本公开揭示了一种芯片辅助测试装置，所述装置包括驱动模块和ADC转换模块，其中，驱动模块用于采集待测芯片的测试引脚输出的第一模拟信号并转换为第二模拟信号；驱动模块还用于采集由测试机提供给待测芯片的特定信号并转换为第三模拟信号；ADC转换模块用于将第二模拟信号转换为第一数字信号，测试机根据第一数字信号计算获得第一模拟信号的实际值，并通过与卡控值进行比对，以检测待测芯片是否为良品；ADC转换模块还用于将第三模拟信号转换为第二数字信号，测试机根据第二数字信号计算获得测试机提供的特定信号的实际值，并通过与理论值进行比对，以确定是否对测试机提供的特定信号进行补偿。信号进行补偿。信号进行补偿。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片辅助测试装置及测试方法
[0001]本公开属于芯片测试领域，具体涉及一种芯片辅助测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]目前，随着科技的发展，对于车载芯片、电池管理芯片等芯片的测试精度要求越来越高。由于芯片制造工艺的影响，芯片高精度的输出和输入需要修调到理想状态下。目前，大多数模拟测试机使用的是16位的ADC芯片，精度无法达到测试要求，而且芯片到测试板卡要经过包括排线在内的有一定阻抗的线路，导致测试时无法达到测试要求。目前，常用的方法是在调试时通过六位半万用表在测试前对个别芯片进行校准，然后取一个适当的值用来生产。而量产的时候，无法对测试进行实时的校准或补偿，由于批次或者测试机的不同，调试校准的精度可能不适合，从而影响测试良率。而且六位半万用表在测试前校准，即增加了测试复杂度又无法实时校准。因此，为了提高芯片的测量精度，以达到测试要求，有必要提出一种实时的精密校准和补偿系统。
技术实现思路
[0003]针对现有技术中的不足，本公开的目的在于提供一种芯片辅助测试装置，该装置能够辅助测试机提高待测芯片的测试精度。
[0004]为实现上述目的，本公开提供以下技术方案：
[0005]一种芯片辅助测试装置，所述装置一侧连接待测芯片，另一侧连接测试机，测试机与待测芯片连接，所述测试机为待测芯片提供测试所需的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号，所述装置包括驱动模块和ADC转换模块，其中，
[0006]所述驱动模块用于采集待测芯片的测试引脚输出的第一模拟信号，以及将第一模拟信号转换为所述ADC转换模块可用的第二模拟信号；所述驱动模块还用于采集通过待测芯片的测试引脚输出的由测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号，以及用于将特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号转换为ADC转换模块可用的第三模拟信号；
[0007]所述ADC转换模块用于将所述第二模拟信号转换为第一数字信号后输入测试机，测试机根据第一数字信号计算获得第一模拟信号的实际值，并通过与卡控值进行比对，以检测待测芯片是否为良品；所述ADC转换模块还用于将所述第三模拟信号转换为第二数字信号后输入测试机，测试机根据第二数字信号计算获得测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号的实际值，并通过与理论值进行比对，以确定是否对测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号进行补偿。
[0008]优选的，所述驱动模块包括I
‑
V转换电路，用于将由待测芯片测试引脚输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号。
[0009]优选的，所述驱动模块还包括分压电路，用于对由待测芯片测试引脚输出的第一模拟信号分压。
[0010]优选的，所述驱动模块还包括放大电路，用于对由待测芯片测试引脚输出的第一模拟信号进行放大，以获得放大后的第一模拟信号。
[0011]优选的，所述驱动模块还包括保护电路，用于对ADC转换模块形成保护。
[0012]优选的，所述ADC转换模块包括ADC芯片，ADC芯片外接多个电容和电阻。
[0013]优选的，所述装置还包括参考电压模块，用于为ADC转换模块提供参考电压。
[0014]优选的，所述测试装置还包括接口电路，接口电路包括多个排针。
[0015]本公开还提供一种芯片辅助测试方法，包括以下步骤：
[0016]采集待测芯片的测试引脚输出的第一模拟信号以及将第一模拟信号转换为第二模拟信号；
[0017]将第二模拟信号转换为第一数字信号后输入测试机；
[0018]测试机根据第一数字信号计算获得第一模拟信号的实际值，并通过与卡控值进行比对，以检测待测芯片是否为良品。
[0019]本公开还提供一种芯片辅助测试方法，包括以下步骤：
[0020]采集通过待测芯片的测试引脚输出的由测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号，以及用于将特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号转换为第三模拟信号；
[0021]将第三模拟信号转换为第二数字信号后输入测试机，测试机根据第二数字信号计算获得测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号的实际值，并通过与理论值进行比对，以确定是否对测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号进行补偿。
[0022]与现有技术相比，本公开带来的有益效果为：
[0023]1、本公开能够提高测试机的测试精度：目前的模拟测试机的测量精度最高为0.1mv，而一些芯片要求的测试精度大于0.1mv。本公开采用24bit或者更高位的ADC芯片，理论上，本公开的采集分辨率为测量电压1/2^24V，实际上受芯片本身的影响或者温度的影响，一般精度能够达到0.001mv，完全可以满足一些高精度芯片的测量需求；
[0024]2、本公开改善了信号因PCB走线长，排线长等因素导致的测量误差：模拟信号的走线或者排线长度过长，线路上的阻抗会使信号有损耗，测量或给电会有一定误差。模块可以靠近芯片引脚放置，模拟电路走线比较短，测量的模拟量误差小，后续输出给测试机通过数字信号，可以降低因走线和排线过长造成的误差；
[0025]3、本公开优化了调试，生产效率：目前的高精度测试，是在调试时候，通过六位半万用表对许多不同芯片进行测试，然后找到最优值，后面的测试过程也是通过这个最优值进行测试，非实时数据；使用本模块，只要在调试时候通过几个芯片确认好程序里面的公式，然后实时的获取测试数据进行实时的测量或校准，不会因测试芯片的批次，环境的变化而影响测量结果。提高了调试的效率和测试的准确率；
[0026]4、本公开可以精确测量EFUSE后的阻值，判断是否烧断：对于修调的芯片，efuse后需要确认阻值是否正确(一般调试时候使用六位半万用表判断)，本公开可以在测试过程中对修调的引脚进行测试，并计算出阻值。
附图说明
[0027]图1是本公开一个实施例提供的一种芯片辅助测试装置的结构示意图；
[0028]图2是图1所示测试装置中驱动模块的电路示意图；
[0029]图3是图1所示测试装置中转换模块的电路示意图；
[0030]图4是图1所示测试装置中参考电压模块的电路示意图；
[0031]图5是图1所示测试装置中接口电路的电路示意图；
[0032]图6是图5所示接口电路中排针的位置示意图；
[0033]图7是添加测试装置后的芯片测试示意图。
具体实施方式
[0034]下面将参照附图1至图7详细地描述本公开的具体实施例。虽然附图中显示了本公开的具体实施例，然而应当理解，可以通过各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0035]需要说明的是，在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片辅助测试装置，所述装置一侧连接待测芯片，另一侧连接测试机，测试机与待测芯片连接，所述测试机为待测芯片提供测试所需的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号，所述装置包括驱动模块和ADC转换模块，其中，所述驱动模块用于采集待测芯片的测试引脚输出的第一模拟信号，以及将第一模拟信号转换为所述ADC转换模块可用的第二模拟信号；所述驱动模块还用于采集通过待测芯片的测试引脚输出的由测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号，以及用于将特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号转换为ADC转换模块可用的第三模拟信号；所述ADC转换模块用于将所述第二模拟信号转换为第一数字信号后输入测试机，测试机根据第一数字信号计算获得第一模拟信号的实际值，并通过与卡控值进行比对，以检测待测芯片是否为良品；所述ADC转换模块还用于将所述第三模拟信号转换为第二数字信号后输入测试机，测试机根据第二数字信号计算获得测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号的实际值，并通过与理论值进行比对，以确定是否对测试机提供的特定测试电压信号或特定测试电流信号或特定测试脉冲信号进行补偿。2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，优选的，所述驱动模块包括I
‑
V转换电路，用于将由待测芯片测试引脚输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号。3.根据权利要求2所述的测试装置，其中，所述驱动模块还包括分压电路，用于对由待测芯片测试引脚输出的第一模拟信号分压。4....
【专利技术属性】
技术研发人员：张文亮，谢凯，卢旭坤，董尚平，杨柳，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。