本申请涉及超声检测技术领域,尤其涉及一种超声相控阵试块及超声相控阵检测系统,所述超声相控阵试块包括:试块本体,包括平面结构
【技术实现步骤摘要】
一种超声相控阵试块及超声相控阵设备检测系统
[0001]本申请涉及超声检测
,尤其是涉及一种超声相控阵试块及超声相控阵设备检测系统
。
技术介绍
[0002]超声相控阵是通过电子技术来控制声束的扫查方向和聚焦深度,可以实现同一个探头来检测不同壁厚
、
不同材质
、
不同形状工具的检测任务,客服了常规多探头自动超声检测系统调整难度大和探头适应范围窄的不足之处
。
通过超声相控阵加装配套的楔块可以实现对铸件缺陷的快速有效检测,为了验证其检测灵敏度,需要提供相控阵校准试块
。
[0003]而实际工业检测过程中待检测面多为曲面,且实际工业检测中对夹渣
、
裂纹等缺陷的检测是十分必要的,而相关技术中的相控阵试块多为平面
、
缺少夹渣
、
裂纹等缺陷,导致平面检测结果与工业实际检测不匹配且缺少对夹渣
、
裂纹缺陷的检测校准功能,导致相关技术中的试块准确衡量评估超声相控阵设备的检测精度和灵敏度,从而导致超声相控阵设备在工业实际应用过程中无法实现缺陷的准确定性定量分析
。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本技术的目的在于提供一种超声相控阵试块及超声相控阵设备检测系统
。
[0005]第一方面,本申请实施例提供了一种超声相控阵试块,包括:
[0006]试块本体,包括平面结构
、
十字贯通结构,所述平面结构与所述十字贯通结构一体浇铸成型;
[0007]浇筑缺陷结构,设于所述平面结构和所述十字贯通结构上;
[0008]辅助检测孔,开设于所述平面结构表面;所述辅助检测孔包括至少以下之一:横通孔
、
平底孔
、
第一横孔和第二横孔
。
[0009]结合第一方面,所述十字贯通结构包括:第一圆柱体和第二圆柱体,所述第一圆柱体与所述第二圆柱体正交贯穿;
[0010]所述第一圆柱体和所述第二圆柱体的端面为第一曲面;
[0011]所述第一圆柱体和所述第二圆柱体相交的曲面为第二曲面;
[0012]所述第二曲面的曲率变化量大于零
。
[0013]结合第一方面,所述辅助检测孔包括所述横通孔,所述横通孔开设于所述平面结构的侧面
。
[0014]结合第一方面,所述横通孔有多个,多个所述横通孔由所述平面结构的第一方向孔径逐渐增大
。
[0015]结合第一方面,所述辅助检测孔还包括:所述平底孔;
[0016]多个所述平底孔间隔设置于所述平面结构上表面,且,多个所述平底孔的圆心处于同一条直线上
。
[0017]结合第一方面,孔径相同的多个所述平底孔之间的间距沿第二方向逐渐增大
。
[0018]结合第一方面,所述辅助检测孔还包括:
[0019]所述第一横孔,有多个,多个所述第一横孔设于所述平面结构上表面,且,多个所述横孔的圆心在以所述平面结构上表面的第一顶角为圆心
、
设定值为半径的弧线上
。
[0020]结合第一方面,所述辅助检测孔还包括:
[0021]所述第二横孔,有多个,多个所述第二横孔开设于所述平面结构上表面,且,多个所述第二横孔的圆心与所述平面结构上表面的第二顶角之间的夹角为
45
°
。
[0022]结合第一方面,所述第一横孔的孔径大于所述第二横孔的孔径
。
[0023]第二方面,本申请提供一种超声相控阵设备测试系统,包括上述的超声相控阵试块
、
超声相控阵设备
、
控制器和显示装置,所述超声相控阵设备和所述显示装置分别和控制器连接
。
[0024]本申请实施例带来了以下有益效果:
[0025]本申请提供了一种超声相控阵试块及超声相控阵检测系统,所述超声相控阵试块包括:试块本体,包括平面结构
、
十字贯通结构,所述平面结构与所述十字贯通结构一体浇铸成型;浇筑缺陷结构,设于所述试块本体;辅助检测孔,开设于所述平面结构表面
。
在本申请中的超声相控阵试块提供了十字贯通结构形成曲面
、
浇筑缺陷结构和辅助检测孔,可以满足超声相控阵设备检测的不同需求,以使超声相控阵设备对试块检测的结果与工业实际应用过程中的检测结果相匹配,从而提高超声相控阵设备实际应用过程中对缺陷分析的准确性
。
[0026]本申请的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请而了解
。
本申请的目的和其他优点在说明书
、
权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得
。
[0027]为使本申请的上述目的
、
特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下
。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施方式,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图
。
[0029]图1为本申请实施例提供的超声相控阵试块结构中试块本体结构示意图;
[0030]图2为本申请实施例提供的超声相控阵试块的结构示意图;
[0031]图3为本申请实施例提供的超声相控阵设备检测系统结构示意图
。
[0032]附图标记如下:
[0033]1‑
试块本体
、11
‑
平面结构
、12
‑
十字贯通结构
、121
‑
第一圆柱体
、122
‑
第二圆柱体
、123
‑
第一曲面
、124
‑
第二曲面;
[0034]2‑
横通孔
、3
‑
平底孔
、4
‑
第一横孔和5‑
第二横孔
。
具体实施方式
[0035]为使本申请实施例的目的
、
技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请的技术方案进行清楚
、
完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例
。
基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围
。
[0036]为便于对本实施例进行理解,下面先对本申请涉及的技术用于进行简单介绍
。
[0037]超声相控阵是通过电子技术来控制声束的扫查方向和本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.
一种超声相控阵试块,其特征在于,包括:试块本体,包括平面结构
、
十字贯通结构,所述平面结构与所述十字贯通结构一体浇铸成型;浇筑缺陷结构,设于所述平面结构和所述十字贯通结构上;辅助检测孔,开设于所述平面结构表面;所述辅助检测孔包括至少以下之一:横通孔
、
平底孔
、
第一横孔和第二横孔
。2.
根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述十字贯通结构包括:第一圆柱体和第二圆柱体,所述第一圆柱体与所述第二圆柱体正交贯穿;所述第一圆柱体和所述第二圆柱体的端面为第一曲面;所述第一圆柱体和所述第二圆柱体相交的曲面为第二曲面;所述第二曲面的曲率变化量大于零
。3.
根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔包括所述横通孔,所述横通孔开设于所述平面结构的侧面
。4.
根据权利要求1所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述横通孔有多个,多个所述横通孔由所述平面结构的第一方向孔径逐渐增大
。5.
根据权利要求3所述的超声相控阵试块,其特征在于,所述辅助检测孔还包括:所述平底孔;多个所述平底孔间隔设置于所述平面结...
【专利技术属性】
技术研发人员:王少锋,张二清,张耀文,刘文婧,张佳丽,牛奔,梁田,
申请(专利权)人:内蒙古科技大学,
类型:新型
国别省市:
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