复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法、设备及介质技术

本发明专利技术属于测井技术领域，公开了一种复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法、设备及介质，复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法包括：通过井眼的大量正演数据形成新的图版数据，利用反演法计算校正的系数，通过随机森林判断地层条件，并通过非线性训练读取校正系数，得到校正后的电阻率。本发明专利技术考虑了实际地层中的环境因素对测井数据的影响，避免了校正参考样本的不一致性；本发明专利技术考虑了扩径对各测井曲线的影响机理，校正结果更加准确；本发明专利技术对复杂井眼结构进行了扩径分类，选择不同的矫正方法来获取校正系数；本发明专利技术对电阻率测井系列进行扩径校正，避免了将油气层段当成扩径层段来校正的情况。段来校正的情况。段来校正的情况。

【技术实现步骤摘要】
复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法、设备及介质


[0001]本专利技术属于测井
，尤其涉及一种复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法、设备及介质。

技术介绍

[0002]目前，地球物理测井是重要的储层参数评价解释方法之一，主要是对井孔原流体和岩石流体混合物的物理性质进行记录的过程。现代化的测井技术是油气田开发和勘探的关键性手段之一，运用测井设备将地下的油气信息转换成可编辑可处理的数据，通过特定的方式处理数据，从而反映出地层的物理信息，指导油气开发与实际获产，同时对井网部署和优选测试层段有着重要意义。但是在实际测井曲线的测量过程中，不可避免地会受到井眼扩径等井眼环境因素的影响，导致测井数据不能真实的反映地下的地层信息。
[0003]电阻率测井一直以来是确定地层含油气性的关键测井资料之一，对老井复查和新油气区域的勘探开发具有重要意义。岩石电阻率随测量频率的变化而变化，是岩石介质的重要特征之一，因此通过测井仪器对地层放射合理的电流频率，可以进行地层电位测量，从而获取地层电阻率。
[0004]由于水基泥浆的浸泡，靠近井壁部分的泥岩吸水膨胀,改变了自身的电阻率,随着泥浆浸泡时间的增长，靠近井壁部分发生垮塌，造成井径扩大。钻井液电阻率的变化对电阻率测井曲线有较大的影响，井径大小反映了井下仪器周围泥浆厚度的变化，井径影响实质上反映了钻井液电阻率的影响。井眼扩径会对测井资料的质量造成较大影响，在复杂致密储层的测井响应中，测井信息对流体的分辨率受储层骨架的影响远大于孔隙部分的影响，从而造成含气储层流体类型识别精度不高，因此需要对使用的测井曲线数据进行扩径校正。
[0005]随着技术的发展，近年已有通过声波时差曲线与伽马曲线数据的交会图来区分扩径段的方法，利用伽马曲线数据受井径影响较小的特点，将其与受井径影响较大的曲线数据做交会图，识别需要被校正的井段，但这种方法容易将含油气层段当成扩径层段来校正，从而造成错误的测井校正结果。
[0006]现有技术1一种测井曲线校正方法及装置(CN201610621073.1)，通过各测井曲线确定控制曲线数据，利用控制曲线数据对测井曲线进行校正。再根据钻头直径曲线数据和井径曲线数据确定井径差值曲线数据，确认曲线数据中的需要校正数据点，对目标数据点进行扩径校正，得到扩径校正后的曲线数据。最后将控制曲线数据校正的测井曲线与扩径校正后的曲线数据建立交会图，进行一致性校正。但是这种方法没有考虑扩径对各测井曲线的影响机理，校正范围有限，从而造成较大的误差；同时未考虑实际地层中的环境因素对测井数据的影响，作为校正参考样本的未扩径段的岩性、孔隙度、泥质含量等条件不一致。
[0007]现有技术2一种密度测井扩径校正方法及装置(CN202010380487.6)CN111520126A公开了获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点
处是否扩径；根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径地层密度曲线失真的每个深度点处地层密度校正值；根据扩径层段密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。但是，这种方法容易将只是油气的层段当成扩径层段来校正，从而造成错误的测井校正结果；本专利技术针对电阻率测井方法，与密度测井不属于同类测井方法。
[0008]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：
[0009]1)建立井眼结构与电阻率响应的关系模型：通过对多种复杂井眼结构的电阻率响应进行研究，建立井眼结构与电阻率响应之间的关系模型。这有助于更好地理解井眼结构对电阻率测井数据的影响，提高测井数据的准确性。
[0010]2)采用多种测井技术进行综合分析：在电阻率测井的基础上，结合其他测井技术(例如声波、密度、伽马等)进行综合分析，提高对扩径段识别以及储层流体评价的准确性。
[0011]3)针对不同扩径程度和类型进行校正研究：研究不同扩径程度和类型对储层电阻率和电阻率系列径向特征的影响，以便为扩径校正提供更准确的参考依据。
[0012]4)引入机器学习和人工智能技术：应用机器学习和人工智能技术对测井数据进行自动识别和校正，提高测井数据的精确度和处理效率。
[0013]5)加强实际地层环境因素的研究：对实际地层中的岩性、孔隙度、泥质含量等环境因素进行深入研究，以便更好地理解这些因素对测井数据的影响，从而提高测井数据校正的准确性。
[0014]6)优化测井资料处理和解释方法：改进现有的测井资料处理和解释方法，提高测井曲线解释的精确度，为后续的储层流体评价提供更准确的基础。
[0015]综上所述，针对现有技术的不足，通过采用上述改进措施，可以有效提高电阻率测井数据的准确性和可靠性，为油气田的开发和勘探提供更有力的技术支持。

技术实现思路

[0016]针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法、设备及介质。
[0017]本专利技术是这样实现的，一种复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法，包括：
[0018]S101：井眼扩径特征分析，根据扩径基本特征对扩径程度进行分类，分析不同扩径程度下电阻率测井的响应。
[0019]S102：根据不同类型的扩径响应特征建立井眼校正图版，分类型使用不同方法，提高井眼校正图版的准确性和适用范围；根据扩径分类建立校正图版，有效提高井眼校正图版的准确性和适用范围；
[0020]S103：根据实际测井曲线，提取参数，通过随机森林法判断地层条件并确定校正系数，对电阻率测井曲线进行校正。
[0021]进一步，所述复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法包括：
[0022]在建立图版的过程中，首先根据井眼扩径形态及大小特征将扩径程度进行分类；根据扩径类型建立相应的井眼校正图版，对于地层无限厚、井眼尺寸一定的地层模型，利用二维有限元方法模拟不同钻井液条件下的电阻率测井响应；存在严重扩径层段，采用三维拟合的方法，提高图版的适用范围；根据井径测井及电阻率测井曲线组合变化Ry提取输入参数：
[0023]Ry＝Ra*T
t
/(μ*(T+T0)*R
mf
) (1)
[0024]μ＝(145.22*R
m
‑
4.87)/(336.75*R
m
+78.31) (2)
[0025]其中Ra为电阻率测井曲线对应深度点处的测量数据，μ为钻井液本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法，其特征在于，包括：S101：井眼扩径特征分析，根据扩径基本特征对扩径程度进行分类，分析不同扩径程度下电阻率测井的响应；S102：根据不同类型的扩径响应特征建立井眼校正图版，分类型使用不同方法，提高井眼校正图版的准确性和适用范围；根据扩径分类建立校正图版，提高井眼校正图版的准确性和适用范围；S103：根据实际测井曲线，提取参数，通过随机森林法判断地层条件并确定校正系数，对电阻率测井曲线进行校正。2.如权利要求1所述的复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法，其特征在于，所述复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法包括：在建立图版的过程中，首先根据井眼扩径形态及大小特征将扩径程度进行分类；根据扩径类型建立相应的井眼校正图版，对于地层无限厚、井眼尺寸一定的地层模型，利用二维有限元方法模拟不同钻井液条件下的电阻率测井响应；存在严重扩径层段，采用三维拟合的方法，提高图版的适用范围；根据井径测井及电阻率测井曲线组合变化Ry提取输入参数：Ry＝Ra*T
t
/(μ*(T+T0)*R
mf
) (1)μ＝(145.22*R
m
‑
4.87)/(336.75*R
m
+78.31) (2)其中Ra为电阻率测井曲线对应深度点处的测量数据，μ为钻井液类型转换系数，T
t
为工程校正转换后的温度，T为实际井深对应的地层温度，T0为地面温度，R
mf
为钻井液滤液电阻率值，R
m
为钻井液电阻率。通过随机森林法判断地层及井筒条件并自动输出校正系数；最后根据校正系数对电阻率测井曲线进行校正，为后续的测井解释研究提供基础。3.如权利要求1所述复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法，其特征在于，所述复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法包括以下步骤：步骤一，经验扩径特征分析，根据扩径形态及大小特征对扩径程度进行分类，分析不同扩径程度下电阻率测井的响应；步骤二，根据不同类型的扩径响应特征分类建立井眼校正图版，分类型使用不同方法，提高井眼校正图版的准确性和适用范围；步骤三，根据实际多井径测井及电阻率测井曲线组合，提取输入参数，通过随机森林法判断地层条件并确定校正系数，对电阻率测井曲线进行校正；步骤四，对电阻率测井曲线进行校正，建立井眼模型，为后续测井解释工作提供基础数据。4.如权利要求2所述复杂井眼结构的电阻率测井扩径校正方法，其特征在于，所述构建井眼校正图版包括：根据不同的井眼形态建立地层
‑
井筒模型，利用有限元进行测井正演模拟，结合模拟响应与地层模型参数提取不同井眼条件下的校正系数，建立相应的三维井眼校正图版。5.如权利要求2所述复杂井眼结构的电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：相泽厚，李可赛，邓虎成，刘岩，杨玉霏，何贤宏，孙佳琦，李瑞雪，郑明明，王攀，王杰，
申请(专利权)人：成都理工大学，
类型：发明
国别省市：