电阻率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种电阻率测量装置，利用涡流变化对半导体材料电阻率测定。该装置包括：第一测量线圈与第一平衡线圈串联连接组成初级线圈，第二测量线圈与第二平衡线圈反向串联连接组成次级线圈；初级线圈与正弦波发生器的电源输出端连接，次级线圈与测量电路连接。正弦电流通过初级线圈时，产生交变的磁场，在试样内产生涡流。在次级线圈上产生电压Ｖ，它由两部分叠加而成，其一是初级线圈的交变磁场感生的电压Ｖ１，另一部分是试样内电涡流磁场感生的电压Ｖ２，同步检波消除Ｖ１，当该装置的几何尺寸、距离等各参数确定后，试样的电阻率ρ与测量的涡流电压Ｖ２之积ρＶ２是一常数，预先用电阻率已知的试样对该装置校正后，测得Ｖ２就可测出ρ值。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量装置，特别是涉及一种电阻率测量装置。
技术介绍
现有对半导体零件电阻率的测量，多采用接触式测量，接触式测量通常是借助于 四端电极进行的，在待测的半导体零件试样体积较小或电阻率很低的情况下，会出现较大 的误差，也就是测量得到的电阻率会明显高于它的实际电阻率值。另一方面接触式测量的 测量电极及被测试样的表面容易污染，形成氧化物，使待测的半导体零件试样和电极难以 有良好接触，也会进一步增大测量误差。
技术实现思路
鉴于上述现有技术所存在的问题，本技术实施例提供一种电阻率测量装置， 利用涡流变化以无接触方式对半导体材料的电阻率进行测量，可以在电阻率很宽的范围内 实现对半导体材料电阻率的测定，会避免因接触测量造成的误差。本技术的目的是通过下述技术方案实现的本技术实施例提供一种电阻率测量装置，包括两个测量线圈、两个平衡线圈、正弦波发生器和测量电路；所述第一测量线圈与所述第一平衡线圈串联连接组成初级线圈，所述第二测量线 圈与所述第二平衡线圈反向串联连接组成次级线圈；两个测量线圈相对设置并间隔一定距 离，两个平衡线圈相对设置并间隔一定距离，且两个平衡线圈之间的距离能调节；所述组成的初级线圈与正弦波发生器的电源输出端连接，所述组成的次级线圈与 测量电路连接，测量电路用于检测并处理所述次级线圈中感应出的电压，得出被测试样中 产生的涡流电压并对其进行显示。所述两个测量线圈均为具有10匝绕组的线圈。所述两个平衡线圈均为具有10匝绕组的线圈。所述正弦波发生器包括振荡器、功率放大器和电流控制器；所述振荡器的输出端与功率放大器连接，功率放大器的输出端作为电源输出端， 功率放大器的一路输出端上设置电流控制器。所述测量电路包括测量信号放大器、同步检波器、指示仪表和同步基准处理器；所述测量信号放大器经同步检波器与指示仪表连接，同步基准处理器与同步检波 器连接。所述测量信号放大器由前置放大器、中间放大器和调谐放大器依次连接而成。所述同步检波器由混频器、低通滤波器和连接放大器依次连接而成，所述连接放 大器的输出端用于与指示仪表连接。所述同步基准处理器由放大器、移相器和施密特触发器依次连接而成，所述放大 器的输入端用于与所述正弦波发生器的电源输出端连接。3从上述本技术实施例提供的技术方案中可以看出，本技术实施例通过两 个测量线圈、平衡线圈连接后，在正弦波发生器和测量电路的配合下，利用涡流法以无接触 方式方便的对材料的电阻率进行测量，克服了通过表面电极接触测量的缺点。该测量装置 具有结构简单、测量方便，测量精度高等优点。附图说明图1为本技术实施例的电阻率测量装置中的初级线圈与次级线圈的连接示 意图；图2为本专利技术实施例的电阻率测量装置的结构示意图；图中各标号为1_第一测量线圈；2-第二测量线圈；3-被测试样；1'-第一平衡 线圈；2'-第二平衡线圈。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明。实施例本实施例提供一种电阻率测量装置，是一种利用涡流法以无接触方式测量材料电 阻率的装置，如图1、2所示，该装置包括两个测量线圈1、2，两个平衡线圈1'、2'，正弦波 发生器和测量电路；其中，所述的第一测量线圈1与第一平衡线圈1'串联连接组成初级线圈，所述的 第二测量线圈2与第二平衡线圈2'反向串联连接组成次级线圈；第一测量线圈1与第二 测量线圈2相对设置并间隔一定距离，两个测量线圈1、2之间的空间作为放置被测试样3 的空间，第一平衡线圈1'与第二平衡线圈2'相对设置并间隔一定距离，且两个平衡线圈 1'、2'之间的距离可以调节；实际中，两个测量线圈1、2均采用具有10匝绕组的线圈，两 个平衡线圈1'、2'也均采用具有10匝绕组的线圈，两个平衡线圈1'、2'与两个测量线 圈1、2之间保持一定距离，以避免测量过程中线圈的磁性造成相互影响；第一测量线圈1与 第一平衡线圈1'串联所组成的初级线圈与正弦波发生器的电源输出端连接，第二测量线 圈2与第二平衡线圈2'反向串联所组成的次级线圈与测量电路连接，测量电路用于检测 并处理次级线圈中感应出的电压，得出被测试样3中产生的涡流电压并对其进行显示，通 过得出被测试样中产生的涡流电压可进一步得出被测试样3的电阻率。上述测量装置中的正弦波发生器如图2所示，包括振荡器、功率放大器和电流控 制器；其中，振荡器的输出与功率放大器连接，功率放大器的输出端作为电源输出端与第一 测量线圈1与第一平衡线圈1'串联所组成的初级线圈连接，功率放大器的一路输出上设 置电流控制器。上述测量装置中的测量电路如图2所示，包括测量信号放大器、同步检波器、指 示仪表和同步基准处理器；其中，测量信号放大器经同步检波器与指示仪表连接，同步基准 处理器与同步检波器连接。上述测量装置中的测量信号放大器由前置放大器、中间放大器和调谐放大器依次 连接而成；同步检波器由混频器、低通滤波器和连接放大器依次连接而成，连接放大器的输 出端用于与指示仪表连接；同步基准处理器由施密特触发器、移相器和放大器依次连接而成，放大器的输入端用于与正弦波发生器的电源输出端连接，施密特触发器的输出端与同 步检波器的混频器连接。上述测量装置测量被测试样3时，将被测试样3放置在第一测量线圈1与第二测 量线圈2之间，当正弦波电流Ip通过第一测量线圈1(初级线圈)时，产生了一个交变的磁 场，因而在被测试样3内产生了涡流；在第二测量线圈2 (次级线圈)的端子上感应出一个 电压V，该电压V是由两部分分量电压叠加而成，一部分是由第一测量线圈1的交变磁场感 生的电压V1，另一部分则是被测试样3内电涡流磁场感生的电压V2，而V2比V1在相位上超 前 90° ；电压V输出至测量电路，两个分量V1和V2通过测量电路进行放大器锁定、同步检 波后可以消除分量电压V1，只保留与V1正交的分量电压V2，相位鉴别由两个平衡线圈1'、 2'组成的补偿器进行精确调整；这样测得的分量电压V2显示在测量电路的指示仪表上，由电磁学知识可知，铁磁 材料在磁化时产生涡流的大小和其电阻率成反比，所以分量电压V2的值与被测试样3的电 阻率P成反比，即当该测量装置的各参数(如各线圈的几何尺寸、线圈之间的距离等)确 定后，被测试样的电阻率P与测量得到的分量电压V2之积P V2是一常数，因此，可用电阻 率已知的标准试样对该测量装置进行校正，求出这一常数值，则在测量电阻率P未知的被 测试样时，根据测量得到的被测试样在测量装置中因电涡流磁场感生的分量电压V2的值， 利用已测得的常数值，即可得出被测试样的电阻率的数值。上述测量装置测量被测试样3的电阻率时，可通过两个平衡线圈对测量装置进行 补偿为了使测量值只包含有电涡流磁场产生的分量电压V2，应除去由激励磁场产生的 分量电压V1，为了使鉴别准确，V1的值不能过大，尤其是不到大到与V2的值相比，并且还要 精确地确定分量电压V1的特征基准相位，这可以通过调整与第一、第二测量线圈1、2连接 的第、第二平衡线圈1'、2'来实现(参见图1)，具体为在没有被测试样3时，次级线圈的第二测量线圈2上出现一个电压Vla，该电压Vla 由初级线圈的第一测量线圈1的激励磁场感生得到；同样，在第二平衡线圈2'上由第一平 衡线圈1'的激励磁场感生也得本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻率测量装置，其特征在于，包括：两个测量线圈、两个平衡线圈、正弦波发生器和测量电路；所述第一测量线圈与所述第一平衡线圈串联连接组成初级线圈，所述第二测量线圈与所述第二平衡线圈反向串联连接组成次级线圈；两个测量线圈相对设置并间隔一定距离，两个平衡线圈相对设置并间隔一定距离，且两个平衡线圈之间的距离能调节；所述组成的初级线圈与正弦波发生器的电源输出端连接，所述组成的次级线圈与测量电路连接，测量电路用于检测并处理所述次级线圈中感应出的电压，得出被测试样中产生的涡流电压并对其进行显示。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张起祥，
申请(专利权)人：湖州师范学院，
类型：实用新型
国别省市：33[中国|浙江]