一种硅料分类方法技术

本申请公开了一种硅料分类方法，涉及光伏技术领域，用于对

【技术实现步骤摘要】
一种硅料分类方法


[0001]本申请涉及光伏
，更具体地，涉及一种硅料分类方法
。

技术介绍

[0002]颗粒硅是采用硅烷流化床法制备的颗粒状多晶硅，具有成本低
、
电性能好等优势
。
[0003]但目前对颗粒硅杂质含量检测的判定标准并不全面，现有的颗粒硅来料也无法准确预估对于拉晶端的影响
。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供了一种硅料分类方法，用于优化颗粒硅的运用，提高颗粒硅来料的利用率
。
[0005]第一方面，本申请提供了一种硅料分类方法，用于对
P
型颗粒硅进行分类，硅料分类方法包括：
[0006]提供
P
型颗粒硅；
[0007]基于预设分类标准对
P
型颗粒硅进行等级分类；
[0008]其中，预设分类标准至少包括两个等级，每个等级均包括多个判定指标，每一判定指标均具有与不同等级相对应的取值范围；判定指标包括
P
型颗粒硅的施主杂质浓度
、
受主杂质浓度
、
少数载流子寿命
、
总金属杂质含量
、
氧浓度和碳浓度；
[0009]当预设分类标准包括一类
P
型颗粒硅和二类
P
型颗粒硅两个等级时，少数载流子寿命具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第一取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第二取值范围，第一取值范围的最小值与第二取值范围的最小值的比值为
0.8。
[0010]可选地，其中：
[0011]第二取值范围的最小值为
1000
μ
s。
[0012]可选地，其中：
[0013]总金属杂质含量具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第三取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第四取值范围，第三取值范围的最大值与第四取值范围的最大值的比值为
1.6。
[0014]可选地，其中：
[0015]第四取值范围的最大值为
0.5ng/g。
[0016]可选地，其中：
[0017]施主杂质浓度具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第五取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第六取值范围，第五取值范围的最大值与第六取值范围的最大值的比值为
5/3。
[0018]可选地，其中：
[0019]第六取值范围的最大值为
0.6
×
10
‑9ppba。
[0020]可选地，其中：
[0021]受主杂质浓度具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第七取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第八取值范围，第七取值范围的最大值与第八取值范围的最大值的比值为
5/3。
[0022]可选地，其中：
[0023]第八取值范围的最大值为
0.3
×
10
‑9ppba。
[0024]可选地，其中：
[0025]氧浓度具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第九取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第十取值范围，第九取值范围的最大值与第十取值范围的最大值的比值为
5/3。
[0026]可选地，其中：
[0027]第十取值范围的最大值为
0.3
×
10
17
atoms/cm3。
[0028]可选地，其中：
[0029]碳浓度具有与二类
P
型颗粒硅相对应的第十一取值范围和与一类
P
型颗粒硅相对应的第十二取值范围，第十一取值范围的最大值与第十二取值范围的最大值的比值为
1.2。
[0030]可选地，其中：
[0031]第十二取值范围的最大值为1×
10
16
atoms/cm3。
[0032]与现有技术相比，本申请提供的一种硅料分类方法，至少实现了如下的有益效果：
[0033]首先，针对颗粒硅的不同导电类型进行了区分，有利于对颗粒硅进行合理
、
高效的应用
。
其次，预设标准可以包括至少两个等级，每个等级都具有多个判定指标，这些颗粒硅的判定指标会影响到拉晶端的表现，对拉晶端的电性能有不同程度上直接或间接的影响，进而影响到电池端的电池效率，因此，将这些参数作为颗粒硅的判定指标，可以将颗粒硅来料与拉晶端的表现相关联，同时，每个判定指标均具有与不同等级相对应的取值范围，可以区分在颗粒硅等级的同时在使用颗粒硅的过程中提前预估拉晶端的表现，且预估更加全面，优化了颗粒硅的应用，提高了颗粒硅的利用率，进而提高了产品效率
。
[0034]当然，实施本申请的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果
。
[0035]通过以下参照附图对本申请的示例性实施例的详细描述，本申请的其它特征及其优点将会变得清楚
。
附图说明
[0036]被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本申请的实施例，并且连同其说明一起用于解释本申请的原理
。
[0037]图1所示为本申请实施例所提供的硅料分类方法的流程示意图
。
具体实施方式
[0038]现在将参照附图来详细描述本申请的各种示例性实施例
。
应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置
、
数字表达式和数值不限制本申请的范围
。
[0039]以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本申请及其应用或使用的任何限制
。
[0040]对于相关领域普通技术人员已知的技术
、
方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术
、
方法和设备应当被视为说明书的一部分
。
[0041]在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制
。
因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值
。
[0042]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论
。
[0043]颗粒硅是采用硅烷流化床法制备的颗粒状多晶硅，具有成本低
、
能耗低
、
电性能好等优势
。
[0044]但目前对颗粒硅杂质含量检测的判定标准并不全面，现有的颗粒硅来料也无法准确预估对于拉晶端的影响
。
[0045]为了解决上述技术问题，本申请提出了一种硅料分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种硅料分类方法，其特征在于，用于对
P
型颗粒硅进行分类，所述硅料分类方法包括：提供
P
型颗粒硅；基于预设分类标准对所述
P
型颗粒硅进行等级分类；其中，所述预设分类标准至少包括两个等级，每个所述等级均包括多个判定指标，每一所述判定指标均具有与不同等级相对应的取值范围；所述判定指标包括所述
P
型颗粒硅的施主杂质浓度
、
受主杂质浓度
、
少数载流子寿命
、
总金属杂质含量
、
氧浓度和碳浓度；当所述预设分类标准包括一类
P
型颗粒硅和二类
P
型颗粒硅两个等级时，所述少数载流子寿命具有与所述二类
P
型颗粒硅相对应的第一取值范围和与所述一类
P
型颗粒硅相对应的第二取值范围，所述第一取值范围的最小值与所述第二取值范围的最小值的比值为
0.8。2.
根据权利要求1所述的硅料分类方法，其特征在于，所述第二取值范围的最小值为
1000
μ
s。3.
根据权利要求1所述的硅料分类方法，其特征在于，所述总金属杂质含量具有与所述二类
P
型颗粒硅相对应的第三取值范围和与所述一类
P
型颗粒硅相对应的第四取值范围，所述第三取值范围的最大值与所述第四取值范围的最大值的比值为
1.6。4.
根据权利要求3所述的硅料分类方法，其特征在于，所述第四取值范围的最大值为
0.5ng/g。5.
根据权利要求1所述的硅料分类方法，其特征在于，所述施主杂质浓度具有与所述二类
P
型颗粒硅相对应的第五取值范围和与所述一类
P
型颗粒硅相对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁海梦，陈铭，龙昭钦，徐涛，李凤春，代理华，
申请(专利权)人：四川晶科能源有限公司，
类型：发明
国别省市：