一种音叉晶振槽深测量设备制造技术

技术编号:39361377 阅读:21 留言:0更新日期:2023-11-18 11:04
本实用新型专利技术公开了一种音叉晶振槽深测量设备,包括工作台,所述工作台的顶部具有用于竖直定位放置音叉晶振的至少两个工位槽,该测量设备还包括沿水平方向切割音叉晶振的切割组件和沿铅垂方向测量音叉晶振断口的测量组件,所述切割组件的切割端和所述测量组件的测量端沿工位槽分布轨迹同步移动,且切割组件的切割端位于测量组件的测量端的移动路径前侧。本实用新型专利技术中,将多个音叉晶振竖直定位放置在工位槽内,先通过切割组件的切割端沿水平方向切割音叉晶振,保障音叉晶振截面切口平整,后直接通过测量组件的测量端对音叉晶振截面槽深进行测量,使得多个音叉晶振切割和测量的连续进行,有效提升了对音叉晶振测量作业的精度和效率。和效率。和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种音叉晶振槽深测量设备


[0001]本技术涉及测量设备
,尤其涉及一种音叉晶振槽深测量设备。

技术介绍

[0002]音叉晶振是指石英晶片外型类似音叉的晶振,应用领域包括钟表及表芯、手机、平板电脑、微型计算机、计算器、家电自动控制和工业自动控制等。
[0003]音叉晶振具体如图1

3所示,在实际生产时,常需要对如图3所示的音叉晶振的截面槽深a进行测量。传统的音叉晶振的截面槽深a测量时,大多通过人工将音叉晶振掰断,再借助测量工具对音叉晶振的截面槽深a进行测量。一方面,由于人工掰断过程中,常常会导致音叉晶振截面切口不平整,进而导致音叉晶振的截面槽深a测量过程中存在误差;另一方面,对音叉晶振的截面槽深a测量时,需要人工将音叉晶振掰断后,再将音叉晶振放置在测量工具对应的工位上进行测量,在需要测量的音叉晶振数量较多时,显然存在测量作业效率不高的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于:为了解决上述提出的问题,而提出的一种音叉晶振槽深测量设备,能将音叉晶振平整切断,且能对音叉晶振连续切断和测量,实现高精度和高效率的测量。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0006]一种音叉晶振槽深测量设备,包括工作台,所述工作台的顶部具有用于竖直定位放置音叉晶振的至少两个工位槽,该测量设备还包括沿水平方向切割音叉晶振的切割组件和沿铅垂方向测量音叉晶振的测量组件,所述切割组件的切割端和所述测量组件的测量端沿工位槽分布轨迹同步移动,且切割组件的切割端位于测量组件的测量端的移动路径前侧。
[0007]作为上述技术方案的进一步描述:
[0008]所述切割组件的切割端和测量组件的测量端通过活动组件与工作台活动连接,所述活动组件上设置有用于所述测量组件的测量端与不同工位槽分别对位的定位组件,所述定位组件包括与活动组件弹性连接的定位块,所述工作台上具有与不同工位槽分别对应的至少两个定位槽,所述定位块弹性滑动挤压至不同定位槽内,以将所述测量组件的测量端与不同工位槽分别对位。
[0009]作为上述技术方案的进一步描述:
[0010]所述定位槽呈V字型结构,所述定位块呈顶角与定位槽槽腔尖端贴合的直三棱柱结构,所述定位块沿其底边中垂线方向朝工位槽内侧弹性滑动。
[0011]作为上述技术方案的进一步描述:
[0012]所述工位槽呈线性间隔分布,所述工作台的顶部具有槽长方向与工位槽线性分布方向平行的滑槽,所述活动组件通过滑槽与工作台滑动连接。
[0013]作为上述技术方案的进一步描述:
[0014]所述活动组件包括在滑槽的水平段内腔滑动的滑动横板和在滑槽的竖直段内腔滑动的滑动竖板,所述滑动竖板与滑槽的竖直段内腔之间具有间隙,所述滑动横板通过滚轮托架式滑动在滑槽的水平段内腔,所述滑动横板顶部、侧壁及底部均安装有与滑槽的水平段内腔抵接的滚轮。
[0015]作为上述技术方案的进一步描述:
[0016]所述定位块的底边垂直固定有贯穿滑动竖板的定位滑杆,所述定位滑杆位于滑动竖板和定位滑杆之间的杆身上套设有挤压弹簧。
[0017]作为上述技术方案的进一步描述:
[0018]所述切割组件包括与工作台固定连接的光纤激光器,所述光纤激光器的激光切割探头水平固定在滑动竖板上,所述激光切割探头沿水平方向发射的激光发射端为所述切割组件的切割端。
[0019]作为上述技术方案的进一步描述:
[0020]所述测量组件包括与工作台固定连接的视觉检测主机,所述视觉检测主机的视觉检测探头竖直固定在滑动竖板上,所述视觉检测探头沿铅垂方向采集的视觉采集端为所述测量组件的测量端。
[0021]综上所述,由于采用了上述技术方案,本技术的有益效果是:
[0022]1、将音叉晶振竖直定位放置在工位槽内,通过切割组件的切割端和测量组件的测量端同步移动,由于切割组件的切割端位于测量组件的测量端移动路径前侧,会先通过切割组件的切割端沿水平方向切割音叉晶振,保障音叉晶振截面切口平整;音叉晶振切断后,后直接通过测量组件的测量端对音叉晶振截面槽深进行测量,使得音叉晶振切割和测量的连续进行,有效提升了对音叉晶振测量作业的精度和效率。并且,通过在工作台顶部设置至少两个工位槽,还可实现多个音叉晶振的连续测量作业,进一步提升了音叉晶振测量作业的工作效率。
[0023]2、切割组件的切割端和测量组件的测量端通过活动组件与工作台活动连接,且活动组件上设置有用于测量组件的测量端与不同工作槽分别对位的定位组件,可在切割组件的切割端将音叉晶振切断后,通过将定位组件中的定位块弹性挤压至工作台的不同的定位槽中,以将测量组件的测量端与不同工位槽分别对位,由此保障测量组件的测量端对音叉晶振的测量精度。
[0024]3、将定位槽设置成V字型结构,且定位块设置成顶角与定位槽槽腔尖端贴合的直三棱柱结构。当定位块位于定位槽槽腔范围内时,定位块沿其底边中垂线方向朝工作槽弹性滑动,若定位块顶角与定位槽槽腔尖端未对齐,定位块与定位槽的槽腔斜边贴合,此时,定位块具有沿定位槽槽腔斜边滑动的运动趋势;在此运动势能大于驱动活动组件滑动的作用力时,定位块会沿着定位槽槽腔斜边滑动直定位块顶角与定位槽槽腔尖端贴合,以自动驱动活动组件调节定位。从而在活动组件移动时,无需精准将活动组件移动至所需位置,只需将活动组件移动至定位块顶角位于定位槽槽腔范围内即可实现活动组件的自动调整,提升了音叉晶振的测量作业操作的便捷性。
[0025]4、工位槽呈线性间隔分布,活动组件沿槽长方向与工位槽分布方向平行的滑槽滑动,以实现活动组件带动切割组件的切割端和测量组件的测量端沿工位槽分布轨迹同步移
动,采用线性分布的方式,使得音叉晶振在工位槽中的布设便捷,以及活动组件的滑动方便快捷。
[0026]5、将滑槽设置成倒字T型结构,活动组件包括在滑槽水平段内腔滑动的滑动横板和在滑槽的竖直段内腔滑动的滑动竖板,以保障活动组件沿着滑槽槽长方向稳定滑动。再将滑动横板通过滚轮托架式滑动在滑槽的水平段内腔,以及滑动竖板与滑槽的竖直段内腔具有间隙,以使得活动组件与滑槽之间滚动摩擦,降低了活动组件滑动的阻力。
[0027]6、通过定位滑杆支撑定位块沿着定位滑杆杆长方向稳定滑动,挤压弹簧套设在定位滑杆外部以对定位块产生弹性挤压力,保障定位块滑动至定位槽中能对滑动竖板的准确定位。
[0028]7、通过光纤激光器的激光切割探头对音叉晶振水平激光切割的方式,能有效保障切口的精细化,提升了对音叉晶振切割的效果。
[0029]8、通过视觉检测主机的视觉检测探头对音叉晶振的切口竖直视觉测量的方式,能有效降低人工测量误差,提升测量的精度。
附图说明
[0030]图1示出了本技术实施例提供的音叉晶振的立体结构示意图;
[0031]图2示出了本技术实施例提供的音叉晶振的正视结构示意图;
[0032]图3示出了图2的A
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种音叉晶振槽深测量设备,其特征在于,包括工作台(20),所述工作台(20)的顶部具有用于竖直定位放置音叉晶振(10)的至少两个工位槽(21),该测量设备还包括沿水平方向切割音叉晶振(10)的切割组件和沿铅垂方向测量音叉晶振(10)断口的测量组件,所述切割组件的切割端和所述测量组件的测量端沿工位槽(21)分布轨迹同步移动,且切割组件的切割端位于测量组件的测量端的移动路径前侧。2.根据权利要求1所述的一种音叉晶振槽深测量设备,其特征在于,所述切割组件的切割端和测量组件的测量端通过活动组件(50)与工作台(20)活动连接,所述活动组件(50)上设置有用于所述测量组件的测量端与不同工位槽(21)分别对位的定位组件,所述定位组件包括与活动组件(50)弹性连接的定位块(61),所述工作台(20)上具有与不同工位槽(21)分别对应的至少两个定位槽(23),所述定位块(61)弹性滑动挤压至不同定位槽(23)内,以将所述测量组件的测量端与不同工位槽(21)分别对位。3.根据权利要求2所述的一种音叉晶振槽深测量设备,其特征在于,所述定位槽(23)呈V字型结构,所述定位块(61)呈顶角与定位槽(23)槽腔尖端贴合的直三棱柱结构,所述定位块(61)沿其底边中垂线方向朝工位槽(21)内侧弹性滑动。4.根据权利要求2或3所述的一种音叉晶振槽深测量设备,其特征在于,所述工位槽(21)呈线性间隔分布,所述工作台(20)的顶部具有槽长方向与工位槽(21)线性分布方向平行的滑槽(22),所述活动...

【专利技术属性】
技术研发人员:董书霞汪鑫丁一奇徐茂东罗枭天王磊束鑫余天翔朱子文
申请(专利权)人:合肥晶威特电子有限责任公司
类型:新型
国别省市:

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