一种微焦源焦点测试装置制造方法及图纸

技术编号:39348396 阅读:12 留言:0更新日期:2023-11-18 11:01
本实用新型专利技术提供了一种微焦源焦点测试装置,属于X射线技术领域。一种微焦源焦点测试装置,其特征在于,包括底座,所述底座一侧上滑动连接有第一安装架,所述第一安装架上设有平板探测器,所述底座另一侧上固定连接有第二安装架,所述第二安装架上开设有凹槽,所述凹槽内可拆卸连接有微焦源整机。本实用新型专利技术具有制作微焦源焦点测试装置,有利于微焦源整机产品的焦点测试并制定测试标准;测试环境的一致性,可以很大程度上降低主观测试误差;用JIMA卡工具评定焦点精度,可以保证微焦源整机的一致性等的优点。等的优点。等的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种微焦源焦点测试装置


[0001]本技术属于X射线
,涉及一种微焦源焦点测试装置。

技术介绍

[0002]微焦点X射线源是通过管芯靶面产生电子透过被成像物体,将被成像物体被放大投影在X射线相机上,再通过SDK软件进行图像采集呈像。在使用时,需要测试调整微焦源整机的工作参数,使图像达到目标焦点精度。目前需要人工放置调整待测试微焦源整机与X射线相机的位置关系,并观察焦点精度,在操作过程中无法有效管控对焦测试的距离,测试效率较低且会存在误差;同一个微焦源整机在不同的测试装置上进行不同距离的测试,会因为测试环境不一致导致偏差。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是针对现有的技术存在上述问题,提出了一种微焦源焦点测试装置,解决了人工测试效率较低,且会因为测试环境不一致导致偏差的问题。
[0004]本技术的目的可通过下列技术方案来实现:
[0005]一种微焦源焦点测试装置,其特征在于,包括底座,所述底座一侧上滑动连接有第一安装架,所述第一安装架上设有平板探测器,所述底座另一侧上固定连接有第二安装架,所述第二安装架上开设有凹槽,所述凹槽内可拆卸连接有微焦源整机。
[0006]在上述的微焦源焦点测试装置中,所述第二安装架上固定连接有放置箱,所述放置箱内设有成像样品。
[0007]在上述的微焦源焦点测试装置中,所述放置箱内固定连接有JIMA卡。
[0008]在上述的微焦源焦点测试装置中,所述放置箱上卡接有箱体盖板。
[0009]与现有技术相比,本技术具有以下优点:
[0010]制作微焦源焦点测试装置,有利于微焦源整机产品的焦点测试并制定测试标准;测试环境的一致性,可以很大程度上降低主观测试误差;用JIMA卡工具评定焦点精度,可以保证微焦源整机的一致性等。
附图说明
[0011]图1是本技术的结构示意图。
[0012]图中,
[0013]2、底座;3、第一安装架;4、平板探测器;5、第二安装架;6、凹槽;7、微焦源整机;8、放置箱;9、箱体盖板。
具体实施方式
[0014]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基
于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0015]如图1所示,
[0016]一种微焦源焦点测试装置,其特征在于,包括底座2,所述底座2一侧上滑动连接有第一安装架3,所述第一安装架3上设有平板探测器4,所述底座2另一侧上固定连接有第二安装架5,所述第二安装架5上开设有凹槽6,所述凹槽6内可拆卸连接有微焦源整机7。
[0017]在本实施例中,平板探测器4用于采集图像,将平板探测器4固定在第一安装架3上,并滑动第一安装架3,调整其与第二安装架5的距离,把微焦源整机7的上盖支架侧平放入第二安装架5的凹槽6内,然后接好平板探测器4电源及网线、微焦源整机7电源、联锁线及RS232通讯线,接通平板探测器4电源及微焦源整机7电源。设定加载参数,控制微焦源整机7使其工作,然后打开采集软件进行动态图像采集,通过调整参数,使图像达到目标焦点精度。
[0018]在本实施例中,所述第二安装架5上固定连接有放置箱8,所述放置箱8内设有成像样品。微焦源整机7紧贴放置箱8,放置箱8内设有成像样品,用于测试微焦源整机7的成型情况。
[0019]在本实施例中,所述放置箱8内固定连接有JIMA卡。采用JIMA卡工具评定焦点精度,可以保证微焦源整机7的一致性。
[0020]在本实施例中,所述放置箱8上卡接有箱体盖板9。放置箱8上卡接有箱体盖板9,方便取出JIMA卡和成像样品。
[0021]需要说明,本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
[0022]另外,在本专利技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。同时,全文中出现的“和/或”的含义为,包括三个方案,以“A和/或B”为例,包括A方案,或B方案,或A和B同时满足的方案。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0023]以上部件均为通用标准件或本
人员知晓的部件,其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
[0024]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微焦源焦点测试装置,其特征在于,包括底座(2),所述底座(2)一侧上滑动连接有第一安装架(3),所述第一安装架(3)上设有平板探测器(4),所述底座(2)另一侧上固定连接有第二安装架(5),所述第二安装架(5)上开设有凹槽(6),所述凹槽(6)内可拆卸连接有微焦源整机(7)。2.根据权利要求1所述的微焦...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈奕柏赵立山
申请(专利权)人:海宁精奕电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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