本实用新型专利技术公开了一种便于快速检测的半导体电性测试装置，涉及半导体测试设备技术领域，针对现有的半导体测试装置通常在工作时，只能夹持固定单一规格的半导体三极管，在测试其他规格时，需要对相应部件进行调整，局限性较高的问题，现提出以下方案，其包括固定机构和测试机构，所述固定机构用于夹持固定半导体三极管，且所述固定机构中设置有用于调节滑块的双向丝杆，所述测试机构用于对半导体进行电性测试，且所述测试机构与固定机构通过连接杆连接。本实用新型专利技术将三极管放置在固定机构上方，通过固定机构作用，使得三极管固定在中心部位，之后可通过转动第二调节旋钮，使得三极管的引脚插接进测试机构中，而测试机构能够调节插接口的间距。节插接口的间距。节插接口的间距。
【技术实现步骤摘要】
一种便于快速检测的半导体电性测试装置
[0001]本技术涉及半导体测试设备
，尤其涉及一种便于快速检测的半导体电性测试装置。
技术介绍
[0002]半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料，而三级管全称为半导体三极管，是一种半导体器件，在三极管生产完毕后，需要对其进行抽样电性测试，以确保半导体三极管的质量。
[0003]现有的半导体测试装置通常在工作时，只能夹持固定单一规格的半导体三极管，在测试其他规格时，需要对相应部件进行调整，使得操作步骤繁琐，局限性较高的问题，所以针对现有技术存在的不足，以解决半导体测试装置在测试不同规格半导体时，需要调整相应部件，操作较为麻烦的问题。
技术实现思路
[0004]本技术提出的一种便于快速检测的半导体电性测试装置，解决了现有的半导体测试装置在测试不同规格半导体时，需要调整相应部件，操作较为麻烦的问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种便于快速检测的半导体电性测试装置，包括固定机构和测试机构，所述固定机构用于夹持固定半导体三极管，且所述固定机构中设置有用于调节滑块的双向丝杆，所述测试机构用于对半导体进行电性测试，且所述测试机构与固定机构通过连接杆连接；所述固定机构包括双向丝杆，且所述双向丝杆的两端端点固定安装有第一调节旋钮，所述双向丝杆的两端活动连接有套筒，且所述套筒的中部设置有卡齿，所述套筒的一端固定设置有第二调节旋钮。
[0007]优选地，所述固定机构包括底座，且所述底座的上方对称开设有两个滑槽，所述底座的两端中部开设有转孔，且所述底座的一侧两端开设有插槽，所述插槽的中部开设有安装槽。
[0008]优选地，所述滑槽中滑动连接有滑块，且所述滑块与双向丝杆螺纹连接，所述滑块的上方固定安装有夹持板，且所述夹持板之间设置有三极管主体，所述双向丝杆活动连接在转孔中，所述安装槽中设置有卡齿。
[0009]优选地，所述测试机构包括测试箱，且所述测试箱的一侧两端对称安装有两个连接杆，所述连接杆的上等距开设有多个齿槽，且所述连接杆活动插接在插槽中，所述齿槽与卡齿啮合。
[0010]优选地，所述测试箱的上方中部开设有移动槽，且所述移动槽中活动设置有连接轴，所述测试箱的一侧中部开设有放置槽，且所述放置槽中活动安装有边插接箱与中插接箱。
[0011]优选地，所述边插接箱的上方设置有连接柱，且所述连接柱与连接板的一端活动
连接，所述连接板的另一端与连接轴活动连接，所述中插接箱的上方开设有卡槽，且所述卡槽中活动连接有连接轴。
[0012]优选地，所述边插接箱的内部设置有两个导电金属片，且所述导电金属片的内侧与弹簧的一端固定连接，所述弹簧的另一端与边插接箱的内部固定连接，所述导电金属片之间活动插接有三极管主体的引脚。
[0013]本技术的有益效果为：
[0014]1、双向丝杆与滑块螺纹连接，且滑块上方设置有夹持板，夹持板之间放置有三极管，双向丝杆的端点处固定安装有第一调节旋钮，当转动第一调节旋钮时，双向丝杆发生转动，从而使得夹持板间距改变，从而能够夹持固定不同规格的三极管。
[0015]2、在双向丝杆的两端套接有套筒，且套筒的一端固定连接有第二调节旋钮，套筒的中部设置有卡齿，卡齿与齿槽啮合，而齿槽开设在连接杆上方，且连接杆一端活动插接在插槽中，一端固定安装有测试箱，当转动第二调节旋钮时，卡齿发生旋转，从而带动连接杆移动，三极管的引脚能够插接进测试机构中。
[0016]3、边插接箱的上方设置有连接柱，连接柱与连接板的一端活动连接，而连接板的另一端活动连接在连接轴上，当移动连接轴时，连接板推动连接柱，使得边插接箱向两端移动，从而改变插接箱之间的距离，使得不同规格的三极管能够将引脚插接进插接箱中。
[0017]综上所述，该装置不仅能够解决半导体电性测试装置在对不同规格半导体测试时，需要调节相应部件的问题，还能够控制测试机构的移动，方便引脚的插接。
附图说明
[0018]图1为本技术的总体结构示意图。
[0019]图2为本技术固定机构的结构示意图。
[0020]图3为本技术固定机构的剖面结构示意图。
[0021]图4为本技术测试机构的结构示意图。
[0022]图5为本技术的测试箱内部结构示意图。
[0023]图6为本技术的边插接箱的结构示意图。
[0024]图中标号：1、底座；101、滑槽；102、转孔；103、插槽；104、安装槽；2、双向丝杆；3、第一调节旋钮；4、滑块；5、夹持板；6、套筒；7、卡齿；8、第二调节旋钮；9、三极管主体；10、连接杆；11、齿槽；12、测试箱；121、放置槽；122、移动槽；13、边插接箱；14、连接柱；15、中插接箱；151、卡槽；16、连接板；17、连接轴；18、弹簧；19、导电金属片。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0026]参照图1
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图6所示，一种便于快速检测的半导体电性测试装置，包括固定机构和测试机构，固定机构用于夹持固定半导体三极管，且固定机构中设置有用于调节滑块4的双向丝杆2，测试机构用于对半导体进行电性测试，且测试机构与固定机构通过连接杆10连接，本技术将三极管放置在固定机构上方，通过固定机构作用，使得三极管固定在中心部
位，之后可通过转动第二调节旋钮8，使得三极管的引脚插接进测试机构中，而测试机构能够调节插接口的间距，适应不同尺寸的三极管。
[0027]如图1
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图3所示，固定机构包括底座1，且底座1的上方对称开设有两个滑槽101，底座1的两端中部开设有转孔102，且底座1的一侧两端开设有插槽103，插槽103的中部开设有安装槽104，滑槽101中滑动连接有滑块4，且滑块4与双向丝杆2螺纹连接，滑块4的上方固定安装有夹持板5，且夹持板5之间设置有三极管主体9，转动双向丝杆2时，滑块4会发生移动，从而使得滑块4之间的间距发生变化，带动夹持板5进行移动，使得夹持板5能够对三极管进行夹持固定，且因为双向丝杆2两端与滑块4螺纹连接，使得滑块4的移动距离相同，所以能够将三极管固定在中部，双向丝杆2活动连接在转孔102中，安装槽104中设置有卡齿7，双向丝杆2的两端端点固定安装有第一调节旋钮3，且双向丝杆2的两端活动连接有套筒6，套筒6的中部设置有卡齿7，套筒6的一端固定设置有第二调节旋钮8，当转动第二调节旋钮8时，双向丝杆2不受影响，而套筒6发生转动，从而使得卡齿7发生转动。
[0028]如图4
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图6所示，测试机构包括测试箱12，且测试箱12的一侧两端对称安装有两个连接杆10，连接杆10的上等距开设有多个齿槽本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于快速检测的半导体电性测试装置，包括固定机构和测试机构，其特征在于，所述固定机构用于夹持固定半导体三极管，且所述固定机构中设置有用于调节滑块(4)的双向丝杆(2)，所述测试机构用于对半导体进行电性测试，且所述测试机构与固定机构通过连接杆(10)连接；所述固定机构包括双向丝杆(2)，且所述双向丝杆(2)的两端端点固定安装有第一调节旋钮(3)，所述双向丝杆(2)的两端活动连接有套筒(6)，且所述套筒(6)的中部设置有卡齿(7)，所述套筒(6)的一端固定设置有第二调节旋钮(8)。2.根据权利要求1所述的一种便于快速检测的半导体电性测试装置，其特征在于，所述固定机构包括底座(1)，且所述底座(1)的上方对称开设有两个滑槽(101)，所述底座(1)的两端中部开设有转孔(102)，且所述底座(1)的一侧两端开设有插槽(103)，所述插槽(103)的中部开设有安装槽(104)。3.根据权利要求2所述的一种便于快速检测的半导体电性测试装置，其特征在于，所述滑槽(101)中滑动连接有滑块(4)，且所述滑块(4)与双向丝杆(2)螺纹连接，所述滑块(4)的上方固定安装有夹持板(5)，且所述夹持板(5)之间设置有三极管主体(9)，所述双向丝杆(2)活动连接在转孔(102)中，所述安装槽(104)中设置有卡齿(7)。4.根据权利要求1所述的一种便于快速检测的半导体电性测试装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦嘉仲，薛慧，敖彬，黄龙，
申请(专利权)人：惠州市科为联创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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