用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置制造方法及图纸

本申请涉及芯片技术领域，公开了一种用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置

【技术实现步骤摘要】
用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置、电子设备


[0001]本申请涉及芯片
，例如涉及一种用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置
、
电子设备
。

技术介绍

[0002]目前，电子设备上通常设置有
SOC
（
System on Chip
））芯片，
SOC
芯片上的内嵌存储器承担芯片内部功能运行时的信息承载功能，且存储区域电路往往占整片芯片大部分面积
。
因此，在实际生产测试中，对于内嵌存储器的检测是十分重要
。
[0003]相关技术中，通常采用在
SOC
芯片上内置硬件自测试电路对内嵌存储器进行测试
。
[0004]在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：相关技术中，采用在
SOC
芯片上内置硬件自测试电路对内嵌存储器进行测试，需要在
SOC
芯片设置自测试电路，增大了芯片面积，不利于芯片的小型化
。
[0005]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息
。

技术实现思路

[0006]为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括
。
所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键／重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言
。
[0007]本公开实施例提供了一种用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置
、
电子设备，无需在
SOC
芯片上内置硬件自测试电路，减小了芯片面积
。
[0008]在一些实施例中，用于测试芯片内嵌存储器的方法，包括：获得测试数据集，并根据测试数据集确定期望校验值；将测试数据集写入至内嵌存储器；在内嵌存储器写入测试数据集后，获得内嵌存储器的读取数据集，并根据读取数据集确定实际校验值；比对期望校验值和实际校验值，确定对内嵌存储器的测试结果
。
[0009]可选地，获得测试数据集包括：获取测试文件，并接收测试指令；将测试文件转换为符合测试指令的测试数据集
。
[0010]可选地，测试指令包括内嵌存储器中待测的起始地址位
、
待测的结束地址位和测试数据集类型；将测试文件转换为符合测试指令的测试数据集，包括：根据待测的起始地址位和待测的结束地址位确定内嵌存储器的存储空间大小；将测试文件转换为符合存储空间大小和测试数据集类型的测试数据集
。
[0011]可选地，测试数据集包括多个数据写入地址和每个数据写入地址的待写入数据；根据测试数据集确定期望校验值，包括：获得目标
CRC
多项式，并确定与目标
CRC
多项式对应的第一二进制数据；将每个数据写入地址的待写入数据转换为设定位数的第二二进制数据；对第二二进制数据和第一二进制数据进行除法运算，以余数作为每个数据写入地址的期望校验值
。
[0012]可选地，测试数据集包括多个数据写入地址和每个数据写入地址的待写入数据；将测试数据集写入至内嵌存储器，包括：将待写入数据按照对应的数据写入地址，写入至内嵌存储器中
。
[0013]可选地，读取数据集包括多个数据读取地址和每个数据读取地址的已读取数据；根据读取数据集确定实际校验值，包括：获得目标
CRC
多项式，并确定与目标
CRC
多项式对应的第一二进制数据；将每个数据读取地址的已读取数据转换为设定位数的第三二进制数据；对第三二进制数据和第一二进制数据进行除法运算，以余数作为每个数据读取地址的实际校验值
。
[0014]可选地，获得目标
CRC
多项式，包括：以设定多项式作为目标
CRC
多项式；或者随机从多项式数据库中选取多项式作为目标
CRC
多项式
。
[0015]可选地，比对期望校验值和实际校验值，确定对内嵌存储器的测试结果，包括：在期望校验值与实际校验值相同的情况下，确定内嵌存储器不存在损坏；或者，在期望校验值与实际校验值不相同的情况下，确定内嵌存储器存在损坏
。
[0016]在一些实施例中，用于测试芯片内嵌存储器的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如上述的用于测试芯片内嵌存储器的方法
。
[0017]在一些实施例中，电子设备，包括：芯片，芯片上设置有内嵌存储器；如上述的用于测试芯片内嵌存储器的装置，安装于所述芯片
。
[0018]本公开实施例提供的用于测试芯片内嵌存储器的方法及装置
、
电子设备，可以实现以下技术效果：本公开实施例中，先根据获得的测试数据集计算期望校验值
。
然后在将测试数据集写入至内嵌存储器后，从内嵌存储器中读出数据，获得读取数据集
。
获得读取数据集之后，根据读取数据集计算出实际校验值
。
最后通过比对期望校验值和实际校验值，确定内嵌存储器的测试结果
。
无需在芯片上设置自检测电路即可实现对内嵌存储器的测试
。
这样，减小了芯片的面积，有利于芯片的小型化
。
[0019]以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请
。
附图说明
[0020]一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：图1是本公开实施例提供的一个电子设备的示意图；图2是本公开实施例提供的一个用于测试芯片内嵌存储器的方法的示意图；图3是本公开实施例提供的另一个用于测试芯片内嵌存储器的方法的示意图；图4是本公开实施例提供的一个测试文件的示意图；图5是本公开实施例提供的另一个用于测试芯片内嵌存储器的方法的示意图；图6是本公开实施例提供的另一个用于测试芯片内嵌存储器的方法的示意图；图7是本公开实施例提供的一个用于测试芯片内嵌存储器的装置的示意图
。
具体实施方式
[0021]为了能够更加详尽地了解本公开实施例的特点与
技术实现思路
，下面结合附图对本公开实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本公开实施例
。
在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解
。
然而，在没有这些细节的情况下，一个或多个实施例仍然可以实施
。
在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示
。
[0022]本公开实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种用于测试芯片内嵌存储器的方法，其特征在于，包括：获得测试数据集，并根据测试数据集确定期望校验值；将测试数据集写入至内嵌存储器；在内嵌存储器写入测试数据集后，获得内嵌存储器的读取数据集，并根据读取数据集确定实际校验值；比对期望校验值和实际校验值，确定对内嵌存储器的测试结果
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得测试数据集包括：获取测试文件，并接收测试指令；将测试文件转换为符合测试指令的测试数据集
。3.
根据权利要求2所述的方法，其特征在于，测试指令包括内嵌存储器中待测的起始地址位
、
待测的结束地址位和测试数据集类型；将测试文件转换为符合测试指令的测试数据集，包括：根据待测的起始地址位和待测的结束地址位确定内嵌存储器的存储空间大小；将测试文件转换为符合存储空间大小和测试数据集类型的测试数据集
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试数据集包括多个数据写入地址和每个数据写入地址的待写入数据；根据测试数据集确定期望校验值，包括：获得目标
CRC
多项式，并确定与目标
CRC
多项式对应的第一二进制数据；将每个数据写入地址的待写入数据转换为设定位数的第二二进制数据；对第二二进制数据和第一二进制数据进行除法运算，以余数作为每个数据写入地址的期望校验值
。5.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，测试数据集包括多个数据写入地址和每个数据写入地址的待写入数据；将测试数据集写入至内嵌存储器，包括：将待写入数据按照对应的数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：张满新，魏磊，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：