一种头部测量装置制造方法及图纸

技术编号:39472462 阅读:8 留言:0更新日期:2023-11-23 14:59
本实用新型专利技术公开了一种头部测量装置,包括具有弹性的测量主体,测量主体设置成能围设成环形以测量头部轮廓,测量主体设有沿长度方向间隔设置的多个头部测量点,多个头部测量点包括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。

【技术实现步骤摘要】
一种头部测量装置


[0001]本技术涉及头部测量技术,更具体地,涉及一种头部测量装置。

技术介绍

[0002]新生儿在颅骨结缔组织发育的早期阶段颅骨易变形,尤其在睡眠时的头部受力会对婴儿颅形造成影响。根据医学报告,有70%的新生儿有颅形态异常骨问题,而婴儿颅形异常矫正的黄金窗口期则在3

8月龄范围内。为了帮助家长尽早发现婴儿颅形的异常情况并及时进行相应的治疗或矫正,对婴儿的头型情况进行定期的测量筛查尤为重要。目前由于缺少相应的器材工具与测算方法,婴儿头型测量未能在儿童保健领域进行推广普及。

技术实现思路

[0003]本技术实施例提供了一种头部测量装置,能够对颅顶对称和头型中至少一种进行测量。
[0004]本技术实施例提供的一种头部测量装置,包括:具有弹性的测量主体,所述测量主体设置成能围设在头部上以测量头部轮廓,所述测量主体设有沿长度方向间隔设置的多个头部测量点,所述多个头部测量点包括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。
[0005]在一个示例性实施例中,所述颅顶对称测量点包括第一基准点及四个斜径点,所述四个斜径点包括前左斜径点、前右斜径点、后左斜径点和后右斜径点;
[0006]所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与鼻根点对应,所述前左斜径点和所述前右斜径点均位于头部前侧并分别位于所述第一基准点的左右两侧,所述后左斜径点和所述后右斜径点均位于头部后侧并分别位于所述第一基准点的左右两侧。
[0007]在一个示例性实施例中,所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与所述前左斜径点之间的弧长L1、所述第一基准点与所述前右斜径点之间的弧长L2、所述第一基准点与所述后左斜径点之间的弧长L3、所述第一基准点与所述后右斜径点之间的弧长L4之间的关系为:L1=L2,L3=L4,L3=a*L1;其中a为表示例系数,范围为4.0<a<5.0。
[0008]在一个示例性实施例中,所述四个斜径点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述前左斜径点与所述后右斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角为20

40度,所述前右斜径点与所述后左斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角为20

40度。
[0009]在一个示例性实施例中,所述四个斜径点设置成在所述测量主体围设在标准头型上时,所述前左斜径点与所述后右斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角相等,所述前右斜径点与所述后左斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角相等。
[0010]在一个示例性实施例中,所述颅顶对称测量点还包括第二基准点和第三基准点;
[0011]所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第二基准点与左耳屏点对应,所述第三基准点与右耳屏点对应。所述头型测量点包括第一基准点、第二基准点、第三基准点和头型定位点;
[0012]所述头型测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与鼻根点对应,所述第二基准点与左耳屏点对应,所述第三基准点与右耳屏点对应,并与所述第二基准点配合以测量颅宽,所述头型定位点位于头部后侧,并与所述第一基准点配合以测量颅长。
[0013]在一个示例性实施例中,所述头型测量点设置成在所述测量主体围设在标准头型上时,所述第一基准点与所述头型定位点之间的连线位于沿前后方向延伸的竖直平面上。
[0014]在一个示例性实施例中,所述头型测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与所述第二基准点之间的弧长L5、所述第一基准点与第三基准点之间的弧长L6、所述第一基准点与所述头型定位点之间的弧长L7之间的关系为:L5=L6,L7=b*L5其中b表示比例系数,范围为1.75<b<2.15。
[0015]在一个示例性实施例中,所述头部测量装置包括一个或多个依次设置的所述测量主体,所述测量主体呈条状,并且具有测量起点和测量终点,所述测量主体设置成围设成环形时所述测量起点和所述测量终点重合;或者
[0016]所述测量主体呈环形。
[0017]在一个示例性实施例中,所述测量主体在自由状态下的长度为10cm

50cm。
[0018]在一个示例性实施例中,所述头部测量装置包括一个或多个依次设置的所述测量主体,所述测量主体呈条状,并且具有测量起点和测量终点,所述测量主体设置成能围成环形以围设在头部上,且所述测量起点和所述测量终点设置成在所述测量主体围成环形时重合;
[0019]所述头部测量装置还包括内芯,一个或多个所述测量主体卷绕在所述内芯上。
[0020]在一个示例性实施例中,多个所述头部测量点处设有不同的指示标识。
[0021]在一个示例性实施例中,所述指示标识为图案,所述图案通过印刷的方式印刷于所述测量主体。
[0022]在一个示例性实施例中,所述测量主体的伸长率大于30%;和/或
[0023]所述测量主体的扯断力范围为3N/cm

50N/cm;和/或
[0024]所述测量主体具有粘性,且自粘性范围为2N/cm

30N/cm。
[0025]本技术实施例头部测量装置的测量主体设有沿长度方向间隔设置的多个头部测量点,多个头部测量点包括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。
[0026]本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0027]附图用来提供对本技术技术方案的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请的实施例一起用于解释本技术的技术方案,并不构成对本技术技术方案的限制。
[0028]图1为本技术头部测量装置的立体图;
[0029]图2为本技术头部测量装置的测量主体单圈立体图;
[0030]图3为本技术头部测量装置的测量主体展开平面图;
[0031]图4为本技术头部测量装置的测量主体围设在头部上的俯视示意图;
[0032]图5为本技术头部测量装置的测量主体围设在头部上的正面示意图;
[0033]图6为本技术头部测量装置的测量主体围设在头部上的左侧示意图;
[0034]图7为本技术头部测量装置的测量主体围设在头部上的后侧示意图;
[0035]图8为本技术头部测量装置的测量主体围设在头部上的右侧示意图。
具体实施方式
[0036]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下文中将结合附图对本技术的实施例进行详细说明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种头部测量装置,其特征在于,包括:具有弹性的测量主体,所述测量主体设置成能围设在头部上以测量头部轮廓,所述测量主体设有沿长度方向间隔设置的多个头部测量点,所述多个头部测量点包括颅顶对称测量点和头型测量点中至少一种。2.根据权利要求1所述的头部测量装置,其特征在于:所述颅顶对称测量点包括第一基准点及四个斜径点,所述四个斜径点包括前左斜径点、前右斜径点、后左斜径点和后右斜径点;所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与鼻根点对应,所述前左斜径点和所述前右斜径点均位于头部前侧并分别位于所述第一基准点的左右两侧,所述后左斜径点和所述后右斜径点均位于头部后侧并分别位于所述第一基准点的左右两侧。3.根据权利要求2所述的头部测量装置,其特征在于:所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第一基准点与所述前左斜径点之间的弧长L1、所述第一基准点与所述前右斜径点之间的弧长L2、所述第一基准点与所述后左斜径点之间的弧长L3、所述第一基准点与所述后右斜径点之间的弧长L4之间的关系为:L1=L2,L3=L4,L3=a*L1;其中a为表示例系数,范围为4.0<a<5.0。4.根据权利要求2所述的头部测量装置,其特征在于:所述四个斜径点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述前左斜径点与所述后右斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角为20

40度,所述前右斜径点与所述后左斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角为20

40度。5.根据权利要求2所述的头部测量装置,其特征在于:所述四个斜径点设置成在所述测量主体围设在标准头型上时,所述前左斜径点与所述后右斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角相等,所述前右斜径点与所述后左斜径点的连线与沿前后方向延伸的第一轴线之间的夹角相等。6.根据权利要求2所述的头部测量装置,其特征在于:所述颅顶对称测量点还包括第二基准点和第三基准点;所述颅顶对称测量点设置成在所述测量主体围设在头部上时,所述第二基准点与左耳屏点对应,所述第三基准点与右耳屏点对应。7.根据权利要求1所述的头部测量装置,其特征在于:所述头型测量点包括第一基准点、第二基准点、第三基准点和头型定位点;所述头型测量点设置成在所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员:王翀喆居泯希罗凡刘旭璐
申请(专利权)人:云量几何上海健康科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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