一种扫查架制造技术

本实用新型专利技术涉及一种扫查架，涉及扫查架的技术领域，包括支架、扫查仪、移动机构以及升降机构，所述移动机构滑动设置在支架上，所述扫查仪活动设置在支架上，所述移动机构用于驱动扫查仪在支架上移动，所述升降机构包括第一电推缸以及控制器，所述第一电推缸的固定部设置在支架上，所述第一电推缸设置有多个，所述控制器设置在支架上，所述第一电推缸与控制器电信号连接；本装置能够使大小不同的物体均能放置到支架下方，进而可对大小不同的物体进行扫查。查。查。

【技术实现步骤摘要】
一种扫查架


[0001]本技术涉及扫查架
，尤其涉及一种扫查架。

技术介绍

[0002]扫查架在检测行业是常见的一种机器，通过扫查探头的移动达到对目标物件的全覆盖扫描查验，通常有特定的扫查工装与探头(通常由扫查架、探头、编码器等组成)进行主要操作，此工装同时安装在小车上，通过在规定的轨迹上移动达到来回扫描目的。
[0003]但是，现有技术中的扫查架在对物体进行扫查时，会有大小不一或带有曲面的的物体需要进行扫查，使得扫查架无法满足对不同体态的物体进行扫查。

技术实现思路

[0004]为了对不同大小形态的物体进行扫查，本技术提供一种扫查架。
[0005]本技术提供一种扫查架，采用如下的技术方案：
[0006]一种扫查架，包括支架、扫查仪、移动机构以及升降机构，所述移动机构滑动设置在支架上，所述扫查仪活动设置在支架上，所述移动机构用于驱动扫查仪在支架上移动，所述升降机构包括第一电推缸以及控制器，所述第一电推缸的固定部设置在支架上，所述第一电推缸设置有多个，所述控制器设置在支架上，所述第一电推缸与控制器电信号连接。
[0007]通过采用上述技术方案，在对不同大小的物体进行扫查时，将物体放置在支架下方，通过控制器控制第一电推缸的伸出与收缩，使支架升高或降低，进而使得不同体态的物体能够放到支架下放，之后，移动机构带动扫查仪在支架上移动，对物体的各个部位进行扫查，由于升降机构的设置使得大小不同的物体均能放置到支架下方，进而可对大小不同的物体进行扫查。
[0008]可选的，所述升降机构还包括固定板，所述固定板设置有多个，所述固定板设置在第一电推缸远离支架的一端上，所述固定板的面积大于第一电推缸的截面面积。
[0009]通过采用上述技术方案，当电推缸带动支架升高或降低时，由于固定板的设置使得支架在升高的过程中更稳定，进而提高支架的稳定行，进而降低支架倾倒的概率。
[0010]可选的，所述支架上还设置有横梁，所述横梁滑动设置在支架上，所述移动机构包括第一移动组件，所述第一移动组件包括第一滑轨、第一滑块以及第一伺服电机，所述第一滑轨设置在支架上，所述第一滑块设置在横梁上，所述第一伺服电机设置在横梁上，所述第一伺服电机的输出端与支架传动连接，所述扫查仪滑动设置在横梁上。
[0011]通过采用上述技术方案，第一伺服电机带动横梁在支架上移动，横梁带动扫查仪在支架上移动，使得扫查仪沿着支架长度方形进行移动，由于第一滑轨以及第一滑块的设置使得横梁带动扫查仪在支架上移动时，使得横梁移动更稳定，进而减小扫查仪在对物体进行扫查时晃动的概率，进而提高扫查的精度。
[0012]可选的，所述移动机构还包括第二移动组件，所述第二移动组件包括第二滑轨、第二滑块以及第二伺服电机，所述第二滑轨设置在横梁上，所述第二滑块滑动设置在第二滑
轨上，所述第二伺服电机设置在第二滑块上，所述第二伺服电机的输出端与横梁传动连接，所述扫查仪设置在第二滑块上。
[0013]通过采用上述技术方案，第一伺服电机带动横梁在支架上移动，横梁带动扫查仪在支架上移动，使得扫查仪沿着支架长度方形进行移动，第二伺服电机带动第二滑块在横梁上移动，使得扫查仪能对物体各个区域进行扫查，进而提高对物体的扫查精度。
[0014]可选的，所述移动机构还包括第三移动组件，所述第三移动组件包括第三滑轨、第三滑块以及第二电推缸，所述第三滑轨设置在第二滑块上，所述第三滑块滑动设置在第三滑轨上，所述第二电推缸设置在第二滑块上，所述第二电推缸的输出端与第三滑块传动连接，所述扫查仪设置在第三滑块上。
[0015]通过采用上述技术方案，当被扫查物体的表面为曲面时，第二电推缸带动第三滑块在第二滑块上上下移动，第三滑块带动扫查仪上下移动，进而减小扫查仪在沿着支架长度和宽度方向移动时触碰到物体的概率，进而减小扫查仪碰坏的概率。
[0016]可选的，所述支架上还设置有限位块，所述限位块设置有多个。
[0017]综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
[0018]在对不同大小的物体进行扫查时，将物体放置在支架下方，通过控制器控制第一电推缸的伸出与收缩，使支架升高或降低，进而使得不同体态的物体能够放到支架下方，由于第一滑轨以及第一滑块的设置使得横梁带动扫查仪在支架上移动时，使得横梁移动更稳定，进而减小扫查仪在对物体进行扫查时晃动的概率，进而提高扫查的精度。
附图说明
[0019]图1是本实施例的整体结构示意图；
[0020]图2是图 1中A部放大图；
[0021]图3是图1中B部放大图。
[0022]附图标记说明：100、支架；200、扫查仪；300、横梁；400、移动机构；410、第一移动组件；411、第一滑轨；412、第一滑块；413、第一伺服电机；420、第二移动组件；421、第二滑轨；422、第二滑块；423、第二伺服电机；430、第三移动组件；431、第三滑轨；432、第三滑块；433、第二电推缸；500、升降机构；510、第一电推缸；520、固定板；530、控制器。
具体实施方式
[0023]以下结合附图1
‑
附图3对本技术作进一步详细说明。
[0024]本技术实施例公开一种扫查架。参照图1
‑
图3，一种扫查架，包括支架100、扫查仪200、移动机构400以及升降机构500，所述移动机构400以及升降机构500均设置在支架100上，所述滑动机构用于驱动扫查仪200在支架100上移动，所述升降机构500用于驱动支架100的升降。
[0025]参照附图1、图2及图3，所述支架100上设置有横梁300，所述横梁300滑动设置在支架100上，所述移动机构400包括第一移动组件410、第二移动组件420以及第三移动组件430，所述第一移动组件410包括第一滑轨411、第一滑块412以及第一伺服电机413，所述第一滑轨411设置在支架100上，所述第一滑块412设置在横梁300上，所述第一伺服电机413设置在横梁300上，所述第一伺服电机413的输出端与支架100传动连接，所述第二移动组件
420包括第二滑轨421、第二滑块422以及第二伺服电机423，所述第二滑轨421设置在横梁300上，所述第二滑块422滑动设置在第二滑轨421上，所述第二伺服电机423设置在第二滑块422上，所述第二伺服电机423的输出端与横梁300传动连接，所述第三移动组件430包括第三滑轨431、第三滑块432以及第二电推缸433，所述第三滑轨431设置在第二滑块422上，所述第三滑块432滑动设置在第三滑轨431上，所述第二电推缸433设置在第二滑块422上，所述第二电推缸433的输出端与第三滑块432传动连接，所述扫查仪200设置在第三滑块432上。
[0026]第一伺服电机413带动横梁300在支架100上移动，横梁300带动扫查仪200在支架100上移动，使得扫查仪200沿着支架10本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫查架，其特征在于：包括支架（100）、扫查仪（200）、移动机构（400）以及升降机构（500），所述移动机构（400）滑动设置在支架（100）上，所述扫查仪（200）活动设置在支架（100）上，所述移动机构（400）用于驱动扫查仪（200）在支架（100）上移动，所述升降机构（500）包括第一电推缸（510）以及控制器（530），所述第一电推缸（510）的固定部设置在支架（100）上，所述第一电推缸（510）设置有多个，所述控制器（530）设置在支架（100）上，所述第一电推缸（510）与控制器（530）电信号连接。2.根据权利要求1所述的一种扫查架，其特征在于：所述升降机构（500）还包括固定板（520），所述固定板（520）设置有多个，所述固定板（520）设置在第一电推缸（510）远离支架（100）的一端上，所述固定板（520）的面积大于第一电推缸（510）的截面面积。3.根据权利要求1所述的一种扫查架，其特征在于：所述支架（100）上还设置有横梁（300），所述横梁（300）滑动设置在支架（100）上，所述移动机构（400）包括第一移动组件（410），所述第一移动组件（410）包括第一滑轨（411）、第一滑块（412）以及第一伺服电机（413），所述第一滑轨（411）设置在支架（100）上，所述第一滑块（412）设置在横梁（300）上，所述第一伺服...

【专利技术属性】
技术研发人员：张宁宁，李伟，康朋，王雪鹏，
申请(专利权)人：山东科捷工程检测有限公司，
类型：新型
国别省市：