不足时，相同时间
t
内电源放电量的步进为
n
，
m>n
，假设电源的放电量变化的临界电位为
l
，电源剩余电量为
Q
，
Q
stand
表示开始下降时的电压值
。
[0023]进一步地，本专利技术的振动下降法具体为：电压下降曲线呈向下的折线状，折线状包括电压振动下降和电压振动上升的阶段，且电压振动下降的幅值大于电压振动上升的幅值，用于模拟电压抖动的场景
。
[0024]进一步地，本专利技术的振动下降法包括电压振动下降和电压振动上升的斜率控制方法，具体为：
[0025]电压振动下降的斜率为：
[0026][0027]其中，电压由
V
stand
下降到
V
notify
，测试时经过时间为
t1；
[0028]在电压下降到
V
notify
之后，驱动电源进行电压振动上升，设固态硬盘电压正常运行的电压范围为
±
h
％，设置振动到的目标电压为
V
notify
*(1+h
％
)
，电压振动上升阶段的时间为
t2，
t2按照一定的步进取值进行测试，电压振动上升阶段上升的斜率为：
[0029][0030]电压振动上升之后，继续按照斜率
k1进行电压振动下降
。
[0031]本专利技术提供一种固态硬盘的测试系统，包括以下模块：
[0032]测试缓存设置模块，用于在启动测试时，根据固态硬盘存放在缓存中的数据量大小，设置测试缓存的大小；
[0033]电压下降方式设置模块，用于根据固态硬盘的工作电压设置不同的电压下降方式，电压下降方式包括：直接下降法
、
阶梯下降法和振动下降法；
[0034]测试模块，用于执行测试，统计不同的电压下降方式下，测试缓存的数据保存完整程度，直到所有电压下降方式测试完成
。
[0035]本专利技术提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的任一种固态硬盘的测试方法的步骤
。
[0036]本专利技术产生的有益效果是：
[0037]1、
本专利技术的测试方法首先需要确认固态硬盘的存放在缓存中数据量的多少，以确定如何调整测试缓存的数据量大小，可针对性的验证缓存中数据的安全性，提高了验证的
精度和准确性
。
[0038]2、
本专利技术通过控制电源电压下降的方式，包括：直接下降法
、
阶梯下降法和振动下降法，测试方法更加完备，针对不同场景的测试准确性更高，提高了各种场景下固态硬盘的异常掉电时数据测试的可靠性
。
[0039]3、
提出了一种振动下降法模拟异常掉电时的测试场景，能够有效的模拟电压抖动的情况，其中提出了对于振动点以及斜率的控制的方法，能够精确的控制振动下降的幅度，测试效果准确
。
[0040]本专利技术能覆盖多种异常掉电的测试场景，确保不同电源品质下固态硬盘的数据可靠性
。
附图说明
[0041]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0042]图1是本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种固态硬盘的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：启动测试，根据固态硬盘存放在缓存中的数据量大小，设置测试缓存的大小；根据固态硬盘的工作电压设置不同的电压下降方式，电压下降方式包括：直接下降法
、
阶梯下降法和振动下降法；执行测试，统计不同的电压下降方式下，测试缓存的数据保存完整程度，直到所有电压下降方式测试完成
。2.
根据权利要求1所述的固态硬盘的测试方法，其特征在于，设置测试缓存的大小的方法具体为：通过命令读取主机写入
Nand
的数据量，写入一定
count
的数据之后，继续读取；直到该
Nand
的数据量发生变化，取此时最大的
count
为
max_count
，记为固态硬盘测试缓存的最大值；测试缓存大小在0～
max_count
之间均匀选取
。3.
根据权利要求1所述的固态硬盘的测试方法，其特征在于，直接下降法具体为：直接从工作电压下降到0，用于模拟正常使用时异常掉电的场景
。4.
根据权利要求3所述的固态硬盘的测试方法，其特征在于，直接下降法在电源和固态硬盘之间连接开关控制芯片，当满足测试条件时，开关控制芯片直接断开，电压下降曲线的斜率
k
→
∞。5.
根据权利要求1所述的固态硬盘的测试方法，其特征在于，阶梯下降法具体为：电压下降曲线呈阶梯状，用于模拟正常掉电时电压下降趋势平稳的场景
。6.
根据权利要求5所述的固态硬盘的测试方法，其特征在于，阶梯下降法的电压下降按以下公式进行控制：其中，放点初期，相同时间
t
内电源放电量的步进为
m
；电量不足时，相同时间
t
内电源放电量的步进为
n
，
m>n
，假设电源的放电量变化的临界电位为
l
...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴国骏，张杰，赵周星，李四林，
申请(专利权)人：湖北长江万润半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：